NF ISO 11095, X06-500 (05/1996)

La présente Norme internationale a pour objet: a) d'exposer les grandes lignes des principes généraux d'étalonnage d'un système de mesurage et de maintien de ce système de mesurage («étalonné» en état de maîtrise statistique; b) de fournir une méthode de basepour estimer une fonction d'étalonnage linéaire selon l'une des deux hypothèses relatives à la variabilité des mesurages, pour contrôler l'hypothèse de linéarité de la fonction d'étalonnage et les hypothèses touchant la variabilité des mesurages, et pour estimer la valeur d'une nouvelle grandeur inconnue en modifiant les valeurs mesurées obtenues sur cette grandeur par la fonction d'étalonnage; c) de fournir une méthode de contrôle pour un usage élargi d'une fonction d'étalonnage pour déceler si la fonction d'étalonnage a besoin d'être mise à jour 1007, et pour évaluer l'incertitude des valeurs mesurées après modification par la fonction d'étalonnage; d) de fournir deux variantes de la méthode de base, dans des conditions particulières; e) d'illustrer par un exemple la méthode de base et la méthode de contrôle.La présente Norme internationale s'applique aux systèmes de mesuragepour lesquels on dispose de matériaux de référence. La présenteNorme internationale s'applique aux systèmes de mesurage ayant une fonctiond'étalonnage supposée linéaire. Elle propose une méthoded'examen de l'hypothèse de linéarité. Si l'on sait que lafonction d'étalonnage est non linéaire, la présente Normeinternationale ne s'applique pas sauf en utilisant la «technique de l'encadrement»décrite en 8.3. La présente Norme internationale ne fait pas dedistinction entre les divers types de MR et considère que les valeurs acceptéesdes MR choisis pour l'étalonnage du système de mesurage sont justes.