31.140 : Piezoelektrische Bauelemente
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DIN EN IEC 62604-1:2024-03
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 62604-1:2022), German version EN IEC 62604-1:2022.
01.03.2024 - PDF - Deutsche - DIN
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23/30484686 DC:2023
Draft BS EN IEC 60122-2 Quartz crystal units of assessed quality. Part 2. Guide to the use
18.12.2023 - PDF - Englisch - BSI
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DIN EN IEC 60444-6:2023-11
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2021), German version EN IEC 60444-6:2021.
01.11.2023 - PDF - Deutsche - DIN
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IEC TS 61994-5:2023
IEC TS 61994-5:2023 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
15.09.2023 - PDF - Englisch - IEC
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IEC TS 61994-5:2023 + Redline
IEC TS 61994-5:2023 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
15.09.2023 - PDF - Englisch - IEC
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DIN EN IEC 62276:2023-05
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 49/1401/CD:2022), Text in German and English
01.05.2023 - PDF - Englisch, Deutsch - DIN
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23/30472821 DC:2023
BS EN IEC 60122-2. Quartz crystal units of assessed quality Part 2. Guide to the use
12.04.2023 - PDF - Englisch - BSI
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BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
05.04.2023 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
DIN EN IEC 63041-1:2023-02
Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (IEC 63041-1:2021), German version EN IEC 63041-1:2021.
01.02.2023 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu115,33 € -
23/30468947 DC:2023
BS EN 62276. Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
30.01.2023 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu24,00 € -
BS EN IEC 62604-1:2022 + Redline
Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
23.01.2023 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu382,00 € -
BS EN IEC 62604-2:2022 + Redline
Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
01.12.2022 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu382,00 € -
BS EN IEC 62604-1:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
11.11.2022 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu293,00 € -
BS EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
31.10.2022 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu293,00 € -
UNE-EN IEC 62604-1:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2022.)
12.10.2022 - PDF - Englisch - AENOR
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UNE-EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2022.)
12.10.2022 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu72,00 € -
NF EN IEC 62604-2, C93-604-2 (10/2022)
Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2 : Lignes directrices d'utilisation
01.10.2022 - Paper - Französisch - AFNOR
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IEC 62604-2:2022
IEC 62604-2:2022 Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
01.09.2022 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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NF EN IEC 62604-1, C93-604-1 (09/2022)
Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1 : Spécification générique
01.09.2022 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu116,33 € -
IEC 62604-2:2022 + Redline
IEC 62604-2:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
01.09.2022 - PDF - Englisch - IEC
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IEC 62604-1:2022
IEC 62604-1:2022 Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
11.07.2022 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
IEC 62604-1:2022 + Redline
IEC 62604-1:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
11.07.2022 - PDF - Englisch - IEC
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BS EN IEC 60444-6:2021 + Redline
Tracked Changes. Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
18.05.2022 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu326,00 € -
BS EN IEC 63041-1:2021 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric sensors Generic specifications
08.02.2022 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu382,00 € -
UNE-EN IEC 63041-1:2021
Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2021.)
01.12.2021 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu75,00 € -
293,00 €
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BS EN IEC 60444-6:2021
Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
05.11.2021 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
UNE-EN IEC 60444-6:2021
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2021.)
01.11.2021 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu70,00 € -
NF EN IEC 60444-6, C93-621-6 (10/2021)
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6 : measurement of drive level dependence (DLD)
01.10.2021 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,33 € -
NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (10/2021)
Capteurs piézoélectriques - Partie 1 : spécifications génériques
01.10.2021 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu116,33 € -
IEC 63041-1:2021
IEC 63041-1:2021 Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
17.09.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu219,00 € -
IEC 63041-1:2021 + Redline
IEC 63041-1:2021 (Redline version) Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
17.09.2021 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu284,00 € -
IEC 60444-6:2021
IEC 60444-6:2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
01.09.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
IEC 60444-6:2021 + Redline
IEC 60444-6:2021 (Redline version) Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
01.09.2021 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu224,00 € -
IEC 60050-561:2014/AMD4:2021
IEC 60050-561:2014/AMD4:2021 Amendment 4 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
09.08.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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DIN EN IEC 63155:2021-07
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (IEC 63155:2020), German version EN IEC 63155:2020
01.07.2021 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu99,35 € -
DIN EN IEC 63041-3:2021-07
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (IEC 63041-3:2020), German version EN IEC 63041-3:2020
01.07.2021 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu85,79 € -
DIN EN IEC 62604-2:2021-06
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (IEC 49/1353/CD:2020), Text in English
01.06.2021 - PDF - Englisch - DIN
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IEC 60050-561:2014/AMD3:2021
IEC 60050-561:2014/AMD3:2021 Amendment 3 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
29.03.2021 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu12,00 € -
PD IEC TS 61994-3:2021
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary oscillators
09.02.2021 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
IEC TS 61994-3:2021
IEC TS 61994-3:2021 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 3: Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators
28.01.2021 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
UNE-EN IEC 61837-2:2018/A1:2020
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2021.)
01.01.2021 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu72,00 € -
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines terminal lead connections Ceramic enclosures
13.11.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu398,00 € -
NF EN IEC 61837-2/A1, C93-628-2/A1 (11/2020)
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2 : ceramic enclosures - Amendement 1 - Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2 : enveloppes en céramique.
01.11.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,33 € -
UNE-EN IEC 63041-3:2020
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)
01.11.2020 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu64,00 € -
180,00 €
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IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Consolidated version) Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24.09.2020 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu794,00 € -
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Consolidated version) Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24.09.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu794,00 € -
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24.09.2020 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24.09.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
NF EN IEC 63041-3, C93-041-3 (09/2020)
Piezoelectric sensors - Part 3 : physical sensors
01.09.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
IEC 63041-3:2020
IEC 63041-3:2020 Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors
12.08.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
UNE-EN IEC 63155:2020
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2020.)
01.07.2020 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu69,00 € -
BS EN IEC 63155:2020
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
25.06.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
NF EN IEC 63155, C93-155 (06/2020)
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
01.06.2020 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,33 € -
IEC 60050-561:2014/AMD2:2020
IEC 60050-561:2014/AMD2:2020 Amendment 2 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
27.05.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu12,00 € -
IEC 62047-37:2020
IEC 62047-37:2020 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
28.04.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
IEC 63155:2020
IEC 63155:2020 Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
24.04.2020 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
PD IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
27.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu197,00 € -
PD IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
27.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu235,00 € -
BS EN 60758:2016 + Redline
Tracked Changes. Synthetic quartz crystal. Specifications and guidelines for use
26.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu454,00 € -
BS EN 60793-1-33:2017 + Redline
Tracked Changes. Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
25.02.2020 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu432,00 € -
DIN EN IEC 62884-4:2020-02
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4: Short-term frequency stability test methods (IEC 62884-4:2019), German version EN IEC 62884-4:2019
01.02.2020 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu104,95 € -
DIN EN IEC 60122-4:2019-10
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019), German version EN IEC 60122-4:2019
01.10.2019 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu92,62 € -
UNE-EN IEC 62884-4:2019
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2019.)
01.08.2019 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu69,00 € -
PD IEC TS 61994-5:2019
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric sensors
17.07.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu151,00 € -
BS EN IEC 62884-4:2019
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Short-term frequency stability test methods
15.07.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
NF EN IEC 62884-4, C93-684-4 (07/2019)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : short-term frequency stability test methods
01.07.2019 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
IEC 62884-4:2019
IEC 62884-4:2019 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods
06.05.2019 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
UNE-EN IEC 60122-4:2019
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2019.)
01.05.2019 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu64,00 € -
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
24.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
BS IEC 62047-33:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
18.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
16.04.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
IEC 62047-33:2019
IEC 62047-33:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
IEC 62047-34:2019
IEC 62047-34:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
IEC 62047-36:2019
IEC 62047-36:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
05.04.2019 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
BS EN IEC 60122-4:2019
Quartz crystal units of assessed quality Crystal with thermistors
28.03.2019 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
NF EN IEC 60122-4, C93-618-4 (03/2019)
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4 : crystal units with thermistors
01.03.2019 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
IEC 60122-4:2019
IEC 60122-4:2019 Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors
24.01.2019 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
18/30383935 DC:2018
BS EN IEC 62047-37. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 37. Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
04.12.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu24,00 € -
PD IEC TS 61994-4-1:2018
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
22.11.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu151,00 € -
PD IEC TS 61994-4-4:2018
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
22.11.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
IEC TS 61994-4-4:2018
IEC TS 61994-4-4:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
IEC TS 61994-4-1:2018
IEC TS 61994-4-1:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu46,00 € -
IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline
IEC TS 61994-4-1:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu60,00 € -
IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline
IEC TS 61994-4-4:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
16.11.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu120,00 € -
DIN EN IEC 62884-3:2018-10
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 3: Prüfverfahren für die Frequenzalterung (IEC 62884-3:2018), Deutsche Fassung EN IEC 62884-3:2018
01.10.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu85,79 € -
DIN EN 60122-1:2018-08
Schwingquarze mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60122-1:2002 + A1:2017), Deutsche Fassung EN 60122-1:2002 + A1:2018 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60122-1 (2003-06) noch bis 2021-01-12.
01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu136,82 € -
DIN EN IEC 63041-2:2018-08
Piezoelektrische Sensoren - Teil 2: Chemische und biochemische Sensoren (IEC 63041-2:2017), Deutsche Fassung EN IEC 63041-2:2018
01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu92,62 € -
DIN EN IEC 62604-2:2018-08
Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen-(BAW-)Duplexer mit bewerteter Qualität - Teil 2: Leitfaden für die Anwendung (IEC 62604-2:2017), Deutsche Fassung EN IEC 62604-2:2018 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62604-2 (2012-08) noch bis 2021-01-03.
01.08.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu104,95 € -
UNE-EN IEC 61837-2:2018
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2018.)
01.08.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu137,00 € -
NF EN IEC 61837-2, C93-628-2 (07/2018)
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2 : ceramic enclosures
01.07.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu197,00 € -
NF EN 60758, C93-632 (06/2018)
Synthetischer Quarzkristall - Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung
01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu148,69 € -
NF EN 62276, C93-616 (06/2018)
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu123,39 € -
NF EN 61240, C93-614 (06/2018)
Piezoelektrische Bauelemente - Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion - Allgemeine Regeln
01.06.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu85,42 € -
UNE-EN IEC 62884-3:2018
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators – Part 3: Frequency aging test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2018.)
01.06.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu64,00 € -
BS EN IEC 62884-3:2018
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Prüfverfahren für die Frequenzalterung
30.05.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
BS EN 60122-1:2002+A1:2018
Quartz crystal units of assessed quality Generic specification
21.05.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu331,00 € -
IEC 61837-2:2018
IEC 61837-2:2018 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
08.05.2018 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu431,00 € -
IEC 61837-2:2018
IEC 61837-2:2018 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
08.05.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu431,00 € -
DIN EN 62884-2:2018-05
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 2: Messverfahren für Phasenjitter (IEC 62884-2:2017), Deutsche Fassung EN 62884-2:2017
01.05.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu104,95 € -
UNE-EN 60122-1:2002/A1:2018
Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)
01.05.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu60,00 € -
DIN EN 60679-1:2018-04
Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2017), Deutsche Fassung EN 60679-1:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60679-1 (2008-02) noch bis 2020-08-30.
01.04.2018 - PDF - Deutsche - DIN
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UNE-EN IEC 62604-2:2018
Surface Acoustic Wave (SAW) and Bulk Acoustic Wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu71,00 € -
UNE-EN IEC 63041-1:2018
Piezoelectric Sensors - Part 1: Generic Specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu71,00 € -
UNE-EN IEC 63041-2:2018
Piezoelectric Sensors - Part 2: Chemical and Biochemical Sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01.04.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu65,00 € -
IEC 62884-3:2018
IEC 62884-3:2018 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
22.03.2018 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
IEC 62884-3:2018
IEC 62884-3:2018 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
22.03.2018 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
BS EN IEC 63041-2:2018
Piezoelektrische Sensoren Chemische und biochemische Sensoren
21.03.2018 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
NF EN 60122-1/A1, C93-618-1/A1 (03/2018)
Quartz crystal units of assessed quality - Part 1 : generic specification
01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
NF EN IEC 62604-2, C93-604-2 (03/2018)
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2 : guidelines for the use
01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,33 € -
NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (03/2018)
Piezoelectric Sensors - Part 1 : generic specifications
01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,33 € -
NF EN IEC 63041-2, C93-041-2 (03/2018)
Piezoelectric Sensors - Part 2 : chemical and biochemical Sensors
01.03.2018 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
DIN EN 62884-1:2018-02
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 1: Grundlegende Messverfahren (IEC 62884-1:2017), Deutsche Fassung EN 62884-1:2017
01.02.2018 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu163,74 € -
UNE-EN 62884-2:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2018.)
01.01.2018 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu69,00 € -
BS EN 60679-1:2017
Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität Fachgrundspezifikation
13.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu293,00 € -
IEC 63041-2:2017
IEC 63041-2:2017 Piezoelectric sensors - Part 2: Chemical and biochemical sensors
13.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
IEC 63041-2:2017
IEC 63041-2:2017 Piezoelectric sensors - Part 2: Chemical and biochemical sensors
13.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
BS EN 62884-2:2017
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Messverfahren für Phasenjitter
08.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Consolidated version) Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu385,00 € -
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Consolidated version) Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu385,00 € -
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08.12.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu46,00 € -
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08.12.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu46,00 € -
BS EN 60793-1-33:2017
Lichtwellenleiter Messmethoden und Prüfverfahren. Spannungskorrosionsempfindlichkeit
07.12.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu331,00 € -
NF EN 62884-2, C93-684-2 (12/2017)
Measurement techniques of piezoelectric, dieletric and electrostatic oscillators - Part 2 : phase jitter measurement method - Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : méthode de mesure des gigues de phase
01.12.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu103,00 € -
UNE-EN 60679-1:2017
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2017.)
01.12.2017 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu75,00 € -
DIN EN 60444-8:2017-11
Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8: Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze (IEC 60444-8:2016), Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60444-8 (2004-03) noch bis 2020-01-19.
01.11.2017 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu92,62 € -
NF EN 60679-1, C93-620-1 (11/2017)
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1 : generic specification
01.11.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu127,67 € -
UNE-EN 62884-1:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2017.)
01.11.2017 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu98,00 € -
50,18 €
-
BS IEC 62047-30:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics MEMS piezoelectric thin film
09.10.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
BS EN 62884-1:2017
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Grundlegende Messverfahren
04.10.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu348,00 € -
IEC 62047-30:2017
IEC 62047-30:2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
15.09.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
NF EN 60444-8, C93-621-8 (09/2017)
Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8 : Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze
01.09.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu88,33 € -
NF EN 62884-1, C93-684-1 (09/2017)
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1 : basic methods for the measurement
01.09.2017 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu170,00 € -
IEC 62884-2:2017
IEC 62884-2:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
30.08.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
IEC 62884-2:2017
IEC 62884-2:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
30.08.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu173,00 € -
DIN EN 61240:2017-08
Piezoelektrische Bauelemente - Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion - Allgemeine Regeln (IEC 61240:2016), Deutsche Fassung EN 61240:2017 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 61240 (2013-05) noch bis 2019-11-28.
01.08.2017 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu92,62 € -
DIN EN 62276:2017-08
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2016), Deutsche Fassung EN 62276:2016 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62276 (2013-08) noch bis 2019-11-28.
01.08.2017 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu136,82 € -
IEC 60679-1:2017
IEC 60679-1:2017 Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
26.07.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
IEC 60679-1:2017
IEC 60679-1:2017 Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
26.07.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
IEC 62884-1:2017
IEC 62884-1:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
08.06.2017 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu397,00 € -
IEC 62884-1:2017
IEC 62884-1:2017 Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
08.06.2017 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu397,00 € -
BS EN 60444-8:2017
Messung von Schwingquarz-Parametern Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze
26.05.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
UNE-EN 60444-8:2017
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2017.)
01.05.2017 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu62,00 € -
DIN EN 60758:2017-04
Synthetischer Quarzkristall - Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung (IEC 60758:2016), Deutsche Fassung EN 60758:2016 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60758 (2009-05) noch bis 2019-10-07.
01.04.2017 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu158,04 € -
UNE-EN 61240:2017
Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2017.)
01.03.2017 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu68,00 € -
BS EN 61240:2017
Piezoelektrische Bauelemente. Anfertigung von Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion. Allgemeine Regeln
31.01.2017 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
UNE-EN 62276:2016
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2017.)
01.01.2017 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu76,00 € -
BS EN 62276:2016
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente. Festlegungen und Messverfahren
31.12.2016 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu331,00 € -
IEC 60050-561:2014/AMD1:2016
IEC 60050-561:2014/AMD1:2016 Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
16.12.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu12,00 € -
IEC 60444-8:2016
IEC 60444-8:2016 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
15.12.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
IEC 60444-8:2016
IEC 60444-8:2016 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
15.12.2016 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu92,00 € -
UNE-EN 60758:2016
Synthetic Quartz Crystal - Specifications and guidelines for use (Endorsed by AENOR in November of 2016.)
01.11.2016 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu98,00 € -
IEC 62276:2016
IEC 62276:2016 Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
24.10.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
IEC 61240:2016
IEC 61240:2016 Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules
24.10.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
IEC 62276:2016
IEC 62276:2016 Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
24.10.2016 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
IEC 61240:2016
IEC 61240:2016 Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules
24.10.2016 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
BS EN 60758:2016
Synthetischer Quarzkristall. Festlegungen und Leitfaden für die Anwendung
30.09.2016 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu348,00 € -
DIN EN 62575-1:2016-09
Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen, mit bewerteter Qualität (HFBAW-Filter) - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 62575-1:2015), Deutsche Fassung EN 62575-1:2016
01.09.2016 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu120,84 € -
IEC 60758:2016
IEC 60758:2016 Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use
18.05.2016 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu345,00 € -
IEC 60758:2016
IEC 60758:2016 Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use
18.05.2016 - PDF - Englisch - IEC
mehr dazu345,00 € -
DIN EN 61338-1-5:2016-04
Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-5: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Messverfahren für die Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger im Mikrowellen-Frequenzbereich (IEC 61338-1-5:2015), Deutsche Fassung EN 61338-1-5:2015
01.04.2016 - PDF - Deutsche - DIN
mehr dazu99,35 € -
UNE-EN 62575-1:2016
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in April of 2016.)
01.04.2016 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu75,00 € -
BS EN 62575-1:2016
Volumenwellen-(BAW-)Filter mit bewerteter Qualität für Hochfrequenz-(HF-)Anwendungen. Fachgrundspezifikation
31.03.2016 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu293,00 € -
NF EN 61837-3, C93-628-3 (01/2016)
Oberfläschenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -Selektion - Norm-Gehäusemasse und Anschlüsse - Teil 3 : Metallgehäuse
01.01.2016 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu96,59 € -
UNE-EN 60862-1:2015
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
01.01.2016 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu81,00 € -
UNE-EN 61837-3:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 3: Metal enclosures (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
01.01.2016 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu66,00 € -
BS EN 61837-3:2015
Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion. Norm- Gehäusemaße und Anschlüsse. Metallgehäuse
31.12.2015 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
BS EN 60862-1:2015
Oberflächenwellenfilter (OFW-Filter) mit bewerteter Qualität. Fachgrundspezifikation
30.11.2015 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu348,00 € -
IEC 62575-1:2015
IEC 62575-1:2015 Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification
29.10.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu270,00 € -
UNE-EN 61338-1-5:2015
Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
01.10.2015 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu66,00 € -
UNE-EN 62604-1:2015
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
01.10.2015 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu72,00 € -
BS EN 61338-1-5:2015
Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp. Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen. Messverfahren für die Leitfähigkeit an der Grenzfläche zwischen Leiterschicht und dielektrischem Träger im Mikrowellen-Frequenzbereich
30.09.2015 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu250,00 € -
IEC 60862-1:2015
IEC 60862-1:2015 Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification
20.08.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu311,00 € -
NF EN 61837-4, C93-628-4 (08/2015)
Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion - Norm-Gehäusemasse und Anschlüsse - Teil 4 : Hybridgehäuse
01.08.2015 - Paper - Französisch - AFNOR
mehr dazu82,53 € -
IEC 61338-1-5:2015
IEC 61338-1-5:2015 Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency
25.06.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
mehr dazu132,00 € -
UNE-EN 61837-4:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 4: Hybrid enclosure outlines (Endorsed by AENOR in June of 2015.)
01.06.2015 - PDF - Englisch - AENOR
mehr dazu59,00 € -
BS EN 61837-4:2015
Oberflächenmontierbare piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion. Norm-Gehäusemaße und Anschlüsse. Hybridgehäuse
31.05.2015 - PDF - Englisch - BSI
mehr dazu180,00 € -
IEC 61837-3:2015
IEC 61837-3:2015 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 3: Metal enclosures
15.04.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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IEC 61837-4:2015
IEC 61837-4:2015 Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 4: Hybrid enclosure outlines
27.03.2015 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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DIN EN 62761:2014-12
Leitfaden zum Messverfahren für die Nichtlinearität von Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen-(BAW-)Bauelementen für Hochfrequenzanwendungen (IEC 62761:2014), Deutsche Fassung EN 62761:2014
01.12.2014 - PDF - Deutsche - DIN
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IEC 60050-561:2014
IEC 60050-561:2014 International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
07.11.2014 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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UNE-EN 62761:2014
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) (Endorsed by AENOR in July of 2014.)
01.07.2014 - PDF - Englisch - AENOR
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BS EN 62761:2014
Leitfaden zum Messverfahren für die Nichtlinearität von Oberflächenwellen-(OFW-) und Volumenwellen- (BAW-)Bauelementen für Hochfrequenzanwendungen
30.06.2014 - PDF - Englisch - BSI
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JIS C 6760:2014
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
20.06.2014 - PDF - Japanisch - JSA
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NF EN 60444-9, C93-621-9 (05/2014)
Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 9 : Messung der Nebenresonanzen von Schwingpuarzen
01.05.2014 - Paper - Französisch - AFNOR
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IEC 62761:2014
IEC 62761:2014 Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
19.02.2014 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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DIN EN 60679-3:2014-01
Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 3: Norm-Gehäusemaße und Anschlussdrähte (IEC 60679-3:2012), Deutsche Fassung EN 60679-3:2013 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60679-3 (2002-07) noch bis 2016-01-18.
01.01.2014 - PDF - Deutsche - DIN
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UNE-EN 60444-6:2013
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
01.11.2013 - PDF - Englisch - AENOR
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BS EN 60444-6:2013
Messung von Schwingquarz-Parametern. Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD)
31.10.2013 - PDF - Englisch - BSI
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UNE-EN 60679-3:2013
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections (Endorsed by AENOR in August of 2013.)
01.08.2013 - PDF - Englisch - AENOR
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BS EN 60679-3:2013
Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität. Norm-Gehäusemaße und Anschlussdrähte
31.07.2013 - PDF - Englisch - BSI
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IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 Edition 4.1
IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 (Consolidated version) Piezoelectric filters of assessed quality - Part 1: Genericspecification
28.05.2013 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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DIN EN 62575-2:2013-05
Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen (HFBAW-Filter) - Teil 2: Leitfaden für die Anwendung (IEC 62575-2:2012), Deutsche Fassung EN 62575-2:2012
01.05.2013 - PDF - Deutsche - DIN
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IEC 60679-3:2012
IEC 60679-3:2012 Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
14.12.2012 - PDF - Englisch, Französisch - IEC
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UNE-EN 62575-2:2012
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by AENOR in November of 2012.)
01.11.2012 - PDF - Englisch - AENOR
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BS EN 62575-2:2012
Volumenwellenfilter für Hochfrequenzanwendungen (HFBAW-Filter). Leitfaden für die Anwendung
31.10.2012 - PDF - Englisch - BSI
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12/30274095 DC:2012
BS EN 60679-1 AMD1. Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 1. Generic specification
26.10.2012 - PDF - Englisch - BSI
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UNE-EN 61837-1:2012
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 1: Plastic moulded enclosure outlines (Endorsed by AENOR in October of 2012.)
01.10.2012 - PDF - Englisch - AENOR
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