DIN EN 62373:2007-01
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DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006

Summary

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 01/01/2007
Page Count 14
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ISBN ---
Weight (in grams) ---
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