DIN EN 60749-30:2011-12
Superseded Standard
Historical

DIN EN 60749-30:2011-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011); German version EN 60749-30:2005 + A1:2011.

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2005 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60749-30:2005 + A1:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-30 (2005-06) noch bis 2014-06-29.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN IEC 60749-30 (2023-02), bis 2023-09-21 beachten.

Notes

DIN EN 60749-30 (2005-06) remains valid alongside this standard until 2014-06-29.*A transition period, as set out in DIN EN IEC 60749-30 (2023-02), exists until 2023-09-21.

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 12/01/2011
Page Count 14
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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