JEDEC Normes américaines Normes

JEDEC JESD209-5C:2023

Low Power Double Data Rate (LPDDR) 5/5X
01/06/2023 - PDF - Anglais - JEDEC
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491,00 €

JEDEC JESD46D

CUSTOMER NOTIFICATION OF PRODUCT/PROCESS CHANGES BY ELECTRONIC PRODUCT SUPPLIERS
12/04/2023 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD220F:2022

Universal Flash Storage (UFS)
01/08/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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395,00 €

JEDEC JEP157A:2022

Recommended ESD-CDM Target Levels
01/04/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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223,00 €

JEDEC JESD22-B101D:2022

EXTERNAL VISUAL
01/04/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD305-R4-RCB Version 1.0:2022

DDR5 RDIMM Standard Annex B
01/04/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022

Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD402-1A:2022

Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD305:2022

DDR5 Load Reduced (LRDIMM) and Registered Dual Inline Memory Module (RDIMM) Common Specification
01/01/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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93,00 €

JEDEC JESD22-A120C:2022

Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used in Electronic Devices
01/01/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD315:2021

Backup Energy Module Standard for NVDIMM Memory Devices (BEM)
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD216F:2021

Seriel Flash Discoverable Parameters (SFDP)
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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223,00 €

JEDEC JEP187:2021

Guidelines for Representing Switching Losses of SIC Mosfets in Datasheets
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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63,00 €

JEDEC JEP186:2021

Guideline to Specify a Transient Off-State Withstand Voltage Robustness Indicator in Datasheets for Lateral GaN Power Conversion Devices, Version 1.0
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD403-1A:2021

JEDEC Module Sideband Bus (SidebandBus)
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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97,00 €

JEDEC JESD204C.1:2021

Serial Interface for Data Converters
01/12/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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304,00 €

JEDEC JESD22-B118A:2021

SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
01/11/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD89-3B:2021

Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
01/09/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,24 €

JEDEC JESD22-A103E.01:2021

HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,12 €

JEDEC JESD85A:2021

METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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74,00 €

JEDEC JESD89-1B:2021

Test Method for Real-Time Soft Error Rate
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,24 €

JEDEC JESD89-2B:2021

Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,24 €

JEDEC JESD209-4D:2021

Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/06/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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350,00 €

JEDEC JESD22-A110E.01:2021

HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/05/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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62,00 €

JEDEC JESD22-A118B.01:2021

ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
01/05/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,12 €

JEDEC JESD260:2021

Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD252.01:2021

Serial Flash Reset Signaling Protocol
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JEP178:2021

Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD253:2021

Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD250C:2021

Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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244,00 €

JEDEC JESD209-4-1A:2021

Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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113,00 €

JEDEC JESD235D:2021

High Bandwidth Memory (HBM) DRAM (HBM1, HBM2)
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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264,00 €

JEDEC JESD79-4-1B:2021

Addendum No. 1 to JESD79-4, 3D Stacked Dram
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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113,00 €

JEDEC JESD22-A101D.01:2021

STEADY-STATE TEMPERATURE-HUMIDITY BIAS LIFE TEST
01/01/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,12 €

JEDEC JESD49B:2020

PROCUREMENT STANDARD FOR KNOWN GOOD DIE (KGD)
30/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JEP167A:2020

Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD22-A100E:2020

Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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55,00 €

JEDEC JESD304-4:2020

DDR4 NVDIMM-P Bus Protocol
01/10/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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204,00 €

JEDEC JESD22-A113I:2020

Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/04/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JESD251A:2020

Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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124,00 €

JEDEC JESD300-5:2020

SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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204,00 €

JEDEC JEP180:2020

Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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79,00 €

JEDEC JESD 22-A105D:2020

Power and temperature cycling
01/01/2020 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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54,33 €

JEDEC JESD246A:2020

Customer Notification Process for Disasters
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD22-A105D:2020

Power and temperature cycling
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD209-5A:2020

Low Power Double Data Rate 5 (LPDDR5)
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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395,00 €

JEDEC JESD22-B114B:2020

Mark Legibility
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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60,00 €

JEDEC JESD220-3:2020

Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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81,00 €

JEDEC JEP162A:2019

System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD245C:2019

Byte Addressable Energy Backed Interface
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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244,00 €

JEDEC JESD22-B110B.01:2019

Mechanical Shock - Device and Subassembly
01/06/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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58,00 €

JEDEC JESD51-4A:2019

Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)
01/06/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD8-21C:2019

POD135 - 1.35 V Pseudo Open Drain I/O
01/06/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD8-30A:2019

POD125 - 1.25 V Pseudo Open Drain I/O
01/06/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD82-32

DDR4 DATA BUFFER DEFINITION (DDR4DB01)
19/05/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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204,00 €

JEDEC JESD84-B51A:2019

Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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335,18 €

ESDA/JEDEC JS-002:2018

ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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186,76 €

JEDEC JEP143D:2019

SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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81,00 €

JEDEC JEP118:2018

GUIDELINES FOR GaAs MMIC AND FET LIFE TESTING
01/12/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JESD22-A117E:2018

ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
01/11/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD22-B119:2018

MECHANICAL COMPRESSIVE STATIC STRESS TEST METHODS
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €

JEDEC JESD251-1:2018

Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JEP001-3A:2018

FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JEP001-2A:2018

FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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83,00 €

JEDEC JEP001-1A:2018

FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JESD22-B113B:2018

BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JEP131C:2018

Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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77,00 €

JEDEC JEP155B:2018

RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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97,00 €

JEDEC JESD671C:2018

Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD22-A111B:2018

EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JEP156A:2018

CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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72,00 €

JEDEC JS709C:2018

Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD248A:2018

DDR4 NVDIMM-N Design Standard
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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86,00 €

JEDEC JESD8-31:2018

1.8 V HIGH-SPEED LVCMOS (HS_LVCMOS) INTERFACE
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD88F:2018

JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
01/02/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD220-2A:2018

UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) CARD EXTENSION
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JEP176:2018

ADAPTER TEST BOARD RELIABILITY TEST GUIDELINES
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €

JEDEC JESD50C:2018

SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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64,00 €

JEDEC JESD223D:2018

Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD69C:2017

INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD16B:2017

ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD30H:2017

Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD37A:2017

Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD214.01:2017

CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD224A:2017

Universal Flash Storage (UFS) Test
01/07/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP175:2017

DDR4 Protocol Checks
01/07/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD79-4B:2017

DDR4 SDRAM Standard
01/06/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-B116B:2017

WIRE BOND SHEAR TEST
01/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD659C:2017

FAILURE-MECHANISM-DRIVEN RELIABILITY MONITORING
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD213A:2017

STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD210A:2017

AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
01/03/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD8-29:2016

0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD227:2016

EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD31E:2016

GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD225:2016

UNIVERSAL FLASH STORAGE (UFS) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-B111A:2016

BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
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JEDEC JESD22-B106E:2016

RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
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JEDEC JEP122H:2016

Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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VIBRATION, VARIABLE FREQUENCY
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JEDEC JEP174:2016

UNDERSTANDING ELECTRICAL OVERSTRESS - EOS
01/09/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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SOLDER BALL PULL
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SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
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Multi-wire Multi-level I/O Standard
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Power Cycling
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JEDEC J-STD-609B:2016

MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
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JEDEC JESD220-1A:2016

Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
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Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD243:2016

COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
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JEDEC JESD241:2015

Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
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APPLICATION SPECIFIC QUALIFICATION USING KNOWLEDGE BASED TEST METHODOLOGY
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JEDEC JESD22-A103E:2015

HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE
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JEDEC JESD22-A119A:2015 (R2021)

LOW TEMPERATURE STORAGE LIFE
01/10/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD209-3C:2015

Low Power Double Data Rate 3 SDRAM (LPDDR3)
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JEDEC JEP172A:2015

DISCONTINUING USE OF THE MACHINE MODEL FOR DEVICE ESD QUALIFICATION
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JEDEC JESD22-A118B:2015

ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST
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JEDEC JESD22-A102E:2015 (R2021)

ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVE
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A110E:2015

HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP159A:2015

PROCEDURE FOR THE EVQLUQTION OF LOW-k/METAL INTER/INTRA-LEVEL DIELECTRIC INTEGRITY
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD8-28:2015

300 mV INTERFACE
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STATISTICAL PROCESS CONTROL SYSTEMS
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Notification Standard for Product Discontinuance
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