31.080.01 : Semiconductor devices in general

NF EN 60749-20, C96-022-20 (11/2003)

NF EN 60749-20, C96-022-20 (11/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20 : résistance des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de soudage

€106.33

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NF EN 60191-6-13, C96-013-6-13 (12/2008)

NF EN 60191-6-13, C96-013-6-13 (12/2008)

Superseded Historical

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-13 : guide de conception pour les supports sans couvercle pour les boîtiers matriciels à billes et à pas fins et les boîtiers matriciels à zone de contact plate et à pas fins (FBGA/FLGA)

€91.00

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NF EN 60191-1, C96-013-1 (02/2013)

NF EN 60191-1, C96-013-1 (02/2013)

Superseded Historical

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 1 : règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des dispositifs discrets

€134.67

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NF EN 60749, C96-022 (12/1999)

NF EN 60749, C96-022 (12/1999)

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Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€131.50

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NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe

€41.67

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NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

€56.33

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NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6 : stockage à haute température

€41.67

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NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7 : mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

€56.33

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NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9 : permanence du marquage

€56.33

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NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12 : vibrations, fréquences variables

€41.67

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NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

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Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€67.00

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NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 15 : résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

€56.33

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NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

€56.33

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NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

€56.33

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NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

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Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€108.50

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