29.045 : Materiales semiconductores
-
DIN 50451-4:2024-01
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
1/1/2024 - PDF - Alemán - DIN
Más información65,89 € -
23/30450091 DC:2023
BS IEC 62899-203-2 Printed electronics Materials - Semiconductor Ink- Space charge limited mobility measurement in printed organic semiconductive layers
1/12/2023 - PDF - Inglés - BSI
Más información24,00 € -
DIN 50453-1:2023-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method
1/8/2023 - PDF - Alemán - DIN
Más información45,98 € -
DIN 50453-2:2023-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method
1/8/2023 - PDF - Alemán - DIN
Más información45,98 € -
DIN 50451-8:2022-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 8: Determination of 33 elements in high-purity sulfuric acid by ICP-MS
1/8/2022 - PDF - Alemán - DIN
Más información52,90 € -
DIN 50451-5:2022-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogram
1/8/2022 - PDF - Alemán - DIN
Más información52,90 € -
22/30439670 DC:2021
BS EN IEC 60146-1-1. Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Part 1-1. Specification of basic
24/12/2021 - PDF - Inglés - BSI
Más información24,00 € -
BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length
8/9/2021 - PDF - Inglés - BSI
Más información180,00 € -
IEC 62899-503-3:2021
IEC 62899-503-3:2021 Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
24/8/2021 - PDF - Inglés - IEC
Más información92,00 € -
21/30428334 DC:2021
BS EN IEC 62899-203. Printed electronics Part 203. Materials. Semiconductor ink
23/7/2021 - PDF - Inglés - BSI
Más información24,00 € -
DIN 50450-9:2021-07
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography
1/7/2021 - PDF - Alemán - DIN
Más información39,35 € -
BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
25/9/2020 - PDF - Inglés - BSI
Más información180,00 € -
IEC 62899-503-1:2020
IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
27/5/2020 - PDF - Inglés - IEC
Más información92,00 € -
PD IEC TR 60146-1-2:2019
Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Application guide
13/11/2019 - PDF - Inglés - BSI
Más información398,00 € -
IEC TR 60146-1-2:2019
IEC TR 60146-1-2:2019 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
22/10/2019 - PDF - Inglés - IEC
Más información431,00 € -
IEC TR 60146-1-2:2019 + Redline
IEC TR 60146-1-2:2019 (Redline version) Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
22/10/2019 - PDF - Inglés - IEC
Más información561,00 € -
250,00 €
-
IEC 62899-203:2018
IEC 62899-203:2018 Printed electronics - Part 203: Materials - Semiconductor ink
28/9/2018 - PDF - Inglés - IEC
Más información173,00 € -
DIN 50451-7:2018-04
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 7: Determination of 31 elements in high-purity hydrochloric acid by ICP-MS
1/4/2018 - PDF - Alemán - DIN
Más información59,63 € -
DIN SPEC 1994:2017-02
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of anions in weak acids
1/2/2017 - PDF - Alemán - DIN
Más información42,43 € -
NF EN 62047-25, C96-050-25 (12/2016)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 : silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
1/12/2016 - Papel - Francés - AFNOR
Más información103,33 € -
ASTM F980-16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
1/12/2016 - PDF - Inglés - ASTM
Más información60,00 € -
ASTM F980-16(2024) + Redline
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
1/12/2016 - PDF - Inglés - ASTM
Más información72,00 € -
NF EN 62047-22, C96-050-22 (12/2014)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 : electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates - Dispositifs à semiconducteurs
1/12/2014 - Papel - Francés - AFNOR
Más información72,00 € -
DIN 50451-3:2014-11
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS
1/11/2014 - PDF - Alemán - DIN
Más información72,80 € -
DIN 50451-6:2014-11
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH<(Index)4>F) and in etching mixtures of high-purity ammonium fluoride solution containing hydrofluoric acid
1/11/2014 - PDF - Alemán - DIN
Más información59,63 € -
NF EN 62047-11, C96-050-11 (03/2014)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11 : test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems - Dispositifs à semiconducteurs
1/3/2014 - Papel - Francés - AFNOR
Más información103,33 € -
NF EN 62047-18, C96-050-18 (02/2014)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 : bend testing methods of thin film materials - Dispositifs à semiconducteurs
1/2/2014 - Papel - Francés - AFNOR
Más información88,33 € -
ASTM D6095-12(2023)
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
1/11/2012 - PDF - Inglés - ASTM
Más información48,00 € -
NF EN 62047-9, C96-050-9 (04/2012)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9 : wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Dispositifs à semiconducteurs
1/4/2012 - Papel - Francés - AFNOR
Más información103,33 € -
ASTM D6095-12(2023) + Redline
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
1/1/2012 - PDF - Inglés - ASTM
Más información57,00 € -
ASTM E1438-11(2019)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
1/1/2011 - PDF - Inglés - ASTM
Más información46,00 € -
ASTM E1438-11(2019) + Redline
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
1/1/2011 - PDF - Inglés - ASTM
Más información53,00 € -
BS EN 60146-1-1:2010
Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters. Specification of basic requirements
31/8/2010 - PDF - Inglés - BSI
Más información377,00 € -
GB/T 1558-2009
Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
30/10/2009 - PDF - Inglés - CODCHI
Más información165,00 € -
DIN 50455-1:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods
1/10/2009 - PDF - Alemán - DIN
Más información39,35 € -
DIN 50452-2:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters
1/10/2009 - PDF - Alemán - DIN
Más información52,90 € -
IEC 60146-1-1:2009
IEC 60146-1-1:2009 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-1: Specification of basic requirements
29/6/2009 - PDF - Inglés, Francés - IEC
Más información431,00 € -
ASTM D3004-08(2020)
Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
1/1/2008 - PDF - Inglés - ASTM
Más información46,00 € -
ASTM D3004-08(2020) + Redline
Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
1/1/2008 - PDF - Inglés - ASTM
Más información53,00 € -
DIN 50451-4:2007-02
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
1/2/2007 - PDF - Alemán - DIN
Más información59,63 € -
BS EN 62226-2-1:2005
Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range. Methods for calculating current density internal field induced human body 2D models
11/2/2005 - PDF - Inglés - BSI
Más información348,00 € -
JIS R 1650-1:2002 (R2016)
Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 1: Thermoelectric power
20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS R 1650-2:2002 (R2016)
Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 2: Resistivity
20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS R 1650-3:2002 (R2016)
Method for measurement of fine ceramics thermoelectric materials Part 3: Thermal diffusivity, specific heat capacity, and thermal conductivity
20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS R 1651:2002 (R2016)
Method for measurement of pyroelectric coefficient of fine ceramics
20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS R 1801:2002 (R2016)
Method of measuring spectral emissivity of ceramic radiating materials for infrared heaters by using FTIR
20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
DIN 50455-2:1999-11
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
1/11/1999 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
DIN 50455-2:1999-11
Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
1/11/1999 - PDF - Inglés - DIN
Más información40,56 € -
JIS H 0614:1996 (R2015)
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
1/1/1996 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
DIN 50452-1:1995-11
Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles
1/11/1995 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
DIN 50452-1:1995-11
Particle analysis of liquids for use in semiconductor technology by the microscopic particle determination
1/11/1995 - PDF - Inglés - DIN
Más información40,56 € -
JIS H 0602:1995 (R2015)
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
1/11/1995 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
DIN 50452-3:1995-10
Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters
1/10/1995 - PDF - Alemán - DIN
Más información39,35 € -
DIN 50452-3:1995-10
Particle analysis in liquids for use in semiconductor technology - Part 3: Calibration of optical particle counters
1/10/1995 - PDF - Inglés - DIN
Más información49,16 € -
JIS H 0604:1995 (R2014)
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
1/7/1995 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS H 0611:1994 (R2015)
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
1/1/1994 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
DIN 50450-4:1993-09
Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and dopant gases, determination of C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography
1/9/1993 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
DIN 50450-2:1991-03
Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and doping gases, determination of oxygen impurity in N<(Index)2>, Ar, He, Ne and H<(Index)2> by using a galvanic cell
1/3/1991 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
DIN 50450-1:1987-08
Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and doping gases, determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell
1/8/1987 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
45,98 €
-
57,57 €
-
DIN 1715-2:1983-11
Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
1/11/1983 - PDF - Alemán - DIN
Más información32,34 € -
DIN 1715-2:1983-11
Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
1/11/1983 - PDF - Inglés - DIN
Más información40,56 € -
JIS H 0603:1978 (R2014)
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
1/3/1978 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS H 0607:1978 (R2014)
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
1/3/1978 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS H 0613:1978 (R2014)
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
1/1/1978 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
JIS H 0610:1966 (R2014)
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
1/12/1966 - PDF - Japonés - JSA
Más información25,00 € -
25,00 €