SEMI
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SEMI T5-1022
Specification for Alphanumeric Marking of Round Compound Semiconductor Wafers
01/10/2022 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI F57-0622
SEMI F57 - Specification for High Purity Polymer Materials and Components Used in Ultrapure Water and Liquid Chemical Distribution Systems
01/06/2022 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E79-0422
Standard for Definition and Measurement of Equipment Productivity
01/04/2022 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI S23-1021E
Guide for Conservation of Energy, Utilities and Materials Used by Semiconductor Manufacturing Equipment
01/10/2021 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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360,00 €
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SEMI F40-0621
SEMI F40 - Practice for Preparing Liquid Chemical Distribution Components and Neat Polymers for Chemical Testing
01/06/2021 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E10-0221
Specification for Definition and Measurement of Equipment Reliability, Availability, and Maintainability (RAM) and Utilization
01/02/2021 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M83-0820
SEMI M83 - Test Method for Determination of Dislocation Etch Pit Density in Monocrystals of III-V Compound Semiconductors
01/08/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D72-0520
Test Method for Color Properties of Electronic Paper Displays
01/05/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E170-0520
Specification for Secured Foundation Of Recipe Management System (SFORMS)
01/05/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E30-0520
Specification for the Generic Model for Communications and Control of Manufacturing Equipment (GEM)
01/05/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E54.23-0520
Specification for Sensor/Actuator Network Communications for CC-LINK® IE
01/05/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI F104-0520
Test Method for Evaluation of Particle Contribution of Components Used in Ultrapure Water and Liquid Chemical Distribution Systems
01/05/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus195,50 € -
SEMI PV94-0420
Guide for Identifying Cell Defects In Crystalline Silicon Photovoltaic (PV) Modules By Electroluminescence (EL) Imaging
01/04/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI T23-0420
Specification for Single Device Traceability for the Supply Chain
01/04/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C99-0320
Test Method for Determining Conductivity of Chemical Mechanical Polish (CMP) Slurries and Related Chemicals
01/03/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E172-0320
Specification for SECS Equipment Data Dictionary (SEDD)
01/03/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E179-0320
Specification for Protocol Buffers Common Components
01/03/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI F70-0320
Test Method for Determination of Particle Contribution of Gas Delivery System
01/03/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E5-0220
Specification for SEMI Equipment Communications Standard 2 Message Content (SECS-II)
01/02/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI F114-0220
Test Method for the Determination of Organic Contaminants Present on Wetted Surfaces of Ultra High Purity Chemical Delivery Systems and Components
01/02/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI F115-0220
Test Method for the Determination of Metallic Elements Present on Wetted Surfaces of Ultra High Purity Chemical Delivery Systems and Components
01/02/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M53-0220
Practice for Calibrating Scanning Surface Inspection Systems Using Certified Depositions of Monodispere Reference Spheres on Unpatterned Semiconductor Wafer Surfaces
01/02/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI MS12-0220
Specification for Silicon Substrates Used in Fabrication of MEMS Devices
01/02/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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204,00 €
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SEMI F53-0120
Test Method for Evaluating the Electromagnetic Susceptibility of Thermal Mass Flow Controllers
01/01/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M71-0120
Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI
01/01/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M85-0120
Guide for the Measurement of Trace Metal Contamination on Silicon Wafer Surface by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
01/01/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV92-0120
Test Method for Extension of Flexible Thin Film Photovoltaic (PV) Modules
01/01/2020 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI 3D22-1219
Guide on Measurements of Openings and Vias in Glass
01/12/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C98-1219
Guide for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Particle Size Distribution (PSD) Measurement and Reporting Used in Semiconductor Manufacturing
01/12/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E180-1219
Test Method for Measuring Surface Metal Contamination Through ICP-MS of Critical Chamber Components Used in Semiconductor Wafer Processing
01/12/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI HB12-1219
Specification for Dry-Etched Patterned Sapphire Substrates (DPSS)
01/12/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI HB13-1219
Specification of Susceptors for HB-LED MOCVD Equipment Communication Interface
01/12/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI S10-1119
Safety Guideline for Risk Assessment and Risk Evaluation Process
01/11/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI 3D21-1019
Guide for Describing Glass-Based Material for Use in 3DS-IC Process
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI A1-1019
Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI A2-1019
Specification for Surface Mount Assembler Smart Hookup (SMASH)
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D45-1019
Test Method for Resistance of Resin Black Matrix with High Resistance for FPD Color Filter
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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204,00 €
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SEMI E54.12-1019
Specification for Sensor/Actuator Network Communications for CC-Link
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E54.21-1019
Specification for Sensor Actuator Network for Motionnet Communication
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV91-1019
Specification for Trichlorosilane Used in Polysilicon Production
01/10/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E177-0919
Specification for Transmission Electron Microscope (TEM) Lamella Carriers Used in Electron Microscopy Workflows
01/09/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI A3-0819
Specification for Printed Circuit Board Equipment Communication Interfaces (PCBECI)
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C3.32-0819
Specification for Chlorine (Cl2), 99.996% Quality
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C3.37-0819
Specification for Hexafluoroethane (C2F6), 99.97% Quality
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C79-0819
Guide to Evaluate the Efficacy of Sub-15 nm Filters Used in Ultrapure Water (UPW) Distribution Systems
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D67-0819
Test Method for Antifouling Property and Chemical Resistance of FPD Polarizing Films and Its Materials
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E154-0819
Specification for Mechanical Features of 450 mm Load Port
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E158-0819
Specification for Mechanical Features of Fab Wafer Carrier Used to Transport and Store 450 mm Wafers (450 FOUP) and Kinematic Coupling
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E159-0819
Specification for Mechanical Features of Multi Application Carrier (MAC) Used to Transport and Ship 450 mm Wafers
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E174-0819
Specification for Wafer Job Management (WJM)
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E37-0819
Specification for High-Speed SECS Message Services (HSMS) Generic Services
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI HB11-0819
Specification for Sapphire Single Crystal Ingot Intended for Use for Manufacturing HB-LED Wafers
01/08/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI 3D20-0719
Specification for Panel Characteristics for Panel Level Packaging (PLP) Applications
01/07/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D65-0719
Test Method for Measurement for the Color Breakup of Field Sequential Color Display
01/07/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D68-0719
Test Method for Optical Properties of Electronic Paper Displays
01/07/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI S30-0719
Safety Guideline for Use of Energetic Materials in Semiconductor R&D and Manufacturing Processes
01/07/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI 3D19-0619
Test Method for Adhesive Strength of Adhesive Tray Used for Thin Chip Handling
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI 3D6-0619
Guide for CMP and Micro-Bump Processes for Frontside Through Silicon Via (TSV) Integration
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D62-0619
Test Method for Measurement of LED Light Bar for Liquid Crystal Displays
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E152-0619
Specification for Mechanical Features of EUV Pod for 150 mm EUVL Reticles
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E87-0619
Specification for Carrier Management (CMS)
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI G83-0619
Specification for Bar Code Marking of Product Packages
01/06/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI 3D1-0519
Terminology for Through Silicon via Geometrical Metrology
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D29-0519
Test Method for Heat Resistance in Flat Panel Display (FPD) Color Filters
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI D30-0519
Test Method for Light Resistance in Flat Panel Display (FPD) Color Filters
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI D56-0519
Test Method for Measurement for Ambient Contrast of Liquid Crystal Displays
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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204,00 €
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SEMI G11-0519
Practice for RAM Follower Gel Time and Spiral Flow of Thermal Setting Molding Compounds
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI G29-0519
Test Method for Trace Contaminants in Molding Compounds
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI G43-0519
Test Method for Junction-to-Case Thermal Resistance Measurements of Molded Plastic Packages
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI G45-0519
Practice for Flash Characteristics of Thermosetting Molding Compounds
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI G55-0519
Test Method for Measurement of Silver Plating Brightness
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI G73-0519
Test Method for Pull Strength for Wire Bonding
01/05/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E132-0419
Specification for Equipment Client Authentication and Authorization
01/04/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E49-0419
Guide for High Purity and Ultrahigh Purity Piping Performance, Subassemblies, and Final Assemblies
01/04/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI E134-0319
Specification for Data Collection Management
01/03/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M54-0319
Guide for Semi-Insulating (SI) GaAs Material Parameters
01/03/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI PV90-0319
Guide for Material Requirements of Internal Feeders Used in Monocrystal Silicon Growers
01/03/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI S17-0319
Safety Guideline for Unmanned Transport Vehicle (UTV) Systems
01/03/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI S25-0319
Safety Guideline for Hydrogen Peroxide Storage & Handling Systems
01/03/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV89-0219
Test Method of Current-Voltage (I-V) Measurement in Indoor Lighting for Dye-Sensitized Solar Cell and Organic Photovoltaic
01/02/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M88-0119
Practice for Sample Preparation Methods for Measuring Minority Carrier Diffusion Length in Silicon Wafers by Surface Photovoltage Methods
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI M1-0918
Specifications for Polished Monocrystalline Silicon Wafers
01/09/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus385,25 € -
SEMI S2-0818EA
Environmental, Health, and Safety Guideline for Semiconductor Manufacturing Equipment
01/08/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI S22-0718E
Safety Guideline for the Electrical Design of Semiconductor Manufacturing Equipment
01/07/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI E35-0618
Guide to Calculate Cost of Ownership (COO) Metrics for Semiconductor Manufacturing Equipment
01/06/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI S6-0618
Environmental, Health, and Safety Guideline for Exhaust Ventilation of Semiconductor Manufacturing Equipment
01/06/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI E4-0418
Specification for SEMI Equipment Communications Standard 1 Message Transfer (SECS-I)
01/04/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI G38-0318
Test Method for Still- and Forced-Air Junction-to-Ambient Thermal Resistance Measurements of Integrated Circuit Packages
01/03/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI M10-0218
SEMI M10 - Terminology for Identification of Structures and Features Seen on Gallium Arsenide Wafers
01/02/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus195,50 € -
SEMI M79-0218
Specification for Round 100 mm Polished Monocrystalline Germanium Wafers for Solar Cell Applications
01/02/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI MF1390-0218
SEMI MF1390 - Test Method for Measuring Bow and Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
01/02/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI S8-0218
Safety Guideline for Ergonomics Engineering of Semiconductor Manufacturing Equipment
01/02/2018 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI PV22-0817
Specification for Silicon Wafers for Use in Photovoltaic Solar Cells
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI MF1982-0317
Test Methods for Analyzing Organic Contaminants on Silicon Wafer Surfaces by Thermal Desorption Gas Chromatography
01/03/2017 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E72-1016
Specification and Guide for Equipment Footprint, Height, and Weight
01/10/2016 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI M65-0816
Specification for Sapphire Substrates to use for Compound Semiconductor Epitaxial Wafers
01/08/2016 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI MF42-0316
Test Method for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials
01/03/2016 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI MF43-0316
Test Method for Resistivity of Semiconductor Materials
01/03/2016 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI C69-1015 (Reapproved 12/20) (R2020)
Test Method for the Determination of Surface Areas of Polymer Pellets
01/10/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus195,50 € -
SEMI S1-1015
Safety Guideline for Equipment Safety Labels
01/10/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI F19-0815
Specification for the Surface Condition of the Wetted Surfaces of Stainless Steel Components
01/08/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI G92-0315
Specification for Tape Frame Cassette for 450 mm Wafer
01/03/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus360,00 € -
SEMI M20-0215
Practice for Establishing a Wafer Coordinate System
01/02/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI 3D11-1214 (Reapproved 04/20) (R2020)
Terminology for Through Glass Via and Blind Via in Glass Geometrical Metrology
01/12/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI M35-1114 (Reapproved 10/19) (R2019)
Guide for Developing Specifications for Silicon Wafer Surface Features Detected by Automated Inspection
01/11/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI G96-1014 ( Reapproved 10/19) (R2019)
Test Method for Measurement of Chip (Die) Strength by Mean of Cantilever Bending
01/10/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI 3D9-0914 (Reapproved 04/20) (R2020)
Guide for Describing Materials Properties for a 300 mm 3DS-IC Wafer Stack
01/09/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E54.18-0914 (Reapproved 04/20) (R2020)
Specification for Sensor/Actuator Network Specific Device Model for Vacuum Pump Device
01/09/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E54.22-0914 (Reapproved 04/20) (R2020)
Specification for Sensor/Actuator Network Specific Device Model for Vacuum Pressure Gauges
01/09/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E6-0914
Guide for Semiconductor Equipment Installation Documentation
01/09/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI 3D10-0814 (Reapproved 04/20) (R2020)
Guide to Describing Materials Properties for Intermediate Wafers for Use in a 300 mm 3DS-IC Wafer Stack
01/08/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
204,00 €
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SEMI C3.20-0414 (Reapproved 03/19 E) (R2019)
Specification for Helium (He), in Cylinders, 99.9995%
01/04/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI C3.24-0414 (Reapproved 03/19 E) (R2019)
Specification for Sulfur Hexafluoride (SF6) in Cylinders, 99.97% Quality
01/04/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E120-0414 (Reapproved 05/19) (R2019)
Specification for the Common Equipment Model (CEM)
01/04/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
204,00 €
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SEMI E145-0414 (Reapproved 05/19) (R2019)
Classification for Measurement Unit Symbols in XML
01/04/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI D69-0314 (Reapproved 05/20) (R2020)
Test Method of FPD-Based Stereoscopic Display with Active Glasses
01/03/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI D70-0314 (Reapproved 05/20) (R2020)
Test Method of FPD-Based Stereoscopic Display with Passive Glasses
01/03/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
204,00 €
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SEMI PV42-0314 (Reapproved 03/20) (R2020)
Test Method for In-Line Measurement of Waviness of PV Silicon Wafers by a Light Sectioning Technique Using Multiple Line Segments
01/03/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI T21-0314 (Reapproved 09/19) (R2019)
Specification for Organization Identification by Digital Certificate Issued from Certificate Service Body (CSB) for Anti-Counterfeiting Traceability in Components Supply Chain
01/03/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
204,00 €
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204,00 €
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SEMI PV51-0214 (Reapproved 03/20) (R2020)
Test Method for In-Line Characterization of Photovoltaic Silicon Wafers by Using Photoluminescence
01/02/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV52-0214 (Reapproved 03/20) (R2020)
Test Method for In-Line Characterization of Photovoltaic Silicon Wafers Regarding Grain Size
01/02/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
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SEMI MS2-1113 (Reapproved 08/19) (R2019)
Test Method for Step Height Measurements of Thin Films
01/11/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI M73-1013E (Reapproved 10/19) (R2019)
Test Method for Extracting Relevant Characteristics from Measured Wafer Edge Profiles
01/10/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI HB4-0913
Specification of Communication Interfaces for High Brightness LED Manufacturing Equipment (HB-LED ECI)
01/09/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
En savoir plus204,00 € -
SEMI E43-0813 (Reapproved 10/19) (R2019)
Guide for Electrostatic Measurements on Objects and Surfaces
01/08/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI MS5-0813 (Reapproved 08/19) (R2019)
Test Method for Wafer Bond Strength Measurements Using Micro-Chevron Test Structures
01/08/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C82-0713 (Reapproved 08/19) (R2019)
Test Method for Particle Removal Performance of Liquid Filter Rated 20 to 50 nm With Liquid-Borne Particle Counter
01/07/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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Test Method for In-Line Measurement of Lateral Dimensional Characteristics of Square and Pseudo-Square PV Silicon Wafers
01/06/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV48-0613 (Reapproved 04/19) (R2019)
Specification for Orientation Fiducial Marks for PV Silicon Wafers
01/06/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI PV44-0513 (Reapproved 05/19) (R2019)
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01/05/2013 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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SEMI C34-0113 (Reapproved 02/19) (R2019)
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SEMI PV17-1012 (Reapproved 04/19) (R2019)
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SEMI MF1391 - Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption
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