Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-6:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2002); Deutsche Fassung EN 60749-6:2003 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2005-07-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-6 (2017-11), bis 2020-04-07 beachten.
Notes
Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-6 (2017-11), exists until 2020-04-07.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 04/01/2003 |
| Cancellation Date | 11/01/2017 |
| Page Count | 7 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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