DIN EN 60749-28:2012-07
Superseded Draft standard
Historical

DIN EN 60749-28:2012-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM) (IEC 47/2123/CD:2012)

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM) (IEC 47/2123/CD:2012)

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 07/01/2012
Cancellation Date 02/01/2018
Page Count 46
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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