29.045 : Materiales semiconductores

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  • DIN 50451-4:2024-01

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
    1/1/2024 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    65,89 €

  • 23/30450091 DC:2023

    BS IEC 62899-203-2 Printed electronics Materials - Semiconductor Ink- Space charge limited mobility measurement in printed organic semiconductive layers
    1/12/2023 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    24,00 €

  • DIN 50453-1:2023-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method
    1/8/2023 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    45,98 €

  • DIN 50453-2:2023-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method
    1/8/2023 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    45,98 €

  • DIN 50451-8:2022-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 8: Determination of 33 elements in high-purity sulfuric acid by ICP-MS
    1/8/2022 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    52,90 €

  • DIN 50451-5:2022-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogram
    1/8/2022 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    52,90 €

  • 22/30439670 DC:2021

    BS EN IEC 60146-1-1. Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Part 1-1. Specification of basic
    24/12/2021 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    24,00 €

  • BS IEC 62899-503-3:2021

    Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length
    8/9/2021 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    180,00 €

  • IEC 62899-503-3:2021

    IEC 62899-503-3:2021 Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
    24/8/2021 - PDF - Inglés - IEC
    Más información
    92,00 €

  • 21/30428334 DC:2021

    BS EN IEC 62899-203. Printed electronics Part 203. Materials. Semiconductor ink
    23/7/2021 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    24,00 €

  • DIN 50450-9:2021-07

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography
    1/7/2021 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    39,35 €

  • BS IEC 62899-503-1:2020

    Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
    25/9/2020 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    180,00 €

  • IEC 62899-503-1:2020

    IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
    27/5/2020 - PDF - Inglés - IEC
    Más información
    92,00 €

  • PD IEC TR 60146-1-2:2019

    Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Application guide
    13/11/2019 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    398,00 €

  • IEC TR 60146-1-2:2019

    IEC TR 60146-1-2:2019 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
    22/10/2019 - PDF - Inglés - IEC
    Más información
    431,00 €

  • IEC TR 60146-1-2:2019 + Redline

    IEC TR 60146-1-2:2019 (Redline version) Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
    22/10/2019 - PDF - Inglés - IEC
    Más información
    561,00 €

  • BS IEC 62899-203:2018

    Printed electronics Materials. Semiconductor ink
    10/10/2018 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    250,00 €

  • IEC 62899-203:2018

    IEC 62899-203:2018 Printed electronics - Part 203: Materials - Semiconductor ink
    28/9/2018 - PDF - Inglés - IEC
    Más información
    173,00 €

  • DIN 50451-7:2018-04

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 7: Determination of 31 elements in high-purity hydrochloric acid by ICP-MS
    1/4/2018 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    59,63 €

  • DIN SPEC 1994:2017-02

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of anions in weak acids
    1/2/2017 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    42,43 €

  • NF EN 62047-25, C96-050-25 (12/2016)

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 : silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
    1/12/2016 - Papel - Francés - AFNOR
    Más información
    103,33 €

  • ASTM F980-16(2024)

    Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
    1/12/2016 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    60,00 €

  • ASTM F980-16(2024) + Redline

    Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
    1/12/2016 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    72,00 €

  • NF EN 62047-22, C96-050-22 (12/2014)

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 : electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates - Dispositifs à semiconducteurs
    1/12/2014 - Papel - Francés - AFNOR
    Más información
    72,00 €

  • DIN 50451-3:2014-11

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS
    1/11/2014 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    72,80 €

  • DIN 50451-6:2014-11

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH<(Index)4>F) and in etching mixtures of high-purity ammonium fluoride solution containing hydrofluoric acid
    1/11/2014 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    59,63 €

  • NF EN 62047-11, C96-050-11 (03/2014)

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11 : test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems - Dispositifs à semiconducteurs
    1/3/2014 - Papel - Francés - AFNOR
    Más información
    103,33 €

  • NF EN 62047-18, C96-050-18 (02/2014)

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18 : bend testing methods of thin film materials - Dispositifs à semiconducteurs
    1/2/2014 - Papel - Francés - AFNOR
    Más información
    88,33 €

  • ASTM D6095-12(2023)

    Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
    1/11/2012 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    48,00 €

  • NF EN 62047-9, C96-050-9 (04/2012)

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9 : wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Dispositifs à semiconducteurs
    1/4/2012 - Papel - Francés - AFNOR
    Más información
    103,33 €

  • ASTM D6095-12(2023) + Redline

    Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
    1/1/2012 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    57,00 €

  • ASTM E1438-11(2019)

    Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
    1/1/2011 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    46,00 €

  • ASTM E1438-11(2019) + Redline

    Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
    1/1/2011 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    53,00 €

  • BS EN 60146-1-1:2010

    Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters. Specification of basic requirements
    31/8/2010 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    377,00 €

  • GB/T 1558-2009

    Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
    30/10/2009 - PDF - Inglés - CODCHI
    Más información
    165,00 €

  • DIN 50455-1:2009-10

    Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods
    1/10/2009 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    39,35 €

  • DIN 50452-2:2009-10

    Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2: Determination of particles by optical particle counters
    1/10/2009 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    52,90 €

  • IEC 60146-1-1:2009

    IEC 60146-1-1:2009 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-1: Specification of basic requirements
    29/6/2009 - PDF - Inglés, Francés - IEC
    Más información
    431,00 €

  • ASTM D3004-08(2020)

    Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
    1/1/2008 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    46,00 €

  • ASTM D3004-08(2020) + Redline

    Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
    1/1/2008 - PDF - Inglés - ASTM
    Más información
    53,00 €

  • DIN 50451-4:2007-02

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
    1/2/2007 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    59,63 €

  • BS EN 62226-2-1:2005

    Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range. Methods for calculating current density internal field induced human body 2D models
    11/2/2005 - PDF - Inglés - BSI
    Más información
    348,00 €

  • JIS R 1650-1:2002 (R2016)

    Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 1: Thermoelectric power
    20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS R 1650-2:2002 (R2016)

    Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 2: Resistivity
    20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS R 1650-3:2002 (R2016)

    Method for measurement of fine ceramics thermoelectric materials Part 3: Thermal diffusivity, specific heat capacity, and thermal conductivity
    20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS R 1651:2002 (R2016)

    Method for measurement of pyroelectric coefficient of fine ceramics
    20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS R 1801:2002 (R2016)

    Method of measuring spectral emissivity of ceramic radiating materials for infrared heaters by using FTIR
    20/3/2002 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • DIN 50455-2:1999-11

    Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
    1/11/1999 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 50455-2:1999-11

    Characterization of photoresists used in semiconductor technology - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
    1/11/1999 - PDF - Inglés - DIN
    Más información
    40,56 €

  • JIS H 0614:1996 (R2015)

    Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
    1/1/1996 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • DIN 50452-1:1995-11

    Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 1: Microscopic determination of particles
    1/11/1995 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 50452-1:1995-11

    Particle analysis of liquids for use in semiconductor technology by the microscopic particle determination
    1/11/1995 - PDF - Inglés - DIN
    Más información
    40,56 €

  • JIS H 0602:1995 (R2015)

    Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
    1/11/1995 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • DIN 50452-3:1995-10

    Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 3: Calibration of optical particle counters
    1/10/1995 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    39,35 €

  • DIN 50452-3:1995-10

    Particle analysis in liquids for use in semiconductor technology - Part 3: Calibration of optical particle counters
    1/10/1995 - PDF - Inglés - DIN
    Más información
    49,16 €

  • JIS H 0604:1995 (R2014)

    Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
    1/7/1995 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS H 0611:1994 (R2015)

    Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
    1/1/1994 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • DIN 50450-4:1993-09

    Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and dopant gases, determination of C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography
    1/9/1993 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 50450-2:1991-03

    Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and doping gases, determination of oxygen impurity in N<(Index)2>, Ar, He, Ne and H<(Index)2> by using a galvanic cell
    1/3/1991 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 50450-1:1987-08

    Testing of materials for semiconductor technology, determination of impurities in carrier gases and doping gases, determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell
    1/8/1987 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 1715-1:1983-11

    Thermostat metals, technical delivery conditions
    1/11/1983 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    45,98 €

  • DIN 1715-1:1983-11

    Thermostat metals, technical delivery conditions
    1/11/1983 - PDF - Inglés - DIN
    Más información
    57,57 €

  • DIN 1715-2:1983-11

    Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
    1/11/1983 - PDF - Alemán - DIN
    Más información
    32,34 €

  • DIN 1715-2:1983-11

    Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
    1/11/1983 - PDF - Inglés - DIN
    Más información
    40,56 €

  • JIS H 0603:1978 (R2014)

    Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
    1/3/1978 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS H 0607:1978 (R2014)

    Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
    1/3/1978 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS H 0613:1978 (R2014)

    Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
    1/1/1978 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS H 0610:1966 (R2014)

    Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
    1/12/1966 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

  • JIS H 0601:1962 (R2014)

    Testing methods of resistivity for germanium
    1/6/1962 - PDF - Japonés - JSA
    Más información
    25,00 €

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