Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-10:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002.
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Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2005-07-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN IEC 60749-10 (2023-12), bis 2025-06-01 beachten.
Notes
Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.*A transition period, as set out in DIN EN IEC 60749-10 (2023-12), exists until 2025-06-01.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 04/01/2003 |
| Page Count | 7 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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