Page 2 | JEDEC Normes américaines Normes

JEDEC JESD8-12A.01:2007

1.2 V +/- 0.1 V (NORMAL RANGE) AND 0.8 - 1.3 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
01/09/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD84-A42:2007

EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e*MMC) PRODUCT STANDARD, HIGH CAPACITY
01/07/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD84-B42:2007

MULTIMEDIACARD (MMC) ELECTRICAL STANDARD, HIGH CAPACITY (MMCA, 4.2)
01/07/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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223,00 €

JEDEC JESD84-A41:2007

EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e*MMC) PRODUCT STANDARD, STANDARD CAPACITY
01/07/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD84-B41:2007

MULTIMEDIACARD (MMC) ELECTRICAL STANDARD, STANDARD CAPACITY (MMCA, 4.1)
01/06/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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223,00 €

JEDEC JESD 82-26:2007

DEFINITION OF THE SSTUB32868 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR 2R x 4 DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JEP152:2007

DDR2 DIMM CLOCK SKEW MEASUREMENT PROCEDURE USING A CLOCK REFERENCE BOARD
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD82-19A:2007

DEFINITION OF THE SSTUA32S865 AND SSTUA32D865 28-BIT 1:2 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD 82-23:2007

DEFINITION OF the SSTUA32S869 AND SSTUA32D869 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD82-10A:2007

DEFINITION OF THE SSTU32866 1.8 V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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86,00 €

JEDEC JESD82-9B:2007

DEFINITION OF SSTU32865 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR 2R x 4 DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD8-3A:2007

ADDENDUM No. 3A to JESD8 - GUNNING TRANSCEIVER LOGIC (GTL) LOW-LEVEL, HIGH-SPEED INTERFACE STANDARD FOR DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD82-16A:2007

DEFINITION OF THE SSTUA32866 1.8 V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER WITH PARITY TEST FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/05/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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86,00 €

JEDEC JESD 82-12A:2007

DEFINITION OF THE SSTU32S869 & SSTU32D869 REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/04/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD207:2007

RADIO FRONT END - BASEBAND DIGITAL PARALLEL (RBDP) INTERFACE
01/03/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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81,00 €

JEDEC JESD205:2007

FBDIMM STANDARD: DDR2 SDRAM FULLY BUFFERED DIMM (FBDIMM) DESIGN SPECIFICATION
01/03/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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204,00 €

JEDEC JESD74A:2007 (R2019)

EARLY LIFE FAILURE RATE CALCULATION PROCEDURE FOR SEMICONDUCTOR COMPONENTS
01/02/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD82-21:2007

STANDARD FOR DEFINITION OF CUA845 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED DDR2 DIMM APPLICATIONS
01/01/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD51-2A:2007

INTEGRATED CIRCUITS THERMAL TEST METHOD ENVIRONMENTAL CONDITIONS - NATURAL CONVECTION (STILL AIR)
01/01/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD82-18A:2007

STANDARD FOR DEFINITION OF THE CUA877 AND CU2A877 PLL CLOCK DRIVERSFOR REGISTERED DDR2 DIMM APPLICATIONS
01/01/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

Addendum 1 to JESD96A - INTEROPERABILITY AND COMPLIANCE TECHNICAL REQUIREMENTS FOR JEDEC STANDARD JESD96A - RECOMMENDED PRACTICE FOR USE WITH IEEE 802.11N
01/01/2007 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD8-19:2006

POD18 - 1.8 V Pseudo Open Drain I/O
01/12/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD82-14A:2006

DEFINITION OF THE SSTUB32868 1.8 V CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER WITH PARITY FOR DDR2 RDIMM APPLICATIONS
01/10/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JEP121A:2006

REQUIREMENTS FOR MICROELECTRONIC SCREENING AND TEST OPTIMIZATION
01/10/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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81,00 €

JEDEC JESD89A:2006

MEASUREMENT AND REPORTING OF ALPHA PARTICLE AND TERRESTRIAL COSMIC RAY INDUCED SOFT ERRORS IN SEMICONDUCTOR DEVICES
01/10/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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151,00 €

JEDEC JEP179:2006

DDR2 SPD INTERPRETATION OF TEMPERATURE RANGE AND (SELF-) REFRESH OPERATION
01/06/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD8-7A:2006

ADDENDUM No. 7 to JESD8 - 1.8 V + -0.15 V (NORMAL RANGE), AND 1.2 V - 1.95 V (WIDE RANGE) POWER SUPPLY VOLTAGE AND INTERFACE STANDARD FOR NONTERMINATED DIGITAL INTEGRATED CIRCUIT
01/06/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD202:2006

METHOD FOR CHARACTERIZING THE ELECTROMIGRATION FAILURE TIME DISTRIBUTION OF INTERCONNECTS UNDER CONSTANT-CURRENT AND TEMPERATURE STRESS
01/03/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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65,00 €

JEDEC JP 002:2006

CURRENT TIN WHISKERS THEORY AND MITIGATION PRACTICES GUIDELINE
01/03/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD75-6:2006

PSO-N/PQFN PINOUTS STANDARDIZED FOR 14-, 16-, 20-, AND 24-LEAD LOGIC FUNCTIONS
01/03/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD96A:2006

RADIO FRONT END - BASEBAND (RF-BB) INTERFACE
01/02/2006 - PDF - Anglais - JEDEC
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113,00 €

JEDEC JESD203:2005

STANDARD TEST LOADS FOR DUAL-SUPPLY LEVEL TRANSLATION DEVICES
01/11/2005 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD82-15:2005

STANDARD FOR DEFINITION OF CUA878 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED DDR2 DIMM APPLICATIONS
01/11/2005 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JS 9704:2005

IPC/JEDEC-9704: Printed Wiring Board (PWB) Strain Gage Test Guideline
01/06/2005 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD90:2004

A PROCEDURE FOR MEASURING P-CHANNEL MOSFET NEGATIVE BIAS TEMPERATURE INSTABILITIES
01/11/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JEP149:2004

APPLICATION THERMAL DERATING METHODOLOGIES
01/11/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD8-17:2004

DRIVER SPECIFICATIONS FOR 1.8 V POWER SUPPLY POINT-TO-POINT DRIVERS
01/11/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD8-16A:2004

BUS INTERCONNECT LOGIC (BIC) FOR 1.2 V
01/11/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD82-11:2004

DEFINITION OF 'CU878 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED DDR2 DIMM APPLICATIONS
01/09/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD60A:2004

A PROCEDURE FOR MEASURING P-CHANNEL MOSFET HOT-CARRIER-INDUCED DEGRADATION AT MAXIMUM GATE CURRENT UNDER DC STRESS
01/09/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD75-5:2004

SON/QFN PACKAGE PINOUTS STANDARDIZED FOR 1-, 2-, AND 3-BIT LOGIC FUNCTIONS
01/07/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JS 9702:2004

IPC/JEDEC-9702: MONOTONIC BEND CHARACTERIZATION OF BOARD-LEVEL INTERCONNECTS (IPC/JEDEC-9702)
01/06/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD24-12:2004

THERMAL IMPEDANCE MEASUREMENT FOR INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTORS - (Delta VCE(on) Method)
01/06/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JEP84A:2004

RECOMMENDED PRACTICE FOR MEASUREMENT OF TRANSISTOR LEAD TEMPERATURE
01/06/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD82-1A:2004

DEFINITION OF CVF857 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED PC1600, PC2100, PC2700, AND PC3200 DIMM APPLICATIONS
01/05/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JEP137B:2004

COMMON FLASH INTERFACE (CFI) IDENTIFICATION CODES
01/05/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD75-4:2004

BALL GRID ARRAY PINOUT FOR 1-, 2-, AND 3-BIT LOGIC FUNCTIONS
01/03/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD82-8.01:2004

STANDARD FOR DEFINITION OF CU877 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED DDR2 DIMM APPLICATIONS
01/02/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD33-B:2004

STANDARD METHOD FOR MEASURING AND USING THE TEMPERATURE COEFFICIENT OF RESISTANCE TO DETERMINE THE TEMPERATURE OF A METALLIZATION LINE
01/02/2004 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JEP147:2003

PROCEDURE FOR MEASURING INPUT CAPACITANCE USING A VECTOR NETWORK ANALYZER (VNA)
01/10/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD65B:2003

DEFINITION OF SKEW SPECIFICATIONS FOR STANDARD LOGIC DEVICES
01/09/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD8-15A:2003

STUB SERIES TERMINATED LOGIC FOR 1.8 V (SSTL_18)
01/09/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD68.01:2003

COMMON FLASH INTERFACE (CFI)
01/09/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD92:2003

PROCEDURE FOR CHARACTERIZING TIME-DEPENDENT DIELECTRIC BREAKDOWN OF ULTRA-THIN GATE DIELECTRICS
01/08/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JEP119A:2003

A PROCEDURE FOR EXECUTING SWEAT
01/08/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD22-B100B:2003 (R2021) (R2016)

PHYSICAL DIMENSION
01/06/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD82-4B:2003

STANDARD FOR DEFINITION OF THE SSTV16859 2.5 V, 13-BIT TO 26-BIT SSTL_2 REGISTERED BUFFER FOR STACKED DDR DIMM APPLICATIONS
01/05/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD 22-B105C(R2006):2003

LEAD INTEGRITY
01/05/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JEP104C.01:2003

REFERENCE GUIDE TO LETTER SYMBOLS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
01/05/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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124,00 €

JEDEC JEP145:2003

GUIDELINE FOR ASSESSING THE CURRENT-CARRYING CAPABILITY OF THE LEADS IN A POWER PACKAGE SYSTEM
01/02/2003 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD100B.01:2002

TERMS, DEFINITIONS, AND LETTER SYMBOLS FOR MICROCOMPUTERS, MICROPROCESSORS, AND MEMORY INTEGRATED CIRCUITS
01/12/2002 - PDF - Anglais - JEDEC
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97,00 €

JEDEC JESD82-5:2002

STANDARD FOR DESCRIPTION OF A 3.3 V, ZERO DELAY CLOCK DISTRIBUTION DEVICE COMPLIANT WITH THE JESD21-C PC133 REGISTERED DIMM SPECIFICATION
01/07/2002 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JEP140:2002 (R2015) (R2006)

BEADED THERMOCOUPLE TEMPERATURE MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR PACKAGES
01/06/2002 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD 8-9B:2002

ADDENDUM No. 9B to JESD8 - STUB SERIES TERMINATED LOGIC FOR 2.5 VOLTS (SSTL_2): Includes Errata and Corrected Page 7 as of October 18, 2002
01/05/2002 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD28-A:2001

A PROCEDURE FOR MEASURING N-CHANNEL MOSFET HOT-CARRIER-INDUCED DEGRADATION UNDER DC STRESS
01/12/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD73-4:2001

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 3877 - 2.5 V, DUAL 5-BIT, 2-PORT, DDR FET SWITCH
01/11/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD73-3:2001

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 3867 - 2.5 V, SINGLE 10-BIT, 2-PORT, DDR FET SWITCH
01/11/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD75-1:2001

BALL GRID ARRAY PINOUTS STANDARDIZED FOR 16, 18, AND 20-BIT LOGIC FUNCTIONS USING A 54 BALL PACKAGE
01/10/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD 24-6(R2002):2001

ADDENDUM No. 6 to JESD24 - THERMAL IMPEDANCE MEASUREMENTS FOR INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTORS
01/10/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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50,00 €

JEDEC JESD8-13:2001

SCALABLE LOW-VOLTAGE SIGNALING FOR 400 MV (SLVS-400)
01/10/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD28-1:2001

N-CHANNEL MOSFET HOT CARRIER DATA ANALYSIS
01/09/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD76-3:2001

STANDARD DESCRIPTION OF 1.5 V CMOS LOGIC DEVICES
01/08/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD73-2:2001

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 3.3 V NFET BUS SWITCH DEVICES WITH INTEGRATED CHARGE PUMPS
01/08/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD73-1:2001

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 3.3 V NFET BUS SWITCH DEVICES
01/08/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD75-2:2001

BALL GRID ARRAY PINOUTS STANDARDIZED FOR 16-BIT LOGIC FUNCTIONS
01/07/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD85:2001

METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
01/07/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD82-2:2001

STANDARD FOR DESCRIPTION OF A 3.3 V, 18-BIT, LVTTL I/O REGISTER FOR PC133 REGISTERED DIMM APPLICATIONS
01/07/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD87:2001

STANDARD TEST STRUCTURE FOR RELIABILITY ASSESSMENT OF AlCu METALLIZATIONS WITH BARRIER MATERIALS
01/07/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD75-3:2001

BALL GRID ARRAY PINOUTS STANDARDIZED FOR 8-BIT LOGIC FUNCTIONS
01/07/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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50,00 €

JEDEC JESD76-1:2001

STANDARD DESCRIPTION OF 1.2 V CMOS LOGIC DEVICES (WIDE RANGE OPERATION)
01/06/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD76-2:2001

STANDARD DESCRIPTION OF 1.2 V CMOS LOGIC DEVICES (NORMAL RANGE OPERATION)
01/06/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD51-11:2001

TEST BOARDS FOR THROUGH-HOLE AREA ARRAY LEADED PACKAGE THERMAL MEASUREMENT
01/06/2001 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JEP139:2000

GUIDELINE FOR CONSTANT TEMPERATURE AGING TO CHARACTERIZE ALUMINUM INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/12/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD64-A:2000

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 2.5 V CMOS LOGIC DEVICES WITH 3.6 V CMOS TOLERANT INPUTS AND OUTPUTS
01/10/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD82:2000

DEFINITION OF CDCV857 PLL CLOCK DRIVER FOR REGISTERED DDR DIMM APPLICATIONS
01/07/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD51-10:2000

TEST BOARDS FOR THROUGH-HOLE PERIMETER LEADED PACKAGE THERMAL MEASUREMENTS
01/07/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD51-9:2000

TEST BOARDS FOR AREA ARRAY SURFACE MOUNT PACKAGE THERMAL MEASUREMENTS
01/07/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JEP120-A:2000

INDEX OF TERMS DEFINED IN JEDEC PUBLICATIONS
01/05/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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151,00 €

JEDEC JESD76:2000

DESCRIPTION OF 1.8 V CMOS LOGIC DEVICES
01/04/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD286-B(R2005):2000

STANDARD FOR MEASURING FORWARD SWITCHING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DIODES
01/02/2000 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD80:1999

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 2.5 V CMOS LOGIC DEVICES
01/11/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD75:1999

BALL GRID ARRAY PINOUTS STANDARDIZED FOR 32-BIT LOGIC FUNCTIONS
01/11/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD66(R2006):1999

TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSOR STANDARD FOR THYRISTOR SURGE PROTECTIVE DEVICE
01/11/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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124,00 €

JEDEC JESD51-8:1999

INTEGRATED CIRCUIT THERMAL TEST METHOD ENVIRONMENTAL CONDITIONS - JUNCTION-TO-BOARD
01/10/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JEP138:1999

USER GUIDELINES FOR IR THERMAL IMAGING DETERMINATION OF DIE TEMPERATURE
01/09/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD71:1999

STANDARD TEST AND PROGRAMMING LANGUAGE (STAPL)
01/08/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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93,00 €

JEDEC JEP136:1999

SIGNATURE ANALYSIS
01/07/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD73:1999

DESCRIPTION OF 5 V BUS SWITCH WITH TTL-COMPATIBLE CONTROL INPUTS
01/06/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD70:1999

2.5 V BiCMOS LOGIC DEVICE FAMILY SPECIFICATION WITH 5 V TOLERANT INPUTS AND OUTPUTS
01/06/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD51-6:1999

INTEGRATED CIRCUIT THERMAL TEST METHOD ENVIRONMENTAL CONDITIONS - FORCED CONVECTION (MOVING AIR)
01/03/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD51-5:1999

EXTENSION OF THERMAL TEST BOARD STANDARDS FOR PACKAGES WITH DIRECT THERMAL ATTACHMENT MECHANISMS
01/02/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD51-7:1999

HIGH EFFECTIVE THERMAL CONDUCTIVITY TEST BOARD FOR LEADED SURFACE MOUNT PACKAGES
01/02/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD67:1999

I/O DRIVERS AND RECEIVERS WITH CONFIGURABLE COMMUNICATION VOLTAGE, IMPEDANCE, AND RECEIVER THRESHOLD
01/02/1999 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JEP134:1998

GUIDELINES FOR PREPARING CUSTOMER-SUPPLIED BACKGROUND INFORMATION RELATING TO A SEMICONDUCTOR-DEVICE FAILURE ANALYSIS
01/09/1998 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD63:1998

STANDARD METHOD FOR CALCULATING THE ELECTROMIGRATION MODEL PARAMETERS FOR CURRENT DENSITY AND TEMPERATURE
01/02/1998 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD59:1997

BOND WIRE MODELING STANDARD
01/06/1997 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD57:1996

TEST PROCEDURE FOR THE MANAGEMENT OF SINGLE-EVENT EFFECTS IN SEMICONDUCTOR DEVICES FROM HEAVY ION IRRADIATION
01/12/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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93,00 €

JEDEC JEP128:1996

GUIDE FOR STANDARD PROBE PAD SIZES AND LAYOUTS FOR WAFER LEVEL ELECTRICAL TESTING
01/11/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD 24-11(R2002):1996

ADDENDUM No. 11 to JESD24 - POWER MOSFET EQUIVALENT SERIES GATE RESISTANCE TEST METHOD
01/08/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD51-3:1996

LOW EFFECTIVE THERMAL CONDUCTIVITY TEST BOARD FOR LEADED SURFACE MOUNT PACKAGES
01/08/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD8-8:1996

ADDENDUM No. 8 to JESD8 - STUB SERIES TERMINATED LOGIC FOR 3.3 VOLTS (SSTL_3) A 3.3 V VOLTAGE BASED INTERFACE STANDARD FOR DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
01/08/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JEP103A(R2003):1996

SUGGESTED PRODUCT-DOCUMENTATION, CLASSIFICATIONS, AND DISCLAIMERS
01/07/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC EIA 318-B:1996

MEASUREMENT OF REVERSE RECOVERY TIME FOR SEMICONDUCTOR SIGNAL DIODES
01/07/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD 36:1996

STANDARD DESCRIPTION OF LOW-VOLTAGE TTL-COMPATIBLE, 5 V TOLERANT CMOS LOGIC DEVICES
01/06/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD32:1996

STANDARD FOR CHAIN DESCRIPTION FILE
01/06/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD55:1996

STANDARD FOR DESCRIPTION OF LOW-VOLTAGE TTL-COMPATIBLE BiCMOS LOGIC DEVICES
01/05/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JEP126:1996

GUIDELINE FOR DEVELOPING AND DOCUMENTING PACKAGE ELECTRICAL MODELS DERIVED FROM COMPUTATIONAL ANALYSIS
01/05/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD 35-2:1996

ADDENDUM No. 2 to JESD35 - TEST CRITERIA FOR THE WAFER-LEVEL TESTING OF THIN DIELECTRICS
01/02/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD54:1996

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 54/74ABTXXX AND 74BCXXX TTL-COMPATIBLE BiCMOS LOGIC DEVICES
01/02/1996 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD51:1995

METHODOLOGY FOR THE THERMAL MEASUREMENT OF COMPONENT PACKAGES (SINGLE SEMICONDUCTOR DEVICE)
01/12/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD38:1995

STANDARD FOR FAILURE ANALYSIS REPORT FORMAT
01/12/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD51-1:1995

INTEGRATED CIRCUIT THERMAL MEASUREMENT METHOD - ELECTRICAL TEST METHOD (SINGLE SEMICONDUCTOR DEVICE)
01/12/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD52:1995

STANDARD FOR DESCRIPTION OF LOW VOLTAGE TTL-COMPATIBLE CMOS LOGIC DEVICES
01/11/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JEP123:1995

GUIDELINE FOR MEASUREMENT OF ELECTRONIC PACKAGE INDUCTANCE AND CAPACITANCE MODEL PARAMETERS
01/10/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD 35-1:1995

ADDENDUM No. 1 to JESD35 - GENERAL GUIDELINES FOR DESIGNING TEST STRUCTURES FOR THE WAFER-LEVEL TESTING OF THIN DIELECTRICS
01/09/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD8-6:1995

ADDENDUM No. 6 to JESD8 - HIGH SPEED TRANSCEIVER LOGIC (HSTL)- A 1.5 V OUTPUT BUFFER SUPPLY VOLTAGE BASED INTERFACE STANDARD FOR DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
01/08/1995 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD 24-10(R2002):1994

ADDENDUM No. 10 to JESD24 - TEST METHOD FOR MEASUREMENT OF REVERSE RECOVERY TIME trr FOR POWER MOSFET DRAIN-SOURCE DIODES
01/08/1994 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD3-C:1994

STANDARD DATA TRANSFER FORMAT BETWEEN DATA PREPARATION SYSTEM AND PROGRAMMABLE LOGIC DEVICE PROGRAMMER
01/06/1994 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD8-4:1993

ADDENDUM No. 4 to JESD8 - CENTER-TAP-TERMINATED (CTT) INTERFACE LOW-LEVEL, HIGH-SPEED INTERFACE STANDARD FOR DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
01/11/1993 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD 27:1993

CERAMIC PACKAGE SPECIFICATION FOR MICROELECTRONIC PACKAGES
01/08/1993 - PDF - Anglais - JEDEC
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93,00 €

JEDEC JESD 12-1B:1993

ADDENDUM No. 1 to JESD12 - TERMS AND DEFINITIONS FOR GATE ARRAYS AND CELL-BASED INTEGRATED CIRCUITS
01/08/1993 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD8-2:1993

ADDENDUM No. 2 to JESD8 - STANDARD FOR OPERATING VOLTAGES AND INTERFACE LEVELS FOR LOW VOLTAGE EMITTER-COUPLED LOGIC (ECL) INTEGRATED CIRCUITS
01/03/1993 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD18-A:1993

STANDARD FOR DESCRIPTION OF FAST CMOS TTL COMPATIBLE LOGIC
01/01/1993 - PDF - Anglais - JEDEC
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86,00 €

JEDEC JESD 320-A(R2002):1992

CONDITIONS FOR MEASUREMENT OF DIODE STATIC PARAMETERS
01/12/1992 - PDF - Anglais - JEDEC
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50,00 €

JEDEC JESD 37:1992

STANDARD LOGNORMAL ANALYSIS OF UNCENSORED DATA, AND OF SINGLY RIGHT -CENSORED DATA UTILIZING THE PERSSON AND ROOTZEN METHOD
01/10/1992 - PDF - Anglais - JEDEC
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81,00 €

JEDEC JESD 24-9(R2002):1992

ADDENDUM No. 9 to JESD24 - SHORT CIRCUIT WITHSTAND TIME TEST METHOD
01/08/1992 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD 24-8(R2002):1992

ADDENDUM No. 8 to JESD24 - METHOD FOR REPETITIVE INDUCTIVE LOAD AVALANCHE SWITCHING
01/08/1992 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JES 2:1992

TRANSISTOR, GALLIUM ARSENIDE POWER FET, GENERIC SPECIFICATION
01/07/1992 - PDF - Anglais - JEDEC
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97,00 €

JEDEC JEP116:1991

CMOS SEMICUSTOM DESIGN GUIDELINES
01/11/1991 - PDF - Anglais - JEDEC
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151,00 €

JEDEC JESD 12-6:1991

ADDENDUM No. 6 to JESD12 - INTERFACE STANDARD FOR SEMICUSTOM INTEGRATED CIRCUITS
01/03/1991 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD 24-2(R2002):1991

ADDENDUM No. 2 to JESD24 - GATE CHARGE TEST METHOD
01/01/1991 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD 24-4(R2002):1990

ADDENDUM No. 4 to JESD24 - THERMAL IMPEDANCE MEASUREMENTS FOR BIPOLAR TRANSISTORS (DELTA BASE-EMITTER VOLTAGE METHOD)
01/11/1990 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD 24-3:1990

ADDENDUM No. 3 to JESD24 - THERMAL IMPEDANCE MEASUREMENTS FOR VERTICAL POWER MOSFETS (DELTA SOURCE-DRAIN VOLTAGE METHOD)
01/11/1990 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD20:1990

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 54/74ACXXXXX AND 54/74ACTXXXXX ADVANCED HIGH-SPEED CMOS DEVICES
01/09/1990 - PDF - Anglais - JEDEC
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204,00 €

JEDEC JESD 24-5(R2002):1990

ADDENDUM No. 5 to JESD24 - SINGLE PULSE UNCLAMPED INDUCTIVE SWITCHING (UIS) AVALANCHE TEST METHOD
01/08/1990 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD 24-1(R2002):1989

ADDENDUM No. 1 to JESD24 - METHOD FOR MEASUREMENT OF POWER DEVICE TURN-OFF SWITCHING LOSS
01/10/1989 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JEP115(R1999):1989

POWER MOSFET ELECTRICAL DOSE RATE TEST METHOD
01/08/1989 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD 12-5:1988

ADDENDUM No. 5 to JESD12 - DESIGN FOR TESTABILITY GUIDELINES
01/08/1988 - PDF - Anglais - JEDEC
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151,00 €

JEDEC JEP110:1988

GUIDELINES FOR THE MEASUREMENT OF THERMAL RESISTANCE OF GaAs FETS
01/07/1988 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD 12-4:1987

ADDENDUM No. 4 to JESD12 - METHOD OF SPECIFICATION OF PERFORMANCE PARAMETERS FOR CMOS SEMICUSTOM INTEGRATED CIRCUITS
01/04/1987 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD 321-C(R2009):1987

NUMBERING OF LIKE-NAMED TERMINAL FUNCTIONS IN SEMICONDUCTOR DEVICES AND DESIGNATION OF UNITS IN MULTIPLE-UNIT SEMICONDUCTOR DEVICES
01/02/1987 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD14(R2002):1986

SEMICONDUCTOR POWER CONTROL MODULES
01/11/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JEP64(R2002):1986

SOLID STATE PRODUCTS REGISTRATION LIST(ORDER FROM TYPE ADMINISTRATION OFFICE)
01/09/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD7-A:1986

STANDARD FOR DESCRIPTION OF 54/74HCXXXX AND 54/74HCTXXXX HIGH SPEED CMOS DEVICES
01/08/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD531(R2002):1986

THERMAL RESISTANCE TEST METHOD FOR SIGNAL AND REGULATOR DIODES (FORWARD VOLTAGE, SWITCHING METHOD)
01/07/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JESD 12-3:1986

ADDENDUM No. 3 to JESD12 - CMOS GATE ARRAY MACROCELL STANDARD
01/06/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 236-C(R2009):1986

COLOR CODING OF DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES
01/03/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD 12-2:1986

ADDENDUM No. 2 to JESD12 - STANDARD FOR CELL-BASED INTEGRATED CIRCUIT BENCHMARK SET
01/02/1986 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 24:1985

POWER MOSFETS
01/07/1985 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD12:1985

SEMICUSTOM INTEGRATED CIRCUITS (FORMERLY PUBLISHED AS STANDARD FOR GATE ARRAY BENCHMARK SET)
01/06/1985 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD11:1984

CHIP CARRIER PINOUTS STANDARDIZED FOR CMOS 4000, HC AND HCT SERIES OF LOGIC CIRCUITS
01/12/1984 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 482-A(R2002):1984

LIST OF PREFERRED VALUES FOR USE ON VARIOUS TYPES OF SMALL SIGNAL AND REGULATOR DIODES
01/08/1984 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD4(R2002):1983

DEFINITION OF EXTERNAL CLEARANCE AND CREEPAGE DISTANCES OF DISCRETE SEMICONDUCTOR PACKAGES FOR THYRISTORS AND RECTIFIER DIODES
01/11/1983 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC JESD2:1982

DIGITAL BIPOLAR LOGIC PINOUTS FOR CHIP CARRIERS
01/12/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 24-7(R2002):1982

ADDENDUM No. 7 to JESD24 - COMMUTATING DIODE SAFE OPERATING AREA TEST PROCEDURE FOR MEASURING dv/dt DURING REVERSE RECOVERY OF POWER TRANSISTORS
01/08/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 23:1982

TEST METHODS AND CHARACTER DESIGNATION FOR LIQUID CRYSTAL DEVICES:
01/05/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 1:1982

LEADLESS CHIP CARRIER PINOUTS STANDARDIZED FOR LINEARS
01/04/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 370B(R2003):1982

DESIGNATION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
01/02/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 5(R2002):1982

MEASUREMENT OF TEMPERATURE COEFFICIENT OF VOLTAGE REGULATOR DIODES
01/02/1982 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD311-A(R2009):1981

MEASUREMENT OF TRANSISTOR NOISE FIGURE AT MF, HF, AND VHF
01/11/1981 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 381-A(R2002):1981

METHOD OF DIODE Q MEASUREMENT
01/11/1981 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD419-A(R2001):1980

STANDARD LIST OF VALUES TO BE USED IN SEMICONDUCTOR DEVICE SPECIFICATIONS AND REGISTRATION FORMAT
01/10/1980 - PDF - Anglais - JEDEC
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51,00 €

JEDEC EIA 397-1:1980

ADDENDUM No. 1 TO EIA-397
01/07/1980 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD13-B:1980

STANDARD SPECIFICATION FOR DESCRIPTION OF B SERIES CMOS DEVICES
01/05/1980 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 471:1980(R2009)

Symbol and Label for Electrostatic Sensitive Devices
01/01/1980 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 435(R2009):1976

STANDARD FOR THE MEASUREMENT OF SMALL-SIGNAL TRANSISTOR SCATTERING PARAMETERS
01/04/1976 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD10(R2002):1976

LOW FREQUENCY POWER TRANSISTORS
01/01/1976 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD313-B(R2001):1975

THERMAL RESISTANCE MEASUREMENTS OF CONDUCTION COOLED POWER TRANSISTORS
01/10/1975 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP69-B(R1999):1973

PREFERRED LEAD CONFIGURATION FOR FIELD-EFFECT TRANSISTORS
01/11/1973 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC TENTSTD 12:1973

STANDARD FOR SELENIUM SURGE SUPPRESSORS
01/11/1973 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEB 19:1972

RECOMMENDED CHARACTERIZATION OF MOS SHIFT REGISTERS
01/11/1972 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD25(R2002):1972

MEASUREMENT OF SMALL-SIGNAL TRANSISTOR SCATTERING PARAMETERS
01/11/1972 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD398(R2009):1972

MEASUREMENT OF SMALL VALUES OF TRANSISTOR CAPACITANCE
01/07/1972 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC EIA 397:1972

RECOMMENDED STANDARD FOR THYRISTORS
01/06/1972 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 372(R2009):1970

THE MEASUREMENT OF SMALL-SIGNAL VHF-UHF TRANSISTOR ADMITTANCE PARAMETERS
01/05/1970 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 371(R2009):1970

THE MEASUREMENT OF SMALL-SIGNAL VHF-UHF TRANSISTOR SHORT-CIRCUIT FORWARD CURRENT TRANSFER RATIO
01/02/1970 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEB 5-A:1970 (R1984)

METHODS OF MEASUREMENT FOR SEMICONDUCTOR LOGIC GATING MICROCIRCUITS
- PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEB 15:1969

TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
01/11/1969 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC EIA 365(R1984):1969

PERFORMANCE TEST PROCEDURE FOR SOLAR CELLS AND CALIBRATION PROCEDURE FOR SOLAR CELL STANDARDS FOR SPACE VEHICLE SERVICE
01/11/1969 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP78:1969

RELATIVE SPECTRAL RESPONSE CURVES FOR SEMICONDUCTOR INFRARED DETECTORS
01/10/1969 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP 79:1969

LIFE TEST METHODS FOR PHOTOCONDUCTIVE CELLS
01/09/1969 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 353(R2009):1968

THE MEASUREMENT OF TRANSISTOR NOISE FIGURE AT FREQUENCIES UP TO 20 kHz BY SINUSOIDAL SIGNAL-GENERATOR METHOD
01/04/1968 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 354(R2009):1968

THE MEASUREMENT OF TRANSISTOR EQUIVALENT NOISE VOLTAGE AND EQUIVALENT NOISE CURRENT AT FREQUENCIES OF UP TO 20 kHz
01/04/1968 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP65(R1999):1967

TEST PROCEDURES FOR VERIFICATION OF MAXIMUM RATINGS OF POWER TRANSISTORS
01/12/1967 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD340(R2009):1967

STANDARD FOR THE MEASUREMENT OF CRE
01/11/1967 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD6(R2002):1967

MEASUREMENT OF SMALL VALUES OF TRANSISTOR CAPACITANCE
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JEDEC EIA 323(R2002):1966

AIR-CONVECTION-COOLED, LIFE TEST ENVIRONMENT FOR LEAD-MOUNTED SEMICONDUCTOR DEVICES
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JEDEC JESD307(R2002):1965

VOLTAGE REGULATOR DIODE NOISE VOLTAGE MEASUREMENT
01/05/1965 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD306:1965 (R2009)

MEASUREMENT OF SMALL SIGNAL HF, VHF, AND UHF POWER GAIN OF TRANSISTORS
01/05/1965 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD302(R2009):1965

RANGES AND CONDITIONS FOR SPECIFYING BETA FOR LOW POWER, AUDIO FREQUENCY TRANSISTORS FOR ENTERTAINMENT SERVICE
01/01/1965 - PDF - Anglais - JEDEC
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