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  • JEDEC JEP157A:2022

    Recommended ESD-CDM Target Levels
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    Recommended ESD-CDM Target Levels
    01.04.2022 - Papier und PDF - Englisch - JEDEC
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    Recommended ESD-CDM Target Levels
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    Recommended ESD-CDM Target Levels
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    Recommended ESD-CDM Target Levels
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    Recommended ESD-CDM Target Levels
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex B
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    166,00 €

  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
    01.04.2022 - Paper - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
    01.04.2022 - Papier und PDF - Englisch - JEDEC
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    150,00 €

  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    77,00 €

  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
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  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
    01.04.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD305-R8-RCD Version 1.0:2022

    DDR5 RDIMM Standard Annex D
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  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    69,00 €

  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - Paper - Englisch - JEDEC
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    99,00 €

  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - Papier und PDF - Englisch - JEDEC
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    139,00 €

  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    93,00 €

  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD91B:2022

    Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    135,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - Paper - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    101,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - Papier und PDF - Englisch - JEDEC
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    143,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    71,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    97,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    115,00 €

  • JEDEC JESD402-1A:2022

    Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
    01.03.2022 - PDF - Englisch - JEDEC
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    135,00 €

  • JEDEC JESD22-B118A:2021

    SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
    01.11.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    71,00 €

  • JEDEC JESD89-3B:2021

    Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
    01.09.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD85A:2021

    METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    74,88 €

  • JEDEC JESD22-A103E.01:2021

    HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JESD89-1B:2021

    Test Method for Real-Time Soft Error Rate
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD89-2B:2021

    Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
    01.07.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    58,24 €

  • JEDEC JESD22-A110E.01:2021

    HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
    01.05.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD22-A118B.01:2021

    ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
    01.05.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JESD260:2021

    Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD252.01:2021

    Serial Flash Reset Signaling Protocol
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    61,00 €

  • JEDEC JEP178:2021

    Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
    01.04.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD253:2021

    Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    69,00 €

  • JEDEC JESD250C:2021

    Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    262,00 €

  • JEDEC JESD79-4-1B:2021

    Addendum No. 1 to JESD79-4, 3D Stacked Dram
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    122,00 €

  • JEDEC JESD235D:2021

    High Bandwidth Memory (HBM) DRAM (HBM1, HBM2)
    01.02.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    284,00 €

  • JEDEC JESD22-A101D.01:2021

    STEADY-STATE TEMPERATURE-HUMIDITY BIAS LIFE TEST
    01.01.2021 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    55,12 €

  • JEDEC JESD49B:2020

    PROCUREMENT STANDARD FOR KNOWN GOOD DIE (KGD)
    30.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    69,00 €

  • JEDEC JESD22-A104F:2020

    Temperature cycling
    01.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    68,00 €

  • JEDEC JESD22-A100E:2020

    Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
    01.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    59,00 €

  • JEDEC JEP167A:2020

    Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
    01.11.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD304-4:2020

    DDR4 NVDIMM-P Bus Protocol
    01.10.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    220,00 €

  • JEDEC JESD22-A113I:2020

    Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
    01.04.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    90,00 €

  • JEDEC JESD251A:2020

    Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    133,00 €

  • JEDEC JESD300-5:2020

    SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    220,00 €

  • JEDEC JEP180:2020

    Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
    01.02.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    85,00 €

  • JEDEC JESD 22-A105D:2020

    Power and temperature cycling
    01.01.2020 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    54,33 €

  • JEDEC JESD22-A105D:2020

    Power and temperature cycling
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    61,00 €

  • JEDEC JESD246A:2020

    Customer Notification Process for Disasters
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    61,00 €

  • JEDEC JESD209-5A:2020

    Low Power Double Data Rate 5 (LPDDR5)
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    424,00 €

  • JEDEC JESD22-B114B:2020

    Mark Legibility
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD209-4C

    Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    376,00 €

  • JEDEC JESD220-3:2020

    Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    87,00 €

  • JEDEC JESD220E:2020

    Universal Flash Storage (UFS)
    01.01.2020 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    408,00 €

  • JEDEC JEP162A:2019

    System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
    01.09.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    220,00 €

  • JEDEC JESD245C:2019

    Byte Addressable Energy Backed Interface
    01.09.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    262,00 €

  • JEDEC JESD230D:2019

    NAND Flash Interface Interopability
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    133,00 €

  • JEDEC JESD22-B110B.01:2019

    Mechanical Shock - Device and Subassembly
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD51-4A:2019

    Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD8-21C:2019

    POD135 - 1.35 V Pseudo Open Drain I/O
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD8-30A:2019

    POD125 - 1.25 V Pseudo Open Drain I/O
    01.06.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    69,00 €

  • JEDEC JESD82-32

    DDR4 DATA BUFFER DEFINITION (DDR4DB01)
    19.05.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    220,00 €

  • ESDA/JEDEC JS-002:2018

    ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    186,76 €

  • EIA JESD 84-B51:2019

    Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
    01.01.2019 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    300,84 €

  • JEDEC JESD84-B51A:2019

    Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    335,18 €

  • JEDEC JEP143D:2019

    SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
    01.01.2019 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    87,00 €

  • JEDEC JEP118:2018

    GUIDELINES FOR GaAs MMIC AND FET LIFE TESTING
    01.12.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JESD22-A117E:2018

    ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
    01.11.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD22-B119:2018

    MECHANICAL COMPRESSIVE STATIC STRESS TEST METHODS
    01.10.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    61,00 €

  • JEDEC JESD251-1:2018

    Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
    01.10.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    71,00 €

  • JEDEC JEP001-3A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JEP001-2A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    90,00 €

  • JEDEC JEP001-1A:2018

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.09.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JESD47K:2018

    Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    87,00 €

  • JEDEC JESD22-B113B:2018

    BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JEP131C:2018

    Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    83,00 €

  • JEDEC JEP132A:2018

    PROCESS CHARACTERIZATION GUIDELINE
    01.08.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    90,00 €

  • JEDEC JEP155B:2018

    RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
    01.07.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    105,00 €

  • JEDEC JESD671C:2018

    Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
    01.07.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    71,00 €

  • JEDEC J-STD-033D:2018

    Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
    01.04.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    102,00 €

  • JEDEC J-STD-033D:2018

    Handling, Packing, Shipping and Use of Moisture, Reflow, and Process Sensitive Devices
    01.04.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    91,00 €

  • JEDEC JESD22-A111B:2018

    EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    71,00 €

  • JEDEC JESD72A:2018

    TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    85,00 €

  • JEDEC JEP156A:2018

    CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JS709C:2018

    Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    69,00 €

  • JEDEC JESD248A:2018

    DDR4 NVDIMM-N Design Standard
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    92,00 €

  • JEDEC JESD8-31:2018

    1.8 V HIGH-SPEED LVCMOS (HS_LVCMOS) INTERFACE
    01.03.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    55,00 €

  • JEDEC JESD22-B105E:2017

    Lead Integrity
    01.02.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    71,00 €

  • JEDEC JESD88F:2018

    JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
    01.02.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    173,00 €

  • JEDEC JESD 251:2018

    EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
    08.01.2018 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD 220D:2018

    Universal Flash Storage (UFS) Version 3.0
    01.01.2018 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    390,50 €

  • JEDEC JESD 223D:2018

    Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
    01.01.2018 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    155,10 €

  • JEDEC JESD220-2A:2018

    UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) CARD EXTENSION
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    71,00 €

  • JEDEC JEP176:2018

    ADAPTER TEST BOARD RELIABILITY TEST GUIDELINES
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    71,00 €

  • JEDEC JESD50C:2018

    SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    69,00 €

  • JEDEC JESD223D:2018

    Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
    01.01.2018 - PDF - Englisch - JEDEC
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    162,00 €

  • JEDEC JESD 204C:2017

    Serial Interface for Data Converters
    01.12.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD69C:2017

    INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
    01.11.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    62,00 €

  • JEDEC JESD16B:2017

    ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
    01.11.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    90,00 €

  • JEDEC JESD 245B.01:2017

    Byte Addressable Energy Backed Interface
    01.09.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    210,10 €

  • JEDEC JESD 30H:2017

    Descriptive Designation System for Electronic-device Packages
    01.08.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    127,60 €

  • JEDEC JESD30H:2017

    Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
    01.08.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    133,00 €

  • JEDEC JESD37A:2017

    Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
    01.08.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    87,00 €

  • JEDEC JESD214.01:2017

    CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
    01.08.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    83,00 €

  • JEDEC JESD22-A108F:2017

    TEMPERATURE, BIAS, AND OPERATING LIFE
    01.07.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD 224A:2017

    Universal Flash Storage (UFS) Test
    01.07.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    335,50 €

  • JEDEC JESD224A:2017

    Universal Flash Storage (UFS) Test
    01.07.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    351,00 €

  • JEDEC JEP175:2017

    DDR4 Protocol Checks
    01.07.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC J-STD-036-C-2[E]:2017

    Enhanced Wireless 9-1-1 Phase II
    19.06.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    258,50 €

  • JEDEC JESD 79-4B:2017

    DDR4 SDRAM
    01.06.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    312,40 €

  • JEDEC JESD79-4B:2017

    DDR4 SDRAM Standard
    01.06.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    327,00 €

  • JEDEC JS-001-2017

    ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Human Body Modal (HBM) - Component Level
    12.05.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    105,00 €

  • JEDEC JESD22-B116B:2017

    WIRE BOND SHEAR TEST
    01.05.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    85,00 €

  • JEDEC JESD 9C:2017

    Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
    01.05.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    155,10 €

  • JEDEC JESD9C:2017

    Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
    01.05.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    162,00 €

  • JEDEC JESD659C:2017

    FAILURE-MECHANISM-DRIVEN RELIABILITY MONITORING
    01.04.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JESD213A:2017

    STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
    01.04.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
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    69,00 €

  • JEDEC JESD210A:2017

    AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
    01.03.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • JEDEC JESD 209-4B:2017

    Low Power Double Date Rate 4 (LPDDR4)
    01.02.2017 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    335,50 €

  • JEDEC JESD209-4-1:2017

    Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
    01.01.2017 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • JEDEC JESD8-29:2016

    0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
    01.12.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD 82-32:2016

    DDR4 Data Buffer Defintion (DDR4DB01)
    01.11.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD227:2016

    EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    77,00 €

  • JEDEC JESD31E:2016

    GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    85,00 €

  • JEDEC JESD225:2016

    UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) SECURITY EXTENSION
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    90,00 €

  • JEDEC JESD22-A106B.01:2016

    THERMAL SHOCK
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    59,00 €

  • JEDEC JESD22-B111A:2016

    BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    77,00 €

  • JEDEC JEP130B:2016

    GUIDELINES FOR PACKING AND LABELING OF INTEGRATED CIRCUITS IN UNIT CONTAINER PACKING (TUBES, TRAYS, AND TAPE AND REEL)
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    62,00 €

  • JEDEC JESD22-B106E:2016

    RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
    01.11.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    62,00 €

  • JEDEC JESD217.01:2016

    TEST METHODS TO CHARACTERIZE VOIDING IN PRE-SMT BALL GRID ARRAY PACKAGES
    01.10.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP122H:2016

    Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    187,00 €

  • JEDEC JEP 122H:2016

    Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
    01.09.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP 174:2016

    Understanding Electrical Overstress - EOS
    01.09.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-B103B.01:2016

    VIBRATION, VARIABLE FREQUENCY
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    64,00 €

  • JEDEC JEP174:2016

    UNDERSTANDING ELECTRICAL OVERSTRESS - EOS
    01.09.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    239,00 €

  • JEDEC JESD 232A:2016

    GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5X) SGRAM STANDARD
    01.08.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    228,80 €

  • JEDEC JESD 82-31:2016

    DDR4 Registering Clock Driver - DDR4RCD01
    01.08.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD82-31:2016

    DDR4 REGISTER CLOCK DRIVER (DDR4RCD01)
    01.08.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    220,00 €

  • JEDEC JESD232AA:2016

    Graphics Double Data Rate (GDDR5X) SGRAM Standard
    01.08.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-B115A.01:2016

    SOLDER BALL PULL
    01.07.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    77,00 €

  • JEDEC JESD218B.01:2016

    SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
    01.06.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    87,00 €

  • JEDEC JESD247:2016

    Multi-wire Multi-level I/O Standard
    01.06.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    77,00 €

  • JEDEC JESD22-A122A:2016

    Power Cycling
    01.06.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    69,00 €

  • JEDEC J-STD-609B:2016

    MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
    01.04.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD220-1A:2016

    Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
    01.03.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    105,00 €

  • JEDEC JESD223-1A:2016

    Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
    01.03.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD243:2016

    COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
    01.03.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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    64,00 €

  • JEDEC JESD 212C:2016

    GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5) SGRAM STANDARD
    01.02.2016 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD212C:2016

    Graphics Double Data Rate (GDDR5) SGRAM Standard
    01.02.2016 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP151:2015

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    01.12.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD241:2015

    Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
    01.12.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD94B:2015 (R2021)

    APPLICATION SPECIFIC QUALIFICATION USING KNOWLEDGE BASED TEST METHODOLOGY
    01.10.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    LOW TEMPERATURE STORAGE LIFE
    01.10.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    59,00 €

  • JEDEC JEP163:2015

    SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
    01.09.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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    83,00 €

  • JEDEC JESD 209-3C:2015

    Low Power Double Data Rate 3 (LPDDR3)
    01.08.2015 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD209-3C:2015

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    01.08.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-A102E:2015 (R2021)

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  • JEDEC JEP172A:2015

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    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP159A:2015

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    01.07.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD8-28:2015

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    01.06.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC J-STD-110:2015

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    01.05.2015 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD557C:2015

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    01.04.2015 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC J-STD-020E:2014

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    01.12.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP166A:2014

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    01.12.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC J-STD-048:2014

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    01.11.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD 82-30:2014

    LRDIMM DDR3 Memory Buffer (MB) Version 1.0
    01.10.2014 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD82-30:2014

    LRDIMM DDR3 MEMORY BUFFER (MB)
    01.10.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD 229-2:2014

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    01.08.2014 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD229-2:2014

    WIDE I/O 2 (WideIO2)
    01.08.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    133,00 €

  • JEDEC JESD22-B109B:2014

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    01.07.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD22-B117B:2014 (R2020)

    SOLDER BALL SHEAR
    01.05.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP153A:2014 (R2019)

    CHARACTERIZATION AND MONITORING OF THERMAL STRESS TEST OVEN TEMPURATURES
    01.03.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD237:2014

    Reliability Qualification of Power Amplifier Modules
    01.03.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    77,00 €

  • JEDEC JP001A:2014

    FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
    01.02.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC J-STD-111:2014

    Joint ATIS/TIA Standard on Coexistence and Interference Issues in Land Mobile Systems
    01.01.2014 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP106AM:2014

    STANDARD MANUFACTURER'S IDENTIFICATION CODE
    01.01.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP171:2014

    GDDR5 Measurement Procedures
    01.01.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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    87,00 €

  • JEDEC JEP148B:2014

    RELIABILITY QUALIFICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES BASED ON PHYSICS OF FAILURE RISK AND OPPORTUNITY ASSESSMENT
    01.01.2014 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD 79-3-3:2013

    3D Stacked SDRAM
    01.12.2013 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JESD79-3-3:2013

    Addendum No. 1 to 3D Stacked SDRAM
    01.12.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
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    133,00 €

  • JEDEC JEP 70C:2013

    Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
    01.10.2013 - PDF sécurisé - Englisch - JEDEC
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    116,60 €

  • JEDEC JESD234:2013

    Test Standard for the Measurement of Proton Radiation Single Event Effects in Electronic Devices
    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    90,00 €

  • JEDEC JESD670A:2013

    QUALITY SYSTEM ASSESSMENT
    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
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  • JEDEC JEP70C:2013

    Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
    01.10.2013 - PDF - Englisch - JEDEC
    mehr dazu
    122,00 €

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