Superseded
Draft standard
Historical
DIN EN 60749-44:2014-08
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 47/2193/CD:2014)
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen (IEC 47/2193/CD:2014)
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 08/01/2014 |
| Cancellation Date | 04/01/2017 |
| Page Count | 33 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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