| Nombre | apoyo | Revisión | Disponibilidad | Fecha de emisión | Precio | ||
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PDF |
Inglés |
Vigente |
5/4/2023 |
173,00 € |
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Detalles
IEC TS 62607-6-2:2023 establishes a standardized method to determine the key control characteristic
- number of layers
for graphene flakes by a combination of
- atomic force microscopy,
- optical transmission, and
- Raman spectroscopy
Información adicional
| Autor | International Electrotechnical Commission (IEC) |
|---|---|
| Comité | TC 113 |
| Publicado por | IEC |
| Tipo de Documento | Norma |
| Edición | 1.0 |
| ICS | 07.120 : Nanotecnologías
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| Número de páginas | 24 |
| Palabra clave | IEC62607-6-2,IEC TS 62607-6-2:2023,IEC/TS 62607-6-2,TC 113 |
