31.140 : Piezoelektrische Bauelemente

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  • DIN EN IEC 62604-1:2024-03

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 62604-1:2022), German version EN IEC 62604-1:2022.
    01.03.2024 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    115,33 €

  • 23/30484686 DC:2023

    Draft BS EN IEC 60122-2 Quartz crystal units of assessed quality. Part 2. Guide to the use
    18.12.2023 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    24,00 €

  • DIN EN IEC 60444-6:2023-11

    Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2021), German version EN IEC 60444-6:2021.
    01.11.2023 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    99,35 €

  • IEC TS 61994-5:2023

    IEC TS 61994-5:2023 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
    15.09.2023 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    46,00 €

  • IEC TS 61994-5:2023 + Redline

    IEC TS 61994-5:2023 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
    15.09.2023 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • DIN EN IEC 62276:2023-05

    Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 49/1401/CD:2022), Text in German and English
    01.05.2023 - PDF - Englisch, Deutsch - DIN
    mehr dazu
    152,71 €

  • 23/30472821 DC:2023

    BS EN IEC 60122-2. Quartz crystal units of assessed quality Part 2. Guide to the use
    12.04.2023 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    24,00 €

  • BS IEC 62047-37:2020

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
    05.04.2023 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • DIN EN IEC 63041-1:2023-02

    Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (IEC 63041-1:2021), German version EN IEC 63041-1:2021.
    01.02.2023 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    115,33 €

  • 23/30468947 DC:2023

    BS EN 62276. Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
    30.01.2023 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    24,00 €

  • BS EN IEC 62604-1:2022 + Redline

    Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
    23.01.2023 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    382,00 €

  • BS EN IEC 62604-2:2022 + Redline

    Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
    01.12.2022 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    382,00 €

  • BS EN IEC 62604-1:2022

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
    11.11.2022 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    293,00 €

  • BS EN IEC 62604-2:2022

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
    31.10.2022 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    293,00 €

  • UNE-EN IEC 62604-1:2022

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2022.)
    12.10.2022 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    75,00 €

  • UNE-EN IEC 62604-2:2022

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2022.)
    12.10.2022 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    72,00 €

  • NF EN IEC 62604-2, C93-604-2 (10/2022)

    Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2 : Lignes directrices d'utilisation
    01.10.2022 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • IEC 62604-2:2022

    IEC 62604-2:2022 Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
    01.09.2022 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    219,00 €

  • NF EN IEC 62604-1, C93-604-1 (09/2022)

    Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1 : Spécification générique
    01.09.2022 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    116,33 €

  • IEC 62604-2:2022 + Redline

    IEC 62604-2:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
    01.09.2022 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    284,00 €

  • IEC 62604-1:2022

    IEC 62604-1:2022 Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
    11.07.2022 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • IEC 62604-1:2022 + Redline

    IEC 62604-1:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
    11.07.2022 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    352,00 €

  • BS EN IEC 60444-6:2021 + Redline

    Tracked Changes. Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
    18.05.2022 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    326,00 €

  • BS EN IEC 63041-1:2021 + Redline

    Tracked Changes. Piezoelectric sensors Generic specifications
    08.02.2022 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    382,00 €

  • UNE-EN IEC 63041-1:2021

    Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2021.)
    01.12.2021 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    75,00 €

  • BS EN IEC 63041-1:2021

    Piezoelectric sensors Generic specifications
    23.11.2021 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    293,00 €

  • BS EN IEC 60444-6:2021

    Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
    05.11.2021 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • UNE-EN IEC 60444-6:2021

    Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2021.)
    01.11.2021 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    70,00 €

  • NF EN IEC 60444-6, C93-621-6 (10/2021)

    Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6 : measurement of drive level dependence (DLD)
    01.10.2021 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (10/2021)

    Capteurs piézoélectriques - Partie 1 : spécifications génériques
    01.10.2021 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    116,33 €

  • IEC 63041-1:2021

    IEC 63041-1:2021 Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
    17.09.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    219,00 €

  • IEC 63041-1:2021 + Redline

    IEC 63041-1:2021 (Redline version) Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
    17.09.2021 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    284,00 €

  • IEC 60444-6:2021

    IEC 60444-6:2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
    01.09.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • IEC 60444-6:2021 + Redline

    IEC 60444-6:2021 (Redline version) Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
    01.09.2021 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    224,00 €

  • IEC 60050-561:2014/AMD4:2021

    IEC 60050-561:2014/AMD4:2021 Amendment 4 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    09.08.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • DIN EN IEC 63155:2021-07

    Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (IEC 63155:2020), German version EN IEC 63155:2020
    01.07.2021 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    99,35 €

  • DIN EN IEC 63041-3:2021-07

    Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (IEC 63041-3:2020), German version EN IEC 63041-3:2020
    01.07.2021 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    85,79 €

  • DIN EN IEC 62604-2:2021-06

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (IEC 49/1353/CD:2020), Text in English
    01.06.2021 - PDF - Englisch - DIN
    mehr dazu
    104,95 €

  • IEC 60050-561:2014/AMD3:2021

    IEC 60050-561:2014/AMD3:2021 Amendment 3 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    29.03.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    12,00 €

  • PD IEC TS 61994-3:2021

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary oscillators
    09.02.2021 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • IEC TS 61994-3:2021

    IEC TS 61994-3:2021 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 3: Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators
    28.01.2021 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • UNE-EN IEC 61837-2:2018/A1:2020

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2021.)
    01.01.2021 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    72,00 €

  • BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines terminal lead connections Ceramic enclosures
    13.11.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    398,00 €

  • NF EN IEC 61837-2/A1, C93-628-2/A1 (11/2020)

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2 : ceramic enclosures - Amendement 1 - Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2 : enveloppes en céramique.
    01.11.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • UNE-EN IEC 63041-3:2020

    Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)
    01.11.2020 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    64,00 €

  • BS EN IEC 63041-3:2020

    Piezoelectric sensors Physical
    01.10.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1

    IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Consolidated version) Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    24.09.2020 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    794,00 €

  • IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1

    IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Consolidated version) Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    24.09.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    794,00 €

  • IEC 61837-2:2018/AMD1:2020

    IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    24.09.2020 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • IEC 61837-2:2018/AMD1:2020

    IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    24.09.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • NF EN IEC 63041-3, C93-041-3 (09/2020)

    Piezoelectric sensors - Part 3 : physical sensors
    01.09.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,33 €

  • IEC 63041-3:2020

    IEC 63041-3:2020 Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors
    12.08.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • UNE-EN IEC 63155:2020

    Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2020.)
    01.07.2020 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    69,00 €

  • BS EN IEC 63155:2020

    Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
    25.06.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • NF EN IEC 63155, C93-155 (06/2020)

    Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
    01.06.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • IEC 60050-561:2014/AMD2:2020

    IEC 60050-561:2014/AMD2:2020 Amendment 2 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    27.05.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    12,00 €

  • IEC 62047-37:2020

    IEC 62047-37:2020 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
    28.04.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • IEC 63155:2020

    IEC 63155:2020 Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
    24.04.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • PD IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline

    Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
    27.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    197,00 €

  • PD IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline

    Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
    27.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    235,00 €

  • BS EN 60758:2016 + Redline

    Tracked Changes. Synthetic quartz crystal. Specifications and guidelines for use
    26.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    454,00 €

  • BS EN 60793-1-33:2017 + Redline

    Tracked Changes. Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
    25.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    432,00 €

  • DIN EN IEC 62884-4:2020-02

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4: Short-term frequency stability test methods (IEC 62884-4:2019), German version EN IEC 62884-4:2019
    01.02.2020 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    104,95 €

  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10

    Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019), German version EN IEC 60122-4:2019
    01.10.2019 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    92,62 €

  • UNE-EN IEC 62884-4:2019

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2019.)
    01.08.2019 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    69,00 €

  • PD IEC TS 61994-5:2019

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric sensors
    17.07.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    151,00 €

  • BS EN IEC 62884-4:2019

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Short-term frequency stability test methods
    15.07.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • NF EN IEC 62884-4, C93-684-4 (07/2019)

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : short-term frequency stability test methods
    01.07.2019 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,33 €

  • IEC 62884-4:2019

    IEC 62884-4:2019 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods
    06.05.2019 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • UNE-EN IEC 60122-4:2019

    Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2019.)
    01.05.2019 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    64,00 €

  • BS IEC 62047-36:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
    24.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • BS IEC 62047-33:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
    18.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • BS IEC 62047-34:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
    16.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • IEC 62047-33:2019

    IEC 62047-33:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
    05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • IEC 62047-34:2019

    IEC 62047-34:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
    05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • IEC 62047-36:2019

    IEC 62047-36:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
    05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • BS EN IEC 60122-4:2019

    Quartz crystal units of assessed quality Crystal with thermistors
    28.03.2019 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • NF EN IEC 60122-4, C93-618-4 (03/2019)

    Quartz crystal units of assessed quality - Part 4 : crystal units with thermistors
    01.03.2019 - Paper - Französisch - AFNOR
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    88,33 €

  • IEC 60122-4:2019

    IEC 60122-4:2019 Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors
    24.01.2019 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • 18/30383935 DC:2018

    BS EN IEC 62047-37. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 37. Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
    04.12.2018 - PDF - Englisch - BSI
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    24,00 €

  • PD IEC TS 61994-4-1:2018

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
    22.11.2018 - PDF - Englisch - BSI
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    151,00 €

  • PD IEC TS 61994-4-4:2018

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
    22.11.2018 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • IEC TS 61994-4-4:2018

    IEC TS 61994-4-4:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
    16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • IEC TS 61994-4-1:2018

    IEC TS 61994-4-1:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
    16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    46,00 €

  • IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline

    IEC TS 61994-4-1:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
    16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    60,00 €

  • IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline

    IEC TS 61994-4-4:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
    16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
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    120,00 €

  • DIN EN IEC 62884-3:2018-10

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 3: Prüfverfahren für die Frequenzalterung (IEC 62884-3:2018), Deutsche Fassung EN IEC 62884-3:2018
    01.10.2018 - PDF - Deutsche - DIN
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    85,79 €

  • DIN EN 60122-1:2018-08

    Schwingquarze mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60122-1:2002 + A1:2017), Deutsche Fassung EN 60122-1:2002 + A1:2018 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60122-1 (2003-06) noch bis 2021-01-12.
    01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    136,82 €

  • DIN EN IEC 63041-2:2018-08

    Piezoelektrische Sensoren - Teil 2: Chemische und biochemische Sensoren (IEC 63041-2:2017), Deutsche Fassung EN IEC 63041-2:2018
    01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
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    92,62 €

  • DIN EN IEC 62604-2:2018-08

    Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen-(BAW-)Duplexer mit bewerteter Qualität - Teil 2: Leitfaden für die Anwendung (IEC 62604-2:2017), Deutsche Fassung EN IEC 62604-2:2018 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62604-2 (2012-08) noch bis 2021-01-03.
    01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    104,95 €

  • UNE-EN IEC 61837-2:2018

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2018.)
    01.08.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    137,00 €

  • NF EN IEC 61837-2, C93-628-2 (07/2018)

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2 : ceramic enclosures
    01.07.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    197,00 €

  • NF EN 60758, C93-632 (06/2018)

    Synthetischer Quarzkristall - Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung
    01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    148,69 €

  • NF EN 62276, C93-616 (06/2018)

    Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
    01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    123,39 €

  • NF EN 61240, C93-614 (06/2018)

    Piezoelektrische Bauelemente - Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion - Allgemeine Regeln
    01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    85,42 €

  • UNE-EN IEC 62884-3:2018

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators – Part 3: Frequency aging test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2018.)
    01.06.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    64,00 €

  • BS EN IEC 62884-3:2018

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Prüfverfahren für die Frequenzalterung
    30.05.2018 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • BS EN 60122-1:2002+A1:2018

    Quartz crystal units of assessed quality Generic specification
    21.05.2018 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    331,00 €

  • IEC 61837-2:2018

    IEC 61837-2:2018 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    08.05.2018 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    431,00 €

  • IEC 61837-2:2018

    IEC 61837-2:2018 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
    08.05.2018 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    431,00 €

  • DIN EN 62884-2:2018-05

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 2: Messverfahren für Phasenjitter (IEC 62884-2:2017), Deutsche Fassung EN 62884-2:2017
    01.05.2018 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    104,95 €

  • UNE-EN 60122-1:2002/A1:2018

    Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)
    01.05.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    60,00 €

  • DIN EN 60679-1:2018-04

    Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2017), Deutsche Fassung EN 60679-1:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60679-1 (2008-02) noch bis 2020-08-30.
    01.04.2018 - PDF - Deutsche - DIN
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    120,84 €

  • UNE-EN IEC 62604-2:2018

    Surface Acoustic Wave (SAW) and Bulk Acoustic Wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
    01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    71,00 €

  • UNE-EN IEC 63041-1:2018

    Piezoelectric Sensors - Part 1: Generic Specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
    01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    71,00 €

  • UNE-EN IEC 63041-2:2018

    Piezoelectric Sensors - Part 2: Chemical and Biochemical Sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
    01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
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    65,00 €

  • IEC 62884-3:2018

    IEC 62884-3:2018 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
    22.03.2018 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • IEC 62884-3:2018

    IEC 62884-3:2018 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
    22.03.2018 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • BS EN IEC 63041-2:2018

    Piezoelektrische Sensoren Chemische und biochemische Sensoren
    21.03.2018 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • NF EN 60122-1/A1, C93-618-1/A1 (03/2018)

    Quartz crystal units of assessed quality - Part 1 : generic specification
    01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,33 €

  • NF EN IEC 62604-2, C93-604-2 (03/2018)

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2 : guidelines for the use
    01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (03/2018)

    Piezoelectric Sensors - Part 1 : generic specifications
    01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,33 €

  • NF EN IEC 63041-2, C93-041-2 (03/2018)

    Piezoelectric Sensors - Part 2 : chemical and biochemical Sensors
    01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,33 €

  • DIN EN 62884-1:2018-02

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 1: Grundlegende Messverfahren (IEC 62884-1:2017), Deutsche Fassung EN 62884-1:2017
    01.02.2018 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    163,74 €

  • UNE-EN 62884-2:2017

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2018.)
    01.01.2018 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    69,00 €

  • BS EN 60679-1:2017

    Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität Fachgrundspezifikation
    13.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    293,00 €

  • IEC 63041-2:2017

    IEC 63041-2:2017 Piezoelectric sensors - Part 2: Chemical and biochemical sensors
    13.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • IEC 63041-2:2017

    IEC 63041-2:2017 Piezoelectric sensors - Part 2: Chemical and biochemical sensors
    13.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • BS EN 62884-2:2017

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Messverfahren für Phasenjitter
    08.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1

    IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Consolidated version) Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
    08.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    385,00 €

  • IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1

    IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Consolidated version) Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
    08.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    385,00 €

  • IEC 60122-1:2002/AMD1:2017

    IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
    08.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    46,00 €

  • IEC 60122-1:2002/AMD1:2017

    IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
    08.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    46,00 €

  • BS EN 60793-1-33:2017

    Lichtwellenleiter Messmethoden und Prüfverfahren. Spannungskorrosionsempfindlichkeit
    07.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    331,00 €

  • NF EN 62884-2, C93-684-2 (12/2017)

    Measurement techniques of piezoelectric, dieletric and electrostatic oscillators - Part 2 : phase jitter measurement method - Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : méthode de mesure des gigues de phase
    01.12.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    103,00 €

  • UNE-EN 60679-1:2017

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2017.)
    01.12.2017 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    75,00 €

  • DIN EN 60444-8:2017-11

    Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8: Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze (IEC 60444-8:2016), Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60444-8 (2004-03) noch bis 2020-01-19.
    01.11.2017 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    92,62 €

  • NF EN 60679-1, C93-620-1 (11/2017)

    Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1 : generic specification
    01.11.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    127,67 €

  • UNE-EN 62884-1:2017

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2017.)
    01.11.2017 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    98,00 €

  • JIS C 6704:2017

    Synthetic quartz crystal
    20.10.2017 - PDF - Japanisch - JSA
    mehr dazu
    50,18 €

  • BS IEC 62047-30:2017

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics MEMS piezoelectric thin film
    09.10.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • BS EN 62884-1:2017

    Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Grundlegende Messverfahren
    04.10.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    348,00 €

  • IEC 62047-30:2017

    IEC 62047-30:2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
    15.09.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • NF EN 60444-8, C93-621-8 (09/2017)

    Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8 : Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze
    01.09.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,33 €

  • NF EN 62884-1, C93-684-1 (09/2017)

    Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1 : basic methods for the measurement
    01.09.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    170,00 €

  • IEC 62884-2:2017

    IEC 62884-2:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
    30.08.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • IEC 62884-2:2017

    IEC 62884-2:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
    30.08.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • DIN EN 61240:2017-08

    Piezoelektrische Bauelemente - Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion - Allgemeine Regeln (IEC 61240:2016), Deutsche Fassung EN 61240:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 61240 (2013-05) noch bis 2019-11-28.
    01.08.2017 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    92,62 €

  • DIN EN 62276:2017-08

    Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2016), Deutsche Fassung EN 62276:2016 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62276 (2013-08) noch bis 2019-11-28.
    01.08.2017 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    136,82 €

  • IEC 60679-1:2017

    IEC 60679-1:2017 Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
    26.07.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • IEC 60679-1:2017

    IEC 60679-1:2017 Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
    26.07.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • IEC 62884-1:2017

    IEC 62884-1:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
    08.06.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    397,00 €

  • IEC 62884-1:2017

    IEC 62884-1:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
    08.06.2017 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    397,00 €

  • BS EN 60444-8:2017

    Messung von Schwingquarz-Parametern Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze
    26.05.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    180,00 €

  • UNE-EN 60444-8:2017

    Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2017.)
    01.05.2017 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    62,00 €

  • DIN EN 60758:2017-04

    Synthetischer Quarzkristall - Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung (IEC 60758:2016), Deutsche Fassung EN 60758:2016 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60758 (2009-05) noch bis 2019-10-07.
    01.04.2017 - PDF - Deutsche - DIN
    mehr dazu
    158,04 €

  • UNE-EN 61240:2017

    Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2017.)
    01.03.2017 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    68,00 €

  • BS EN 61240:2017

    Piezoelektrische Bauelemente. Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion. Allgemeine Regeln
    31.01.2017 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • UNE-EN 62276:2016

    Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2017.)
    01.01.2017 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    76,00 €

  • BS EN 62276:2016

    Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente. Festlegungen und Messverfahren
    31.12.2016 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    331,00 €

  • IEC 60050-561:2014/AMD1:2016

    IEC 60050-561:2014/AMD1:2016 Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    16.12.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    12,00 €

  • IEC 60444-8:2016

    IEC 60444-8:2016 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
    15.12.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • IEC 60444-8:2016

    IEC 60444-8:2016 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
    15.12.2016 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    92,00 €

  • UNE-EN 60758:2016

    Synthetic Quartz Crystal - Specifications and guidelines for use (Endorsed by AENOR in November of 2016.)
    01.11.2016 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    98,00 €

  • IEC 62276:2016

    IEC 62276:2016 Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
    24.10.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • IEC 61240:2016

    IEC 61240:2016 Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules
    24.10.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    132,00 €

  • IEC 62276:2016

    IEC 62276:2016 Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
    24.10.2016 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • IEC 61240:2016

    IEC 61240:2016 Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules
    24.10.2016 - PDF - Englisch - IEC
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    132,00 €

  • BS EN 60758:2016

    Synthetischer Quarzkristall. Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung
    30.09.2016 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    348,00 €

  • DIN EN 62575-1:2016-09

    Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen, mit bewerteter Qualität (HFBAW-Filter) - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 62575-1:2015), Deutsche Fassung EN 62575-1:2016
    01.09.2016 - PDF - Deutsche - DIN
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    120,84 €

  • IEC 60758:2016

    IEC 60758:2016 Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use
    18.05.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    345,00 €

  • IEC 60758:2016

    IEC 60758:2016 Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use
    18.05.2016 - PDF - Englisch - IEC
    mehr dazu
    345,00 €

  • DIN EN 61338-1-5:2016-04

    Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Messverfahren für die Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger im Mikrowellen-Frequenzbereich (IEC 61338-1-5:2015), Deutsche Fassung EN 61338-1-5:2015
    01.04.2016 - PDF - Deutsche - DIN
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    99,35 €

  • UNE-EN 62575-1:2016

    Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in April of 2016.)
    01.04.2016 - PDF - Englisch - AENOR
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    75,00 €

  • BS EN 62575-1:2016

    Volumenwellen-(BAW-)Filter mit bewerteter Qualität für Hochfrequenz-(HF-)Anwendungen. Fachgrundspezifikation
    31.03.2016 - PDF - Englisch - BSI
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    293,00 €

  • NF EN 61837-3, C93-628-3 (01/2016)

    Oberfläschenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -Selektion - Norm-Gehäusemasse und Anschlüsse - Teil 3 : Metallgehäuse
    01.01.2016 - Paper - Französisch - AFNOR
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    96,59 €

  • UNE-EN 60862-1:2015

    Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
    01.01.2016 - PDF - Englisch - AENOR
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    81,00 €

  • UNE-EN 61837-3:2015

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 3: Metal enclosures (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
    01.01.2016 - PDF - Englisch - AENOR
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    66,00 €

  • BS EN 61837-3:2015

    Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion. Norm- Gehäusemaße und Anschlüsse. Metallgehäuse
    31.12.2015 - PDF - Englisch - BSI
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    250,00 €

  • BS EN 60862-1:2015

    Oberflächenwellenfilter (OFW-Filter) mit bewerteter Qualität. Fachgrundspezifikation
    30.11.2015 - PDF - Englisch - BSI
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    348,00 €

  • IEC 62575-1:2015

    IEC 62575-1:2015 Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification
    29.10.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    270,00 €

  • UNE-EN 61338-1-5:2015

    Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
    01.10.2015 - PDF - Englisch - AENOR
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    66,00 €

  • UNE-EN 62604-1:2015

    Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
    01.10.2015 - PDF - Englisch - AENOR
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    72,00 €

  • BS EN 61338-1-5:2015

    Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp. Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen. Messverfahren für die Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger im Mikrowellen-Frequenzbereich
    30.09.2015 - PDF - Englisch - BSI
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    250,00 €

  • IEC 60862-1:2015

    IEC 60862-1:2015 Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification
    20.08.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    311,00 €

  • NF EN 61837-4, C93-628-4 (08/2015)

    Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion - Norm-Gehäusemasse und Anschlüsse - Teil 4 : Hybridgehäuse
    01.08.2015 - Paper - Französisch - AFNOR
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    82,53 €

  • IEC 61338-1-5:2015

    IEC 61338-1-5:2015 Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency
    25.06.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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    132,00 €

  • UNE-EN 61837-4:2015

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 4: Hybrid enclosure outlines (Endorsed by AENOR in June of 2015.)
    01.06.2015 - PDF - Englisch - AENOR
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    59,00 €

  • BS EN 61837-4:2015

    Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion. Norm-Gehäusemaße und Anschlüsse. Hybridgehäuse
    31.05.2015 - PDF - Englisch - BSI
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    180,00 €

  • IEC 61837-3:2015

    IEC 61837-3:2015 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 3: Metal enclosures
    15.04.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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    132,00 €

  • IEC 61837-4:2015

    IEC 61837-4:2015 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 4: Hybrid enclosure outlines
    27.03.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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    92,00 €

  • DIN EN 62761:2014-12

    Leitfaden zum Messverfahren für die Nichtlinearität von Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen-(BAW-)Bauelementen für Hochfrequenzanwendungen (IEC 62761:2014), Deutsche Fassung EN 62761:2014
    01.12.2014 - PDF - Deutsche - DIN
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    104,95 €

  • IEC 60050-561:2014

    IEC 60050-561:2014 International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    07.11.2014 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    460,00 €

  • UNE-EN 62761:2014

    Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) (Endorsed by AENOR in July of 2014.)
    01.07.2014 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    68,00 €

  • BS EN 62761:2014

    Leitfaden zum Messverfahren für die Nichtlinearität von Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen- (BAW-)Bauelementen für Hochfrequenzanwendungen
    30.06.2014 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • JIS C 6760:2014

    Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
    20.06.2014 - PDF - Japanisch - JSA
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    41,86 €

  • NF EN 60444-9, C93-621-9 (05/2014)

    Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 9 : Messung der Nebenresonanzen von Schwingpuarzen
    01.05.2014 - Paper - Französisch - AFNOR
    mehr dazu
    88,00 €

  • IEC 62761:2014

    IEC 62761:2014 Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
    19.02.2014 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
    mehr dazu
    173,00 €

  • DIN EN 60679-3:2014-01

    Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 3: Norm-Gehäusemaße und Anschlussdrähte (IEC 60679-3:2012), Deutsche Fassung EN 60679-3:2013 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60679-3 (2002-07) noch bis 2016-01-18.
    01.01.2014 - PDF - Deutsche - DIN
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    104,95 €

  • UNE-EN 60444-6:2013

    Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
    01.11.2013 - PDF - Englisch - AENOR
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    65,00 €

  • BS EN 60444-6:2013

    Messung von Schwingquarz-Parametern. Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD)
    31.10.2013 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • UNE-EN 60679-3:2013

    Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections (Endorsed by AENOR in August of 2013.)
    01.08.2013 - PDF - Englisch - AENOR
    mehr dazu
    69,00 €

  • BS EN 60679-3:2013

    Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität. Norm-Gehäusemaße und Anschlussdrähte
    31.07.2013 - PDF - Englisch - BSI
    mehr dazu
    250,00 €

  • IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 Edition 4.1

    IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 (Consolidated version) Piezoelectric filters of assessed quality - Part 1: Genericspecification
    28.05.2013 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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    385,00 €

  • DIN EN 62575-2:2013-05

    Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen (HFBAW-Filter) - Teil 2: Leitfaden für die Anwendung (IEC 62575-2:2012), Deutsche Fassung EN 62575-2:2012
    01.05.2013 - PDF - Deutsche - DIN
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    99,35 €

  • IEC 60679-3:2012

    IEC 60679-3:2012 Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
    14.12.2012 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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    173,00 €

  • UNE-EN 62575-2:2012

    Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by AENOR in November of 2012.)
    01.11.2012 - PDF - Englisch - AENOR
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    68,00 €

  • BS EN 62575-2:2012

    Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen (HFBAW-Filter). Leitfaden für die Anwendung
    31.10.2012 - PDF - Englisch - BSI
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    250,00 €

  • 12/30274095 DC:2012

    BS EN 60679-1 AMD1. Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 1. Generic specification
    26.10.2012 - PDF - Englisch - BSI
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    24,00 €

  • UNE-EN 61837-1:2012

    Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 1: Plastic moulded enclosure outlines (Endorsed by AENOR in October of 2012.)
    01.10.2012 - PDF - Englisch - AENOR
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    68,00 €

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