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PR NF EN IEC 60749-29 (04/2026)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 29 : Essai de verrouillage

Summary

L’objectif et le domaine d’application du présent document consistent à établir les méthodes d’essai qui reproduisent les défaillances de verrouillage lors du fonctionnement du dispositif tout en fournissant des résultats d’essai de verrouillage fiables et reproductibles d’un testeur à l’autre, quel que soit le type de dispositif. La présente partie de l’IEC 60749-29 établit une procédure pour les essais, l’évaluation et la classification des dispositifs et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation à la suite de leur exposition à une contrainte de verrouillage définie. Le document donne également des lignes directrices permettant à l’utilisateur d’appliquer un avis d’ingénierie lorsque les méthodes d’essai habituellement utilisées ne sont pas compatibles avec la fonctionnalité du circuit intégré.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 04/01/2026
Release Date 04/01/2026
Page Count 95
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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