31.080.01 : Semiconductor devices in general

DIN EN 60749-12:2003-04

DIN EN 60749-12:2003-04

Superseded Historical

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency (IEC 60749-12:2002); German version EN 60749-12:2002.

€41.78

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DIN EN 60749-13:2003-04

DIN EN 60749-13:2003-04

Superseded Historical

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002.

€56.17

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PR NF EN IEC 63284, C96-284PR (03/2022)

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Dispositifs à semiconducteurs - méthode d'essai de fiabilité par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium

€70.00

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NF EN IEC 60749-20-1, C96-022-20-1PR (03/2026)

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Dispositifs à semi-conducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage

€106.00

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NF EN IEC 60749-30, C96-022-30 (09/2020)

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

€95.67

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NF EN IEC 60749-20, C96-022-20 (10/2020)

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20 : Résistances des CMS à boîtier plastique à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage

€126.00

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NF EN IEC 60749-15, C96-022-15 (09/2020)

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15 : resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

€77.67

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NF EN IEC 60749-10, C96-022-10 (06/2022)

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : Mechanical shock - device and subassembly

€95.67

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NF EN IEC 60749-34-1, C96-022-34-1 (08/2025)

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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 34-1 : essai de cycles en puissance pour modules de puissance à semiconducteurs

€84.50

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NF EN IEC 63364-1, C96-364-1 (01/2023)

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Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1 : méthode d’essai de détection de variation acoustique

€52.00

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NF EN 62007-1/A1, C93-801-1/A1 (10/2022)

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Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1 : Modèle de spécification relatif aux valeurs et caractéristiques essentielles

€59.33

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NF EN IEC 60747-15, C96-015 (11/2024)

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Dispositifs à semiconducteurs - Partie 15 : dispositifs discrets - Dispositifs de puissance à semiconducteurs isolés

€141.33

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NF EN IEC 60749-5, C96-022-5 (01/2024)

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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

€77.67

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NF EN IEC 60749-28, C96-022-28 (04/2022)

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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif

€128.67

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NF EN IEC 62435-9, C96-435-9 (10/2021)

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Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 9 : Special Cases

€82.00

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