JEDEC
-
491,00 € -
JEDEC JESD46D
CUSTOMER NOTIFICATION OF PRODUCT/PROCESS CHANGES BY ELECTRONIC PRODUCT SUPPLIERS
12/4/2023 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
395,00 €
-
223,00 €
-
60,00 €
-
79,00 €
-
JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
1/3/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
1/3/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
JEDEC JESD305:2022
DDR5 Load Reduced (LRDIMM) and Registered Dual Inline Memory Module (RDIMM) Common Specification
1/1/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información93,00 € -
JEDEC JESD22-A120C:2022
Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used in Electronic Devices
1/1/2022 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD315:2021
Backup Energy Module Standard for NVDIMM Memory Devices (BEM)
1/12/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
223,00 €
-
JEDEC JEP187:2021
Guidelines for Representing Switching Losses of SIC Mosfets in Datasheets
1/12/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información63,00 € -
JEDEC JEP186:2021
Guideline to Specify a Transient Off-State Withstand Voltage Robustness Indicator in Datasheets for Lateral GaN Power Conversion Devices, Version 1.0
1/12/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información57,00 € -
97,00 €
-
304,00 €
-
JEDEC JESD22-B118A:2021
SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
1/11/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
58,24 €
-
55,12 €
-
JEDEC JESD85A:2021
METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
1/7/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información74,00 € -
58,24 €
-
JEDEC JESD89-2B:2021
Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
1/7/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,24 € -
350,00 €
-
JEDEC JESD22-A110E.01:2021
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
1/5/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información62,00 € -
55,12 €
-
JEDEC JESD260:2021
Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
1/4/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
57,00 €
-
JEDEC JEP178:2021
Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
1/4/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
64,00 €
-
244,00 €
-
JEDEC JESD209-4-1A:2021
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
1/2/2021 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información113,00 € -
264,00 €
-
113,00 €
-
55,12 €
-
64,00 €
-
JEDEC JEP167A:2020
Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
1/11/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
JEDEC JESD22-A100E:2020
Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
1/11/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información55,00 € -
204,00 €
-
JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
1/4/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
JEDEC JESD251A:2020
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información124,00 € -
JEDEC JESD300-5:2020
SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información204,00 € -
JEDEC JEP180:2020
Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
1/2/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
54,33 €
-
57,00 €
-
57,00 €
-
395,00 €
-
60,00 €
-
JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
1/1/2020 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
1/9/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información204,00 € -
244,00 €
-
58,00 €
-
72,00 €
-
72,00 €
-
64,00 €
-
204,00 €
-
JEDEC JESD84-B51A:2019
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información335,18 € -
ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información186,76 € -
JEDEC JEP143D:2019
SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
1/1/2019 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
77,00 €
-
JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
1/11/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
57,00 €
-
JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
1/10/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/9/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
1/8/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
77,00 €
-
97,00 €
-
JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
1/7/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
1/3/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
86,00 €
-
51,00 €
-
JEDEC JESD88F:2018
JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
1/2/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información173,00 € -
66,00 €
-
66,00 €
-
JEDEC JESD50C:2018
SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
1/1/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
1/1/2018 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información151,00 € -
JEDEC JESD69C:2017
INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
1/11/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JESD16B:2017
ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
1/11/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
JEDEC JESD30H:2017
Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
1/8/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información124,00 € -
JEDEC JESD37A:2017
Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
1/8/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
JEDEC JESD214.01:2017
CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
1/8/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
326,00 €
-
60,00 €
-
304,00 €
-
79,00 €
-
60,00 €
-
JEDEC JESD213A:2017
STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
1/4/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD210A:2017
AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
1/3/2017 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información86,00 € -
58,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD31E:2016
GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
1/11/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
83,00 €
-
JEDEC JESD22-B111A:2016
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
1/11/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
JEDEC JESD22-B106E:2016
RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
1/11/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JEP122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
1/9/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información174,00 € -
60,00 €
-
223,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD218B.01:2016
SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
1/6/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
72,00 €
-
64,00 €
-
JEDEC J-STD-609B:2016
MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
1/4/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
JEDEC JESD220-1A:2016
Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
1/3/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información97,00 € -
JEDEC JESD223-1A:2016
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
1/3/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
JEDEC JESD243:2016
COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
1/3/2016 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información60,00 € -
JEDEC JESD241:2015
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
1/12/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
JEDEC JESD94B:2015 (R2021)
APPLICATION SPECIFIC QUALIFICATION USING KNOWLEDGE BASED TEST METHODOLOGY
1/10/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información86,00 € -
57,00 €
-
55,00 €
-
224,00 €
-
JEDEC JEP172A:2015
DISCONTINUING USE OF THE MACHINE MODEL FOR DEVICE ESD QUALIFICATION
1/7/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
57,00 €
-
JEDEC JESD22-A102E:2015 (R2021)
ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVE
1/7/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información57,00 € -
JEDEC JESD22-A110E:2015
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
1/7/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JEP159A:2015
PROCEDURE FOR THE EVQLUQTION OF LOW-k/METAL INTER/INTRA-LEVEL DIELECTRIC INTEGRITY
1/7/2015 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
55,00 €
-
79,00 €
-
55,00 €
-
124,00 €
-
60,00 €
-
66,00 €
-
83,00 €
-
JEDEC JEP153A:2014 (R2019)
CHARACTERIZATION AND MONITORING OF THERMAL STRESS TEST OVEN TEMPURATURES
1/3/2014 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD237:2014
Reliability Qualification of Power Amplifier Modules
1/3/2014 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
JEDEC JP001A:2014
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
1/2/2014 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información93,00 € -
81,00 €
-
JEDEC JEP148B:2014
RELIABILITY QUALIFICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES BASED ON PHYSICS OF FAILURE RISK AND OPPORTUNITY ASSESSMENT
1/1/2014 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
124,00 €
-
JEDEC JESD234:2013
Test Standard for the Measurement of Proton Radiation Single Event Effects in Electronic Devices
1/10/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
77,00 €
-
JEDEC JEP70C:2013
Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
1/10/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información113,00 € -
JEDEC JESD84-B50:2013
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard 5.0
1/9/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información326,00 € -
326,00 €
-
JEDEC JEP150.01:2013
STRESS-TEST-DRIVEN QUALIFICATION OF AND FAILURE MECHANISMS ASSOCIATED WITH ASSEMBLED SOLID STATE SURFACE-MOUNT COMPONENTS
1/6/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
51,00 €
-
64,00 €
-
JEDEC JESD79-3-1A:2013
Addendum No. 1 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
1/1/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
JEDEC JEP170:2013
Guidelines for Visual Inspection and Control of Flip Chip Type Components (FCxGA)
1/1/2013 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información63,00 € -
JEDEC JESD99C:2012
Terms, Definitions, and Letter Symbols for Microelectronic Devices
1/12/2012 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información174,00 € -
JEDEC JESD211.01:2012
ZENER AND VOLTAGE REGULATOR DIODE RATING VERIFICATION AND CHARACTERIZATION TESTING
1/11/2012 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información74,00 € -
JEDEC JESD51-12.01:2012
GUIDELINES FOR REPORTING AND USING ELECTRONIC PACKAGE THERMAL INFORMATION
1/11/2012 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información77,00 € -
JEDEC JESD77D:2012
Terms, Definitions, and Letter Symbols for Discrete Semiconductor and Optoelectronic Devices
1/8/2012 - PDF sécurisé - Inglés - JEDEC
Más información244,00 € -
72,00 €
-
72,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD51-53:2012
TERMS, DEFINITIONS AND UNITS GLOSSARY FOR LED THERMAL TESTING
1/5/2012 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información60,00 € -
JEDEC JEP144A:2011
GUIDELINE FOR RESIDUAL GAS ANALYSIS (RGA) FOR MICROELECTRONIC PACKAGES
1/11/2011 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información61,00 € -
JEDEC JEP160:2011
Long-Term Storage for Electronic Solid-State Wafers, Dice, and Devices
1/11/2011 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información72,00 € -
51,00 €
-
JEDEC JESD79-3-2:2011
Addendum No. 2 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
1/10/2011 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información63,00 € -
51,00 €
-
60,00 €
-
304,00 €
-
79,00 €
-
58,00 €
-
JEDEC JESD51-32:2010
THERMAL TEST BOARD STANDARDS TO ACCOMMODATE MULTI-CHIP PACKAGES
1/12/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información55,00 € -
JEDEC JESD51-14:2010
INTERFACE TEST METHOD FOR THE MEASUREMENT OF THE THERMAL RESISTANCE JUNCTION-TO-CASE OF SEMICONDUCTOR DEVICES WITH HEAT FLOW TROUGH A SINGLE PATH
1/11/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información86,00 € -
JEDEC JESD22-A115C:2010
ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING MACHINE MODEL (MM)
1/11/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JEP709:2010
A Guideline for Defining "Low-Halogen" Solid State Devices (Removal of BFR/CFR/PVC)
1/11/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JESD22-B108B:2010 (R2016)
Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices
1/9/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información57,00 € -
55,00 €
-
JEDEC JESD79-3-1:2010
Addendum No. 1 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
1/7/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información64,00 € -
JEDEC JESD 35-A:2010
PROCEDURE FOR WAFER-LEVEL-TESTING OF THIN DIELECTRICS
1/3/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información93,00 € -
JEDEC JESD84-A441:2010
EMBEDDED MULTIMEDIACARD(e*MMC) e*MMC/CARD PRODUCT STANDARD, HIGH CAPACITY, including Reliable Write, Boot, Sleep Modes, Dual Data Rate, Multiple Partitions Supports, Security Enhancement, Background Operation and High Priority Interrupt (MMCA, 4.41)
1/3/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información264,00 € -
124,00 €
-
JEDEC JEP133C:2010
GUIDE FOR THE PRODUCTION AND ACQUISITION OF RADIATION-HARDNESS ASSURED MULTICHIP MODULES AND HYBRID MICROCIRCUITS
1/1/2010 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información83,00 € -
204,00 €
-
JEDEC JEP158:2009
3D Chip Stack with Through-Silicon Vias (TSVS): Identifying, Evaluating and Understanding Reliability Interactions
1/11/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
57,00 €
-
64,00 €
-
JEDEC JESD8-23:2009
UNIFIED WIDE POWER SUPPLY VOLTAGE RANGE CMOS DC INTERFACE STANDARD FOR NON-TERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
1/10/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información55,00 € -
JEDEC JESD22-B112A:2009
PACKAGE WARPAGE MEASUREMENT OF SURFACE-MOUNT INTEGRATED CIRCUITS AT ELEVATED TEMPERATURE
1/10/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
JEDEC JESD 84-C44:2009
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) MECHANICAL STANDARD, WITH OPTIONAL RESET SIGNAL
1/7/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JESD51-13:2009
Glossary of Thermal Measurement Terms and Definitions
1/6/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JIG 101 Ed. 2.0:2009
Material Composition Declaration for Electronic Products
1/4/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información86,00 € -
JEDEC JESD 209A-1:2009
Addendum No. 1 to JESD209A - LOW POWER DOUBLE DATA RATE (LPDDR) SDRAM, 1.2 V I/O
1/3/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información57,00 € -
JEDEC JS 9703:2009
IPC/JEDEC-9703: Mechanical Shock Test Guidelines for Solder Joint Reliability
1/3/2009 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información93,00 € -
64,00 €
-
JEDEC JESD22-A114F:2008
ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING HUMAN BODY MODEL (HBM)
1/12/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información66,00 € -
55,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD201A:2008 (R2020)
Environmental Acceptance Requirements for Tin Whisker Susceptibility of Tin and Tin Alloy Surface Finished
1/9/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
66,00 €
-
JEDEC JESD51-31:2008
THERMAL TEST ENVIRONMENT MODIFICATIONS FOR MULTICHIP PACKAGES
1/7/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información63,00 € -
JEDEC JESD 22-A121A:2008 (R2019) (R2014)
MEASURING WHISKER GROWTH ON TIN AND TIN ALLOY SURFACE FINISHES
1/7/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información79,00 € -
JEDEC JESD8-18A:2008
FBDIMM SPECIFICATION: HIGH SPEED DIFFERENTIAL PTP LINK AT 1.5 V
1/3/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información113,00 € -
151,00 €
-
JEDEC JEP154:2008
GUIDELINE FOR CHARACTERIZING SOLDER BUMP ELECTROMIGRATION UNDER CONSTANT CURRENT AND TEMPERATURE STRESS
1/1/2008 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información81,00 € -
58,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD84-A43:2007
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e*MMC) e*MMC/CARD PRODUCT STANDARD, HIGH CAPACITY, INCLUDING RELIABLE WRITE, BOOT, AND SLEEP MODES (MMCA, 4.3)
1/12/2007 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información223,00 € -
151,00 €
-
72,00 €
-
93,00 €
-
JEDEC JESD8C.01
INTERFACE STANDARD FOR NOMINAL 3.0 V/3.3 V SUPPLY DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
1/9/2007 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información60,00 € -
JEDEC JESD8-5A.01
ADDENDUM No. 5 to JESD8 - 2.5 V 0.2 V (NORMAL RANGE), AND 1.8 V TO 2.7 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUIT
1/9/2007 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información58,00 € -
JEDEC JESD8-14A.01:2007
1.0 V +/- 0.1 V (NORMAL RANGE) AND 0.7 V - 1.1 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
1/9/2007 - PDF - Inglés - JEDEC
Más información57,00 €
