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DIN EN 60749-23:2011-07
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-23 (2004-10) noch bis 2014-03-03.
Notes
DIN EN 60749-23 (2004-10) remains valid alongside this standard until 2014-03-03.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 07/01/2011 |
| Page Count | 11 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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