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NF EN 62415, C80-201 (11/2010)
Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant
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Summary
Le présent document décrit une méthode pour des essais conventionnels d'électromigration en courant constant de lignes métalliques, de chaînes de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 11/01/2010 |
| Release Date | 11/01/2010 |
| Page Count | 15 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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