Superseded
Draft standard
Historical
DIN EN 60749-3:2017-05
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 47/2345/FDIS:2016); German version FprEN 60749-3:2016
Preview
Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 47/2345/FDIS:2016); Deutsche Fassung FprEN 60749-3:2016
Notes
Prévu pour remplacer DIN EN 60749-3 (2003-04).
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 05/01/2017 |
| Cancellation Date | 01/01/2018 |
| Page Count | 19 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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