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DIN EN 60749-6:2017-11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2017); Deutsche Fassung EN 60749-6:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-6 (2003-04) noch bis 2020-04-07.
Notes
DIN EN 60749-6 (2003-04) remains valid alongside this standard until 2020-04-07.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 11/01/2017 |
| Page Count | 9 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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