Superseded
Draft standard
Historical
DIN EN 60749-4:2016-06
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Preview
Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)
Notes
Prévu pour remplacer DIN EN 60749-4 (2003-04).
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 06/01/2016 |
| Cancellation Date | 11/01/2017 |
| Page Count | 16 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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