| Name | Unterstützung | Language | Verfügbarkeit | Datum der Ausstellung | Preis | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
PDF |
Englisch |
gültig |
01.04.2017 |
60,00 € |
|
||
Details
This method establishes requirements for application of Statistical Reliability Monitoring 'SRM' technology to monitor and improve the reliability of electronic components and subassemblies. The standard also describes the condition under with a monitor may be replaced or eliminated. Formerly known as EIA-659, that superseded JESD29-A (July 1996). Became JESD625 after revision, September 1999.
Zusätzliche Information
| Autor | JEDEC Solid State Technology Association |
|---|---|
| Veröffentlicht von | JEDEC |
| Document type | Normen |
| Thema | /subgroups/36080 |
| ICS | 03.120.30 : Anwendung statistischer Methoden
31.020 : Elektronische Komponenten im Allgemeinen |
| Seitenzahl | 16 |
| Ersetzt | JEDEC JESD659B |
| Schlagwort | JEDEC JESD659C |
| Bestellformular |
|
