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Amendement 1 - Circuits intégrés - Evaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 5 : emetteurs-récepteurs Ethernet
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Mechanical Test Methods for Microcircuits Part 2: Test Methods 2000-2999
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14.11.2017 - PDF - Englisch -
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DIN EN 62433-6 VDE 0847-33-6:2017-11
EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
01.11.2017 - Paper - Deutsche -
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NF EN 60747-16-4/A2, C96-016-4/A2 (11/2017)
Semiconductor devices - Part 16-4 : microwave integrated circuits - Switches
01.11.2017 - Paper - Französisch -
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DIN EN 61967-1 VDE 0847-21-1:2017-11
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen (IEC 47A/1022/CD:2017)
01.11.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62435-5 VDE 0884-135-5:2017-10
Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse (IEC 62435-5:2017), Deutsche Fassung EN 62435-5:2017
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62435-1 VDE 0884-135-1:2017-10
Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 1: Allgemeines (IEC 62435-1:2017), Deutsche Fassung EN 62435-1:2017
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62433-1 VDE 0847-33-1:2017-10
Integrierte Schaltungen - EMV-IC-Modellierung - Teil 1: Allgemeine Modellierungsstruktur (IEC 47A/1011/CD:2017)
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62433-2 VDE 0847-33-2:2017-10
EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017), Deutsche Fassung EN 62433-2:2017
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62435-2 VDE 0884-135-2:2017-10
Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen (IEC 62435-2:2017), Deutsche Fassung EN 62435-2:2017
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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DIN EN 62433-3 VDE 0847-33-3:2017-10
EMV-IC-Modellierung - Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE) (IEC 62433-3:2017), Deutsche Fassung EN 62433-3:2017
01.10.2017 - Paper - Deutsche -
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UNE-EN 61967-4:2002/AC:2017-07
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in September of 2017.)
01.09.2017 - PDF - Englisch -
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DIN EN 62228-2 VDE 0847-28-2:2017-09
Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-2:2016), Deutsche Fassung EN 62228-2:2017
01.09.2017 - Paper - Deutsche -
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UNE-EN 62090:2017
Product package labels for electronic components using bar code and two- dimensional symbologies (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)
01.08.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu72,00 € -
BS EN 62090:2017
Etiketten für Verpackungen elektronischer Bauelemente unter Anwendung von Strichcodierung und zweidimensionaler Symbologien
31.07.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu293,00 € -
IEEE 1149.10:2017
IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture
28.07.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu99,00 € -
IEEE 1149.10:2017
IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture
28.07.2017 - Paper - Englisch -
mehr dazu122,00 € -
NF EN 62090, C90-530 (07/2017)
Product package labels for electronic components using bar code and two-dimensional symbologies
01.07.2017 - Paper - Französisch -
mehr dazu116,33 € -
UNE-EN 62433-3:2017
EMC IC modelling - Part 3: Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)
01.07.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu124,00 € -
NF EN 62433-2, C96-070-2 (07/2017)
EMV-IC-Modellierung - Teil 2 : modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE)
01.07.2017 - Paper - Französisch -
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DIN EN 62228-3 VDE 0847-28-3:2017-06
Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 47A/1004/CD:2017)
01.06.2017 - Paper - Deutsche -
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UNE-EN 62433-2:2017
EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2017.)
01.06.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu137,00 € -
DIN EN 62433-4 VDE 0847-33-4:2017-05
EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016), Deutsche Fassung EN 62433-4:2016
01.05.2017 - Paper - Deutsche -
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IEC 62090:2017
IEC 62090:2017 Product package labels for electronic components using bar code and two-dimensional symbologies
11.04.2017 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu270,00 € -
IEC 62090:2017
IEC 62090:2017 Product package labels for electronic components using bar code and two-dimensional symbologies
11.04.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu270,00 € -
UNE-EN 62228-2:2017
Integrated circuits - EMC Evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2017.)
01.03.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu78,00 € -
BS EN 62228-2:2017
Integrierte Schaltungen. Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten. LIN-Sende-Empfangsgeräte
28.02.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu331,00 € -
IEC 62433-3:2017
IEC 62433-3:2017 EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
27.01.2017 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu431,00 € -
IEC 62433-2:2017
IEC 62433-2:2017 EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)
27.01.2017 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu431,00 € -
30,00 €
-
ANSI/VITA 68.1:2017 + Errata
VPX Compliance Channel - Fixed Signal Integrity Budget Standard
01.01.2017 - PDF - Englisch -
mehr dazu60,00 € -
UNE-EN 62433-4:2016
EMC IC modelling - Part 4: Models of Integrated Circuits for RF Immunity behavioural simulation - Conducted Immunity modelling (ICIM-CI) (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
01.12.2016 - PDF - Englisch -
mehr dazu140,00 € -
BS EN 62433-4:2016
EMV-IC-Modellierung. Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit. Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)
30.11.2016 - PDF - Englisch -
mehr dazu398,00 € -
IEC 62228-2:2016
IEC 62228-2:2016 Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers
18.11.2016 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu311,00 € -
DIN EN 62132-1 VDE 0847-22-1:2016-09
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2015), Deutsche Fassung EN 62132-1:2016
01.09.2016 - Paper - Deutsche -
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IEC 62433-4:2016
IEC 62433-4:2016 EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI)
25.05.2016 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu431,00 € -
UNE-EN 62132-1:2016
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions (Endorsed by AENOR in April of 2016.)
01.04.2016 - PDF - Englisch -
mehr dazu69,00 € -
NF EN 16602-60-02, L90-200-60-02 (04/2016)
Raumfahrtproduktsicherung - Entwicklung von ASIG und FPGA
01.04.2016 - Paper - Englisch, Französisch -
mehr dazu168,00 € -
BS EN 62132-1:2016
Integrierte Schaltungen. Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit. Allgemeine Bedingungen und Begriffe
31.03.2016 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
IEC 62132-1:2015
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe
29.10.2015 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu173,00 € -
PD IEC/TR 61967-1-1:2015
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions General conditions and definitions. Near-field scan data exchange format
30.09.2015 - PDF - Englisch -
mehr dazu348,00 € -
IEC TR 61967-1-1:2015
IEC TR 61967-1-1:2015 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1-1: General conditions and definitions - Near-field scan data exchange format
28.08.2015 - PDF - Englisch -
mehr dazu397,00 € -
DIN IEC/TS 61967-3 VDE V 0847-21-3:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 61967-3:2014)
01.08.2015 - Paper - Deutsche -
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DIN IEC/TS 62132-9 VDE V 0847-22-9:2015-08
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC/TS 62132-9:2014)
01.08.2015 - Paper - Deutsche -
mehr dazu69,60 € -
IEEE 1687:2014
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
05.12.2014 - Paper - Englisch -
mehr dazu337,00 € -
IEEE 1687:2014
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
05.12.2014 - PDF - Englisch -
mehr dazu269,00 € -
PD IEC/TS 62132-9:2014
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity radiated immunity. Surface scan method
30.09.2014 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
PD IEC/TS 61967-3:2014
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions radiated emissions. Surface scan method
30.09.2014 - PDF - Englisch -
mehr dazu293,00 € -
IEC TS 61967-3:2014
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen - Verfahren der Oberflächenabtastung
25.08.2014 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu270,00 € -
IEC TS 62132-9:2014
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung
21.08.2014 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu219,00 € -
14/30310478 DC:2014
BS EN 62433-3. EMC IC modelling. Part 3. Models of Integrated Circuits for EMI behavioural simulation. Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
17.07.2014 - PDF - Englisch -
mehr dazu24,00 € -
DIN EN 62215-3 VDE 0847-23-3:2014-04
Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 3: Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren (IEC 62215-3:2013), Deutsche Fassung EN 62215-3:2013
01.04.2014 - Paper - Deutsche -
mehr dazu84,90 € -
NF EN 60747-16-5, C96-016-5 (02/2014)
Halbleiterbauelemente - Teil 16-5 : Integrierte Mikrowellenschalt-Kreise - Oszillatoren
01.02.2014 - Paper - Französisch -
mehr dazu127,67 € -
EIA-944:2013
Surface Mount Ferrite Chip Bead Qualification Specification
01.12.2013 - PDF sécurisé - Englisch -
mehr dazu81,90 € -
UNE-EN 62215-3:2013
Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
01.11.2013 - PDF - Englisch -
mehr dazu74,00 € -
BS EN 62215-3:2013
Integrierte Schaltungen. Messung der Störfestigkeit gegen Impulse. Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren
31.10.2013 - PDF - Englisch -
mehr dazu293,00 € -
DIN 51456:2013-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)
01.10.2013 - PDF - Deutsche -
mehr dazu65,89 € -
IEC 62215-3:2013
Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
17.07.2013 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu270,00 € -
DIN EN 62132-8 VDE 0847-22-8:2013-03
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012), Deutsche Fassung EN 62132-8:2012
01.03.2013 - Paper - Deutsche -
mehr dazu65,60 € -
60,00 €
-
UNE-EN 62132-8:2012
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (Endorsed by AENOR in November of 2012.)
01.11.2012 - PDF - Englisch -
mehr dazu68,00 € -
BS EN 62132-8:2012
Integrierte Schaltungen. Messung der elektromagnetischen. Störfestigkeit. Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen. IC-Streifenleiterverfahren
31.10.2012 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
IEC 62132-8:2012
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren
06.07.2012 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu173,00 € -
NF EN 60747-16-4/A1, C96-016-4/A1 (07/2012)
Halbleiterbauelemente - Teil 16-4 : Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter
01.07.2012 - Paper - Französisch -
mehr dazu72,00 € -
DIN EN 61967-8 VDE 0847-21-8:2012-04
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2011), Deutsche Fassung EN 61967-8:2011
01.04.2012 - Paper - Deutsche -
mehr dazu61,54 € -
UNE-EN 61967-8:2011
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (Endorsed by AENOR in January of 2012.)
01.01.2012 - PDF - Englisch -
mehr dazu63,00 € -
60,00 €
-
30,00 €
-
30,00 €
-
BS IEC 60747-10:1991
Semiconductor devices Generic specification for discrete and integrated circuits
31.07.2011 - PDF - Englisch -
mehr dazu293,00 € -
BS IEC 60748-11:2000
Semiconductor devices. Integrated circuits Sectional specification for semiconductor integrated excluding hybrid
31.07.2011 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
DIN EN 62132-2 VDE 0847-22-2:2011-07
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010), Deutsche Fassung EN 62132-2:2011
01.07.2011 - Paper - Deutsche -
mehr dazu74,10 € -
UNE-EN 62132-2:2011
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity -- Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (Endorsed by AENOR in July of 2011.)
01.07.2011 - PDF - Englisch -
mehr dazu68,00 € -
BS EN 62132-2:2011
Integrierte Schaltungen. Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit. Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen. TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren
30.04.2011 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
PD IEC/TR 62433-2-1:2010
EMV-IC-Modellierung. Theorie der Black-Box-Modellierung für leitungsgeführte Aussendung
28.02.2011 - PDF - Englisch -
mehr dazu250,00 € -
DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008), Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008, Berichtigung zu DIN EN 61967-6:2008-10, (IEC-Cor. :2010 zu IEC 61967-6:2002)
01.02.2011 - PDF - Deutsche -
mehr dazu0,00 € -
BS EN 61967-6:2002+A1:2008
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz conducted emissions. Magnetic probe method
31.12.2010 - PDF - Englisch -
mehr dazu331,00 € -
DIN EN 62417:2010-12
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62417:2010), Deutsche Fassung EN 62417:2010
01.12.2010 - PDF - Deutsche -
mehr dazu59,63 € -
IEC TR 62433-2-1:2010
IEC TR 62433-2-1:2010 EMC IC modelling - Part 2-1: Theory of black box modelling for conducted emission
05.10.2010 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu219,00 € -
IEC 62132-2:2010
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren
30.03.2010 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu173,00 € -
60,00 €
-
DIN EN 61967-6:2008-10
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008), Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 61967-6 (2003-05) noch bis 2011-04-01.
01.10.2008 - PDF - Deutsche -
mehr dazu115,33 € -
BS IEC 60748-2-20:2008
Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Integrierte Digitalschaltungen. Familienspezifikation. Integrierte Schaltungen fuer niedrige Spannungen
30.09.2008 - PDF - Englisch -
mehr dazu180,00 € -
UNE-EN 61967-6:2002/A1:2008
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -- Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
01.09.2008 - PDF - Englisch -
mehr dazu65,00 € -
IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 Edition 1.1
IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 (Consolidated version) Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
24.06.2008 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu443,00 € -
NF EN 61967-6/A1, C96-260-6/A1 (06/2008)
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6 : Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren
01.06.2008 - Paper - Französisch -
mehr dazu103,33 € -
DIN EN 62132-3:2008-04
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007), Deutsche Fassung EN 62132-3:2007
01.04.2008 - PDF - Deutsche -
mehr dazu99,35 € -
IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
12.03.2008 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu132,00 € -
IEC 60748-2-20:2008
IEC 60748-2-20:2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
27.02.2008 - PDF - Englisch, Französisch -
mehr dazu173,00 € -
BS IEC 62528:2007
Standard testability method for embedded core-based integrated circuits
31.12.2007 - PDF - Englisch -
mehr dazu430,00 € -
BS EN 62132-3:2007
Integrierte Schaltungen. Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz. Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren
30.11.2007 - PDF - Englisch -
mehr dazu180,00 €
