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  • AEC Q101 Rev E:2021

    Failure Mechanism based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors in Automotive Applications
    01.03.2021 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q102 Rev A:2020

    Failure mechanism based stress test qualification for optoelectronic semiconductors in automotive applications
    06.04.2020 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q004:2020

    AUTOMOTIVE ZERO DEFECTS FRAMEWORK


    26.02.2020 - PDF - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-011 Rev D:2019

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits - Attachment 11: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test
    29.01.2019 - PDF - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q104:2017

    Failure mechanism based stress test qualification for multichip modules (MCM) in automotive applications
    14.09.2017 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Charter Rev G:2017

    Automotive Electronics Council - Component Technical Committee Charter
    30.06.2017 - PDF - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q006 REV A:2016

    Qualification requirements for components using copper (Cu) wire interconnections
    01.07.2016 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC QTP:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Q100 Qualification Test Plan
    11.12.2014 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC CDC:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Appendix 2 - Q100 Certification of Design, Construction and Qualification
    11.09.2014 - Word-Datei - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100 Rev H:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits
    11.09.2014 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-002 Rev E:2013

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 2 - Human Body Model Electrostatic Discharge Test
    20.08.2013 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q003 Rev A:2013

    Guideline for Characterization of Integrated Circuits
    18.02.2013 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-004 Rev D:2012

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits - Attachment 4: IC Latch-Up Test
    07.08.2012 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q002 Rev B:2012

    Guidelines for Statistical Yield Analysis
    12.01.2012 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-005 Rev D1:2012

    Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 5 - Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test
    09.01.2012 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q001 Rev D:2011

    Guidelines for Part Average Testing
    09.12.2011 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-001 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 1: Flame retardance test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-002 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 2: Human body model electrostatic discharge test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-003 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 3: Beam load (break strength) test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-005 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 5: Board flex test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-006 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 6: Terminal strength (SMD) / Shear stress test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-007 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 7: Voltage surge test
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200 Rev D:2010

    Stress test qualification for passive components
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q005 Rev A:2010

    PB-free test requirements
    01.06.2010 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-007 Rev B:2007

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 7 - Fault Simulation and Fault Grading
    18.09.2007 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-009 Rev B:2007

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 9 - Electrical Distributions Assessment
    27.08.2007 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-012:2006

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 12 - Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
    14.09.2006 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q101-006:2006

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors, Attachment 6 - Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
    14.09.2006 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q101-001 Rev A:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors, Attachment 1 - Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge (ESD) Test
    18.07.2005 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q101-003 Rev A:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors, Attachment 3 - Wire Bond Shear Test
    18.07.2005 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q101-005:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors, Attachment 5 - Capacitive Discharge Model (CDM) Electrostatic Discharge (ESD) Test
    18.07.2005 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-010 Rev A:2003

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 10 - Solder Ball Shear Test
    18.07.2003 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-008 Rev A:2003

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 8 - Early Life Failure Rate (ELFR)
    18.07.2003 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q200-004 Rev A:2000

    Stress test qualification for passive components - Attachment 4: Measurement procedures for resettable fuses
    01.06.2000 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q100-001 Rev C:1998

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits, Attachment 1 - Wire Bond Shear Test
    08.10.1998 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

  • AEC Q101-004:1996

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors, Attachment 4 - Miscellaneous Test Methods
    15.05.1996 - PDF sécurisé - Englisch - AEC
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    25,00 €

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