Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-3:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2002); Deutsche Fassung EN 60749-3:2002 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2005-07-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-3 (2018-01), bis 2020-04-07 beachten.
Notes
Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-3 (2018-01), exists until 2020-04-07.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 04/01/2003 |
| Cancellation Date | 01/01/2018 |
| Page Count | 5 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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