31.080 : Halbleiterbauelemente
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Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators (IEC 60747-16-7:2022), German version EN IEC 60747-16-7:2023
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2770/CDV:2022), German and English version prEN IEC 60749-5:2022
01.04.2024 - PDF - Englisch, Deutsch -
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Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters (IEC 60747-16-8:2022), German version EN IEC 60747-16-8:2023
01.04.2024 - PDF - Deutsche -
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29.03.2024 - PDF - Englisch -
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22.03.2024 - PDF - Englisch -
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22.02.2024 - PDF - Englisch -
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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life
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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life
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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
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IEC 60747-5-16:2023 Semiconductor devices - Part 5-16: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy
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12.10.2022 - PDF - Englisch -
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IEC 60749-37:2022 (Redline version) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
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Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1 : Modèle de spécification relatif aux valeurs et caractéristiques essentielles
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22.09.2022 - PDF - Englisch, Französisch -
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Environmental Test Methods for Semiconductor Devices Part 1: Test Methods 1000 Through 1999
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IEC 60749-28:2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
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