Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits - Fourth supplement
€22.00
Semiconductor devices; terminology; electrostatic-discharge-sensitive; identical with IEC 47(Central Office)1052
€34.30
Semiconductor devices; concept of power-gain compression for GaAs F.E.T.; identical with IEC 47(Central Office)1072
Semiconductor devices; recovered charge; terminology; identical with IEC 47(Central Office)1077
Semiconductor devices; terms and letter symbols for GaAs F.E.T. used in microwave applications; identical with IEC 47(Central Office)1043
Dispositifs hyperfréquences - Circulateurs - Isolateurs
€153.00
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Dispositifs discrets à semiconducteurs - Spécification générique
€198.33
Dispositifs hyperfréquences - Procédures d'agrément de savoir-faire pour les dispositifs hyperfréquences - Prescriptions provisoires
€111.67
Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999)
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Fourteenth supplement
€286.00
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section One: Blank detail specification for single-gate field-effect transistors up to 5 W and 1 GHz
€127.00
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Transistors bipolaires à température ambiante spécifiée pour amplification en basse et haute fréquences - Spécification particulière cadre (changement de statut de NF C 86-612, juin 1976, ENR.).
€34.00
Additif 1 à la norme NF C 86-812 de juin 1981
Additif 2 à la norme NF C 86-712 de juin 1981
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes, excluding temperature-compensated precision reference diodes
€165.00
