Superseded Draft standard
Historical

DIN IEC 60749-24:2002-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST (IEC 47/1646/CD:2002)

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Hochbeschleunigende Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 47/1646/CD:2002)

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 11/01/2002
Cancellation Date 09/01/2004
Page Count 0
EAN ---
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Weight (in grams) ---
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