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NF EN IEC 60749-23 (02/2026)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température
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Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 02/01/2026 |
| Release Date | 02/01/2026 |
| Page Count | 12 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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01/07/2004
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