Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Power detectors
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Draft BS IEC 63551-1 Semiconductor devices. Chip-scale testing for autonomous vehicles Part 1: Combined LD-PD LiDAR
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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29 : Essai de verrouillage
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Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs – partie 2-2: modèles de simulation thermique en 3D des boîtiers de semiconducteurs pour l’analyse en régime établi – boîtiers pbga et fbga
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Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs – Partie 4: Spécifications de la carte d’évaluation thermique pour les boîtiers de semiconducteurs à pas fin
€61.00
Thermal standardization on semiconductor packages resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction measurement points
Semiconductor devices - Micro-electromechanical Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
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Semiconductor devices ? Mechanical and climatic test methods Part 20-1: Handling, packing, labelling shipping of surface-mount sensitive to the combined effect moisture soldering heat
Dispositifs à semi-conducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage
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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)
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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 22-1 : Robustesse des contacts soudés - Méthodes d’essais d’arrachement par traction des contacts soudés par fil
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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 22-2 : Robustesse des contacts soudés - Méthodes d’essais de cisaillement des contacts soudés par fil
€97.00
Guidelines for representing switching losses of SIC MOSFETs in datasheets
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
€374.00
BS EN IEC 62047-58 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems Part 58: Test methods for performances of MEMS thermopile
