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  • JEDEC JESD209-5C:2023

    Low Power Double Data Rate (LPDDR) 5/5X
    01.06.2023 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    491,00 €

  • JEDEC JESD46D

    CUSTOMER NOTIFICATION OF PRODUCT/PROCESS CHANGES BY ELECTRONIC PRODUCT SUPPLIERS
    12.04.2023 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD220F:2022

    Universal Flash Storage (UFS)
    01.08.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    395,00 €

  • JEDEC JEP157A:2022

    Recommended ESD-CDM Target Levels
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    223,00 €

  • JEDEC JESD22-B101D:2022

    EXTERNAL VISUAL
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    79,00 €

  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JESD305:2022

    DDR5 Load Reduced (LRDIMM) and Registered Dual Inline Memory Module (RDIMM) Common Specification
    01.01.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    93,00 €

  • JEDEC JESD22-A120C:2022

    Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used in Electronic Devices
    01.01.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD315:2021

    Backup Energy Module Standard for NVDIMM Memory Devices (BEM)
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD216F:2021

    Seriel Flash Discoverable Parameters (SFDP)
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    223,00 €

  • JEDEC JEP187:2021

    Guidelines for Representing Switching Losses of SIC Mosfets in Datasheets
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    63,00 €

  • JEDEC JEP186:2021

    Guideline to Specify a Transient Off-State Withstand Voltage Robustness Indicator in Datasheets for Lateral GaN Power Conversion Devices, Version 1.0
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    57,00 €

  • JEDEC JESD403-1A:2021

    JEDEC Module Sideband Bus (SidebandBus)
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    97,00 €

  • JEDEC JESD204C.1:2021

    Serial Interface for Data Converters
    01.12.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    304,00 €

  • JEDEC JESD22-B118A:2021

    SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
    01.11.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JESD89-3B:2021

    Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
    01.09.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD22-A103E.01:2021

    HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JESD85A:2021

    METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    74,00 €

  • JEDEC JESD89-1B:2021

    Test Method for Real-Time Soft Error Rate
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD89-2B:2021

    Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD209-4D:2021

    Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
    01.06.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    350,00 €

  • JEDEC JESD22-A110E.01:2021

    HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
    01.05.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD22-A118B.01:2021

    ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
    01.05.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JESD260:2021

    Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD252.01:2021

    Serial Flash Reset Signaling Protocol
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    57,00 €

  • JEDEC JEP178:2021

    Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD253:2021

    Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD250C:2021

    Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    244,00 €

  • JEDEC JESD209-4-1A:2021

    Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    113,00 €

  • JEDEC JESD235D:2021

    High Bandwidth Memory (HBM) DRAM (HBM1, HBM2)
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    264,00 €

  • JEDEC JESD79-4-1B:2021

    Addendum No. 1 to JESD79-4, 3D Stacked Dram
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    113,00 €

  • JEDEC JESD22-A101D.01:2021

    STEADY-STATE TEMPERATURE-HUMIDITY BIAS LIFE TEST
    01.01.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JEP167A:2020

    Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
    01.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD22-A100E:2020

    Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
    01.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,00 €

  • JEDEC JESD304-4:2020

    DDR4 NVDIMM-P Bus Protocol
    01.10.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    204,00 €

  • JEDEC JESD22-A113I:2020

    Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
    01.04.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD251A:2020

    Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    124,00 €

  • JEDEC JESD300-5:2020

    SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    204,00 €

  • JEDEC JEP180:2020

    Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    79,00 €

  • JEDEC JESD 22-A105D:2020

    Power and temperature cycling
    01.01.2020 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    54,33 €

  • JEDEC JESD246A:2020

    Customer Notification Process for Disasters
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    57,00 €

  • JEDEC JESD22-A105D:2020

    Power and temperature cycling
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    57,00 €

  • JEDEC JESD209-5A:2020

    Low Power Double Data Rate 5 (LPDDR5)
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    395,00 €

  • JEDEC JESD22-B114B:2020

    Mark Legibility
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JESD220-3:2020

    Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    81,00 €

  • JEDEC JEP162A:2019

    System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
    01.09.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    204,00 €

  • JEDEC JESD245C:2019

    Byte Addressable Energy Backed Interface
    01.09.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    244,00 €

  • JEDEC JESD22-B110B.01:2019

    Mechanical Shock - Device and Subassembly
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD51-4A:2019

    Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD8-21C:2019

    POD135 - 1.35 V Pseudo Open Drain I/O
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD8-30A:2019

    POD125 - 1.25 V Pseudo Open Drain I/O
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD82-32

    DDR4 DATA BUFFER DEFINITION (DDR4DB01)
    19.05.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    204,00 €

  • JEDEC JESD84-B51A:2019

    Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    335,18 €

  • ESDA/JEDEC JS-002:2018

    ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    186,76 €

  • JEDEC JEP143D:2019

    SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    81,00 €

  • JEDEC JEP118:2018

    GUIDELINES FOR GaAs MMIC AND FET LIFE TESTING
    01.12.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD22-A117E:2018

    ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
    01.11.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD22-B119:2018

    MECHANICAL COMPRESSIVE STATIC STRESS TEST METHODS
    01.10.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    57,00 €

  • JEDEC JESD251-1:2018

    Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
    01.10.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JEP001-3A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JEP001-2A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JEP001-1A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD22-B113B:2018

    BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JEP131C:2018

    Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JEP155B:2018 (R2024)

    RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
    01.07.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    97,00 €

  • JEDEC JESD671C:2018

    Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
    01.07.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JESD22-A111B:2018

    EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JEP156A:2018

    CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JS709C:2018

    Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD248A:2018

    DDR4 NVDIMM-N Design Standard
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    86,00 €

  • JEDEC JESD8-31:2018

    1.8 V HIGH-SPEED LVCMOS (HS_LVCMOS) INTERFACE
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    51,00 €

  • JEDEC JESD88F:2018

    JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
    01.02.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • JEDEC JESD220-2A:2018

    UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) CARD EXTENSION
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JEP176:2018

    ADAPTER TEST BOARD RELIABILITY TEST GUIDELINES
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    66,00 €

  • JEDEC JESD50C:2018

    SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD223D:2018

    Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    151,00 €

  • JEDEC JESD69C:2017

    INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
    01.11.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD16B:2017

    ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
    01.11.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD37A:2017

    Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
    01.08.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    81,00 €

  • JEDEC JESD214.01:2017

    CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
    01.08.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD224A:2017

    Universal Flash Storage (UFS) Test
    01.07.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    326,00 €

  • JEDEC JEP175:2017

    DDR4 Protocol Checks
    01.07.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JESD79-4B:2017

    DDR4 SDRAM Standard
    01.06.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    304,00 €

  • JEDEC JESD22-B116B:2017

    WIRE BOND SHEAR TEST
    01.05.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    79,00 €

  • JEDEC JESD659C:2017

    FAILURE-MECHANISM-DRIVEN RELIABILITY MONITORING
    01.04.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JESD213A:2017

    STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
    01.04.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD210A:2017

    AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
    01.03.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    86,00 €

  • JEDEC JESD8-29:2016

    0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
    01.12.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD227:2016

    EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD31E:2016

    GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    79,00 €

  • JEDEC JESD225:2016

    UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) SECURITY EXTENSION
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD22-B111A:2016

    BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD22-B106E:2016

    RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JEP122H:2016

    Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    174,00 €

  • JEDEC JESD22-B103B.01:2016

    VIBRATION, VARIABLE FREQUENCY
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JEP174:2016

    UNDERSTANDING ELECTRICAL OVERSTRESS - EOS
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    223,00 €

  • JEDEC JESD22-B115A.01:2016

    SOLDER BALL PULL
    01.07.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    72,00 €

  • JEDEC JESD218B.01:2016

    SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
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    Power Cycling
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    MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
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  • JEDEC JESD220-1A:2016

    Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
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  • JEDEC JESD223-1A:2016

    Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
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    COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
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    HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE
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    LOW TEMPERATURE STORAGE LIFE
    01.10.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Low Power Double Data Rate 3 SDRAM (LPDDR3)
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    DISCONTINUING USE OF THE MACHINE MODEL FOR DEVICE ESD QUALIFICATION
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    ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-A102E:2015 (R2021)

    ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVE
    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    57,00 €

  • JEDEC JESD22-A110E:2015

    HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP159A:2015

    PROCEDURE FOR THE EVQLUQTION OF LOW-k/METAL INTER/INTRA-LEVEL DIELECTRIC INTEGRITY
    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    79,00 €

  • JEDEC JESD22-A101D:2015

    STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST
    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    57,00 €

  • JEDEC JESD8-28:2015

    300 mV INTERFACE
    01.06.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD557C:2015

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    01.04.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    79,00 €

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    Notification Standard for Product Discontinuance
    01.11.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD229-2:2014

    WIDE I/O 2 (WideIO2)
    01.08.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-B109B:2014

    FLIP CHIP TENSILE PULL
    01.07.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    60,00 €

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    SOLDER BALL SHEAR
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    HSUL_12 LPDDR2 and LPDDR3 I/O with Optional ODT
    01.04.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.03.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    64,00 €

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    01.03.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.01.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.01.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Addendum No. 1 to 3D Stacked SDRAM
    01.12.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

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    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
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    Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Low Power Double Data Rate 2 (LPDDR2)
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    72,00 €

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    ZENER AND VOLTAGE REGULATOR DIODE RATING VERIFICATION AND CHARACTERIZATION TESTING
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    01.08.2012 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    Solid-State Drive (SSD) Endurance Workloads
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    01.07.2012 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Test Trace for 64 GB - 128 GB SSD
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    Addendum No. 2 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
    01.10.2011 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.09.2011 - PDF - Englisch - JEDEC
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    POD12-1.2 V Pseudo Open Drain Interface
    01.08.2011 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Alpha Radiation Measurement in Electronic Materials
    01.05.2011 - PDF - Englisch - JEDEC
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    MARKING PERMANENCY
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    THERMAL TEST BOARD STANDARDS TO ACCOMMODATE MULTI-CHIP PACKAGES
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    SOLID STATE DRIVE (SSD) ENDURANCE WORKLOADS
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    mehr dazu
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    Addendum No. 1 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
    01.07.2010 - PDF - Englisch - JEDEC
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    PROCEDURE FOR WAFER-LEVEL-TESTING OF THIN DIELECTRICS
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    EMBEDDED MULTIMEDIACARD(e*MMC) e*MMC/CARD PRODUCT STANDARD, HIGH CAPACITY, including Reliable Write, Boot, Sleep Modes, Dual Data Rate, Multiple Partitions Supports, Security Enhancement, Background Operation and High Priority Interrupt (MMCA, 4.41)
    01.03.2010 - PDF - Englisch - JEDEC
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    LOW POWER DOUBLE DATA RATE (LPDDR) SDRAM STANDARD
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    124,00 €

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    GUIDE FOR THE PRODUCTION AND ACQUISITION OF RADIATION-HARDNESS ASSURED MULTICHIP MODULES AND HYBRID MICROCIRCUITS
    01.01.2010 - PDF - Englisch - JEDEC
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    01.11.2009 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP158:2009

    3D Chip Stack with Through-Silicon Vias (TSVS): Identifying, Evaluating and Understanding Reliability Interactions
    01.11.2009 - PDF - Englisch - JEDEC
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    ELECTRICAL PARAMETERS ASSESSMENT
    01.10.2009 - PDF - Englisch - JEDEC
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    POD15 - 1.5 V Pseudo Open Drain I/O
    01.10.2009 - PDF - Englisch - JEDEC
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    UNIFIED WIDE POWER SUPPLY VOLTAGE RANGE CMOS DC INTERFACE STANDARD FOR NON-TERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
    01.10.2009 - PDF - Englisch - JEDEC
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    PACKAGE WARPAGE MEASUREMENT OF SURFACE-MOUNT INTEGRATED CIRCUITS AT ELEVATED TEMPERATURE
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    EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) MECHANICAL STANDARD, WITH OPTIONAL RESET SIGNAL
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    Glossary of Thermal Measurement Terms and Definitions
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    Material Composition Declaration for Electronic Products
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    Addendum No. 1 to JESD209A - LOW POWER DOUBLE DATA RATE (LPDDR) SDRAM, 1.2 V I/O
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    IPC/JEDEC-9703: Mechanical Shock Test Guidelines for Solder Joint Reliability
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    ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING HUMAN BODY MODEL (HBM)
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    THERMAL MODELING OVERVIEW
    01.10.2008 - PDF - Englisch - JEDEC
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    DELPHI COMPACT THERMAL MODEL GUIDELINE
    01.10.2008 - PDF - Englisch - JEDEC
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    Environmental Acceptance Requirements for Tin Whisker Susceptibility of Tin and Tin Alloy Surface Finished
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    TWO-RESISTOR COMPACT THERMAL MODEL GUIDELINE
    01.07.2008 - PDF - Englisch - JEDEC
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    THERMAL TEST ENVIRONMENT MODIFICATIONS FOR MULTICHIP PACKAGES
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    MEASURING WHISKER GROWTH ON TIN AND TIN ALLOY SURFACE FINISHES
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    FBDIMM SPECIFICATION: HIGH SPEED DIFFERENTIAL PTP LINK AT 1.5 V
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    DOUBLE DATA RATE (DDR) SDRAM SPECIFICATION
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    GUIDELINE FOR CHARACTERIZING SOLDER BUMP ELECTROMIGRATION UNDER CONSTANT CURRENT AND TEMPERATURE STRESS
    01.01.2008 - PDF - Englisch - JEDEC
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    EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e*MMC)MECHANICAL STANDARD
    01.12.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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    MULTIMEDIACARD (MMC) MECHANICAL STANDARD
    01.12.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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    EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e*MMC) e*MMC/CARD PRODUCT STANDARD, HIGH CAPACITY, INCLUDING RELIABLE WRITE, BOOT, AND SLEEP MODES (MMCA, 4.3)
    01.12.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD208:2007

    SPECIALITY DDR2-1066 SDRAM
    01.11.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-B102E:2007

    SOLDERABILITY
    01.10.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD61A.01:2007

    ISOTHERMAL ELECTROMIGRATION TEST PROCEDURE
    01.10.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    93,00 €

  • JEDEC JESD8C.01

    INTERFACE STANDARD FOR NOMINAL 3.0 V/3.3 V SUPPLY DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
    01.09.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • JEDEC JESD8-5A.01

    ADDENDUM No. 5 to JESD8 - 2.5 V 0.2 V (NORMAL RANGE), AND 1.8 V TO 2.7 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUIT
    01.09.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,00 €

  • JEDEC JESD8-14A.01:2007

    1.0 V +/- 0.1 V (NORMAL RANGE) AND 0.7 V - 1.1 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
    01.09.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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    57,00 €

  • JEDEC JESD 8-11A.01:2007

    ADDENDUM No. 11A.01 to JESD8 - 1.5 V +/- 0.1 V (NORMAL RANGE) AND 0.9 - 1.6 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
    01.09.2007 - PDF - Englisch - JEDEC
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    57,00 €

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