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JEDEC JESD82-6A.01
DEFINITION OF THE SSTV32852 2.5 V 24-BIT TO 48-BIT SSTL_2 REGISTERED BUFFER FOR 1U STACKED DDR DIMM APPLICATIONS
24/2/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-6A.01
DEFINITION OF THE SSTV32852 2.5 V 24-BIT TO 48-BIT SSTL_2 REGISTERED BUFFER FOR 1U STACKED DDR DIMM APPLICATIONS
24/2/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP130C:2023
Guidelines for Packing and Labeling of Integrated Circuits in Unit Container Packing (Tubes, Trays, and Tape and Reel)
1/2/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP130C:2023
Guidelines for Packing and Labeling of Integrated Circuits in Unit Container Packing (Tubes, Trays, and Tape and Reel)
1/2/2023 - PDF sécurisé - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP194:2023
Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs
1/2/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP194:2023
Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs
1/2/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP195:2023
Guideline for Evaluating Gate Switching Instability of Silicon Carbide Metal-Oxide-Semiconductor Devices for Power Electronic Conversion
1/2/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP195:2023
Guideline for Evaluating Gate Switching Instability of Silicon Carbide Metal-Oxide-Semiconductor Devices for Power Electronic Conversion
1/2/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-512 Rev. 1.00:2023
DDR5 Registering Clock Driver Definition (DDR5RCD02)
1/2/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-512 Rev. 1.00:2023
DDR5 Registering Clock Driver Definition (DDR5RCD02)
1/2/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
5/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
5/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC /ESDA JTR002-01-22:2023
Charged Device Model Testing of Integrated Circuits
1/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
1/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-17.01:2023
DEFINITION OF THE SSTUA32S868 AND SSTUA32D868 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR 2R X 4 DDR2 RDIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-17.01:2023
DEFINITION OF THE SSTUA32S868 AND SSTUA32D868 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR 2R X 4 DDR2 RDIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-7A.01:2023
DEFINITION OF THE SSTU32864 1.8-V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD 82-22.01:2023
INSTRUMENTATION CHIP DATA SHEET FOR FBDIMM DIAGNOSTIC SENSELINES
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-3B.01:2023
DEFINITION OF THE SSTV16857 2.5 V, 14-BIT SSTL_2 REGISTERED BUFFER FOR DDR DIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-3B.01:2023
DEFINITION OF THE SSTV16857 2.5 V, 14-BIT SSTL_2 REGISTERED BUFFER FOR DDR DIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-24.01:2023
DEFINITION OF the SSTUB32865 28-bit 1:2 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-24.01:2023
DEFINITION OF the SSTUB32865 28-bit 1:2 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
1/1/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD 82-25.01:2022
DEFINITION OF the SSTUB32866 1.8 V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
30/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD 82-25.01:2022
DEFINITION OF the SSTUB32866 1.8 V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
30/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-31A.01:2022
DDR4 Registering Clock Driver Definition (DDR4RCD02)
28/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-31A.01:2022
DDR4 Registering Clock Driver Definition (DDR4RCD02)
28/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD47L:2022
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
1/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
1/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
1/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
1/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP192:2022
Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
1/12/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD312:2022
Automotive Solid State Drive (SSD) Device Standard
1/12/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD217A:2022
Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
1/11/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
1/11/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
1/11/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
1/11/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD625C:2022
REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
1/10/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
1/10/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
1/10/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
1/10/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD301-1A.01:2022
PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
1/10/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD301-1A.01:2022
PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
1/10/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
1/10/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
1/10/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
1/10/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
1/10/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-29A.01:2022
DEFINITION OF THE SSTE32882 REGISTERING CLOCK DRIVER WITH PARITY AND QUAD CHIP SELECTS FOR DDR3/DDR3L/DDR3U RDIMM 1.5 V/1.35 V/1.25 V APPLICATIONS
1/9/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD82-29A.01:2022
DEFINITION OF THE SSTE32882 REGISTERING CLOCK DRIVER WITH PARITY AND QUAD CHIP SELECTS FOR DDR3/DDR3L/DDR3U RDIMM 1.5 V/1.35 V/1.25 V APPLICATIONS
1/9/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
1/6/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
1/6/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
1/3/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
1/3/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
1/3/2022 - Paper and PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
1/3/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
1/3/2022 - Paper and PDF - Inglés - JEDEC
Más información133,00 € -
JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
1/3/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
1/1/2022 - Papel - Inglés - JEDEC
Más información94,00 € -
JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
1/1/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
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391,00 €
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JEDEC JESD22-B118A:2021
SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
1/11/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
58,24 €
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JEDEC JESD85A:2021
METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
1/7/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información74,00 € -
55,12 €
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58,24 €
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JEDEC JESD89-2B:2021
Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
1/7/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,24 € -
350,00 €
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JEDEC JESD22-A110E.01:2021
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
1/5/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información62,00 € -
55,12 €
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JEDEC JESD260:2021
Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
1/4/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
57,00 €
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JEDEC JEP178:2021
Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
1/4/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
64,00 €
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244,00 €
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113,00 €
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264,00 €
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JEDEC JESD209-4-1A:2021
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
1/2/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información113,00 € -
55,12 €
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64,00 €
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63,00 €
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JEDEC JESD22-A100E:2020
Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
1/11/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información55,00 € -
JEDEC JEP167A:2020
Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
1/11/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
204,00 €
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JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
1/4/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
JEDEC JESD251A:2020
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información124,00 € -
JEDEC JESD300-5:2020
SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información204,00 € -
JEDEC JEP180:2020
Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
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JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
1/1/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
1/9/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
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ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
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EIA JESD 84-B51:2019
Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
1/1/2019 - PDF sécurisé - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD84-B51A:2019
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP143D:2019
SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
1/11/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
1/10/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
1/8/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
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97,00 €
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JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
1/7/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
2/4/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD72A:2018
TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD88F:2018
JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
1/2/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD 251:2018
EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
8/1/2018 - PDF sécurisé - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD 223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
1/1/2018 - PDF sécurisé - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD50C:2018
SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
1/1/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
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JEDEC JESD223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
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