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NF EN 62374-1, C96-017-1 (06/2011)
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1 : essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques
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Summary
Le présent document décrit une méthode d'essai de la rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille des dispositifs à semiconducteurs et une méthode d'estimation de la durée de vie de produit en présence d'une défaillance de type TDDB.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 06/01/2011 |
| Release Date | 06/01/2011 |
| Page Count | 25 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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