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PR NF EN IEC 60749-29 (04/2026)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29 : Essai de verrouillage
Summary
L’objectif et le domaine d’application du présent document consistent à établir les méthodes d’essai qui reproduisent les défaillances de verrouillage lors du fonctionnement du dispositif tout en fournissant des résultats d’essai de verrouillage fiables et reproductibles d’un testeur à l’autre, quel que soit le type de dispositif. La présente partie de l’IEC 60749-29 établit une procédure pour les essais, l’évaluation et la classification des dispositifs et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation à la suite de leur exposition à une contrainte de verrouillage définie. Le document donne également des lignes directrices permettant à l’utilisateur d’appliquer un avis d’ingénierie lorsque les méthodes d’essai habituellement utilisées ne sont pas compatibles avec la fonctionnalité du circuit intégré.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 04/01/2026 |
| Release Date | 04/01/2026 |
| Page Count | 95 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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