PR NF EN IEC 63287-4, C96-287-4PR (08/2025)

PR NF EN IEC 63287-4, C96-287-4PR (08/2025)

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 4 : évaluation des défaillances précoces

70,00 €

Zusätzliche Information

Autor Association Française de Normalisation (AFNOR)
Veröffentlicht von AFNOR
Document type Norm-Entwurf
ICS 31.080.01 : Halbleitervorrichtungen allgemein
Seitenzahl 27
Schlagwort PR NF EN IEC 63287-4