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JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
05/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
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JEDEC /ESDA JTR002-01-22:2023
Charged Device Model Testing of Integrated Circuits
01/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC /ESDA JTR002-01-22:2023
Charged Device Model Testing of Integrated Circuits
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JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
01/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
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JEDEC JESD254:2022
Secure Serial Flash Bus Transactions Version 1.0
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD47L:2022
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP192:2022
Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD312:2022
Automotive Solid State Drive (SSD) Device Standard
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD312:2022
Automotive Solid State Drive (SSD) Device Standard
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD217A:2022
Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
01/11/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
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JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
01/11/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
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JEDEC JESD625C:2022
REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD625C:2022
REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD301-1A.01:2022
PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD301-2:2022
PMIC5100 POWER MANAGEMENT IC STANDARD, Rev 1.03
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD212C.01:2022
Graphics Double Data Rate (GDDR5) SGRAM Standard
01/09/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
01/06/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
01/06/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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309,00 €
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387,00 €
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223,00 €
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - Papier et pdf - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - Papier et pdf - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/01/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/01/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-B118A:2021
SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
01/11/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD85A:2021
METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD89-2B:2021
Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,24 € -
350,00 €
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JEDEC JESD22-A110E.01:2021
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/05/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus62,00 € -
55,12 €
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JEDEC JESD260:2021
Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP178:2021
Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
JEDEC JESD253:2021
Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD250C:2021
Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD209-4-1A:2021
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A100E:2020
Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP167A:2020
Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
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JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/04/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,00 € -
JEDEC JESD251A:2020
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD300-5:2020
SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus204,00 € -
JEDEC JEP180:2020
Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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57,00 €
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JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,00 € -
JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus204,00 € -
244,00 €
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58,00 €
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72,00 €
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ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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EIA JESD 84-B51:2019
Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus300,84 € -
JEDEC JESD84-B51A:2019
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus335,18 € -
JEDEC JEP143D:2019
SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,00 € -
77,00 €
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JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
01/11/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
57,00 €
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JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,00 € -
JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JEP131C:2018
Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP155B:2018
RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus97,00 € -
JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JESD72A:2018
TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,00 € -
JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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66,00 €
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JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
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EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
08/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Universal Flash Storage (UFS) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD69C:2017
INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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210,10 €
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Descriptive Designation System for Electronic-device Packages
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus133,00 € -
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Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
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En savoir plus81,00 € -
JEDEC JESD214.01:2017
CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
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326,00 €
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JEDEC JS-001-2017
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Human Body Modal (HBM) - Component Level
12/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus97,00 € -
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JEDEC JESD 9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD213A:2017
STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD210A:2017
AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
01/03/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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335,50 €
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JEDEC JESD8-29:2016
0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
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JEDEC JESD227:2016
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD31E:2016
GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
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JEDEC JESD22-B111A:2016
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
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En savoir plus72,00 € -
JEDEC JEP130B:2016
GUIDELINES FOR PACKING AND LABELING OF INTEGRATED CIRCUITS IN UNIT CONTAINER PACKING (TUBES, TRAYS, AND TAPE AND REEL)
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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