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Standard
Historical
NF EN 60749-43, C96-022-43 (09/2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43 : guidelines for IC reliability qualification plans - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43 : Directives concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI
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Summary
Le présent document fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des produits de circuits intégrés (CI) à semiconducteurs. Le présent document n'est pas destiné aux applications militaires et spatiales.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 09/01/2017 |
| Release Date | 09/01/2017 |
| Cancellation Date | 10/01/2024 |
| Page Count | 44 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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