DIN EN 60749-9:2003-04
Superseded Standard
Historical

DIN EN 60749-9:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002.
Most recent standard

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2005-07-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-9 (2017-11), bis 2020-04-07 beachten.

Notes

Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-9 (2017-11), exists until 2020-04-07.

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/2003
Cancellation Date 11/01/2017
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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