| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais |
Active |
09/08/2011 |
64,00 € |
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Détails
ANSI X9.100-30-2011 (R2017) is the specification of the optical measurement methodology for the parameters of reflectance, PCS, DCR, Paxel Count, and opacity which are needed for MICR documents.
Informations supplémentaires
| Auteur | Accredited Standards Committee X9 Incorporated |
|---|---|
| Edité par | X9 |
| Type de document | Norme |
| Thème | /subgroups/21440 |
| Date de confirmation | 2017-01-01 |
| Nombre de pages | 35 |
| Mot-clé | X9 X9.100-30-2011 (R2017) |
| ANSI Approved |
