ESD Association Technical Report For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Latch-Up Sensitivity Testing of CMOS/BiCMOS Integrated Circuits, Transient Latch-up Testing - Component Level, Supply Transient Stimulation

19,00 €

Name	Unterstützung	Language	Verfügbarkeit	Datum der Ausstellung	Preis
ESD TR5.4-03-11:2011	PDF	Englisch	gültig	01.01.2011	19,00 €

Details

The information and procedures defined in this technical report may be used to search for latch-up sensitive layouts within integrated circuits. The stress levels and stimuli parameter values defined may be used for a wide range of devices. Levels and values can be scaled up or down to suit the requirements of the actual device under test and types of transient stimuli being used.

Zusätzliche Information

Autor	EOS/ESD Association, Inc.
Veröffentlicht von	ESD
Document type	Report
Seitenzahl	36
Ersetzt	ESD SP5.4-2008
Schlagwort	ESD TR5.4-03-11
ANSI Approved

NORMADOC - Ihre Einkaufszentrum Für Standards, Vorschriften & Bücher Technischen Rechtlichen

Nützliche Informationen

Kundendienst

To top