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DIN EN 62951-1:2015-06

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47/2224/CD:2015)

Summary

Halbleiterbauelemente - Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente - Teil 1: Biegeprüfverfahren für elektrisch leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 47/2224/CD:2015)

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 06/01/2015
Cancellation Date 11/01/2017
Page Count 22
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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