Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-23:2004-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004.
Preview
Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004 / Achtung: Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-23 (2011-07), bis 2014-03-03 beachten.
Notes
A transition period, as set out in DIN EN 60749-23 (2011-07), exists until 2014-03-03.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 10/01/2004 |
| Cancellation Date | 06/01/2013 |
| Page Count | 11 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
No products.
Previous versions
No products.