Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-5:2003-09
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2006-03-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-5 (2018-01), bis 2020-05-15 beachten.
Notes
Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2006-03-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-5 (2018-01), exists until 2020-05-15.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 09/01/2003 |
| Cancellation Date | 01/01/2018 |
| Page Count | 10 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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