DIN EN 60749-29:2012-01
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DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011.

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-29 (2004-07) noch bis 2014-05-12.

Notes

DIN EN 60749-29 (2004-07) remains valid alongside this standard until 2014-05-12.

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 01/01/2012
Page Count 27
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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