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Historical
DIN EN 60749-27:2007-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006); German version EN 60749-27:2006.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) (IEC 60749-27:2006); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006 / Achtung: Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-27 (2013-04), bis 2015-10-30 beachten.
Notes
A transition period, as set out in DIN EN 60749-27 (2013-04), exists until 2015-10-30.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 01/01/2007 |
| Cancellation Date | 04/01/2013 |
| Page Count | 0 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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01/10/2011
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