| Name | Unterstützung | Language | Verfügbarkeit | Datum der Ausstellung | Preis | ||
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PDF |
Englisch |
gültig |
01.07.2021 |
58,24 € |
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PDF |
Englisch |
gültig |
01.07.2021 |
58,24 € |
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PDF |
Englisch |
gültig |
01.09.2021 |
58,24 € |
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Details
This test method is offered as standardized procedure to determine the alpha particle Soft Error Rate (SER) sensitivity of solid state volatile memory arrays and bistable logic elements (e.g. flipflops) by measuring the error rate while the device is irradiated by a characterized, solid alph source.
Zusätzliche Information
| Autor | JEDEC Solid State Technology Association (JEDEC) |
|---|---|
| Veröffentlicht von | JEDEC |
| Document type | Normen |
| Thema | /subgroups/36080 |
| ICS | 31.080.01 : Halbleitervorrichtungen allgemein
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| Seitenzahl | 16 |
| Ersetzt | JEDEC JESD89-2A:2007 (R2012) |
| Schlagwort | JEDEC JESD89-1A |
