EIA-364-25E:2017

EIA-364-25E:2017

TP-25E Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors

79,80 €

Información adicional

Autor Electronic Components Industry Association (ECIA)
Publicado por EIA
Tipo de Documento Norma
ICS 29.120.20 : Dispositivos de conexión
Número de páginas 13
Reemplaza EIA-364-25D (2010-11)
histórico EIA-364-25E (2017-03),EIA-364-25D (2010-11),EIA-364-25C (1998-05),EIA-364-25B (1997-04),EIA RS-364-25A (1983)
Palabra clave EIA 364,EIA 364.25E,EIA-364,364