DIN EN 60749-41:2017-04
Superseded Draft standard
Historical

DIN EN 60749-41:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 47/2325/CD:2016)

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente (IEC 47/2325/CD:2016)

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/2017
Page Count 35
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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