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JEDEC JESD260:2021
Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP178:2021
Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD253:2021
Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,50 € -
JEDEC JESD250C:2021
Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A100E:2020
Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP167A:2020
Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/04/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD251A:2020
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus118,90 € -
JEDEC JESD300-5:2020
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01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus195,78 € -
JEDEC JEP180:2020
Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
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JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus186,76 € -
EIA JESD 84-B51:2019
Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP143D:2019
SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
JEDEC JESD84-B51A:2019
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
01/11/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD47K:2018
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JEP131C:2018
Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP155B:2018
RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus93,28 € -
JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping and Use of Moisture, Reflow, and Process Sensitive Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JESD72A:2018
TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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82,00 €
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JEDEC JESD 251:2018
EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
08/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 220D:2018
Universal Flash Storage (UFS) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD50C:2018
SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD69C:2017
INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD16B:2017
ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 30H:2017
Descriptive Designation System for Electronic-device Packages
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD30H:2017
Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD37A:2017
Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
JEDEC JESD214.01:2017
CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
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JEDEC JS-001-2017
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Human Body Modal (HBM) - Component Level
12/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD213A:2017
STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,50 € -
JEDEC JESD210A:2017
AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
01/03/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD209-4-1:2017
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/01/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus82,00 € -
JEDEC JESD8-29:2016
0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD227:2016
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD31E:2016
GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-B111A:2016
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JEP130B:2016
GUIDELINES FOR PACKING AND LABELING OF INTEGRATED CIRCUITS IN UNIT CONTAINER PACKING (TUBES, TRAYS, AND TAPE AND REEL)
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JESD22-B106E:2016
RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JESD217.01:2016
TEST METHODS TO CHARACTERIZE VOIDING IN PRE-SMT BALL GRID ARRAY PACKAGES
01/10/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus89,18 € -
JEDEC JEP122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus167,08 € -
JEDEC JEP 122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus179,30 € -
JEDEC JEP 174:2016
Understanding Electrical Overstress - EOS
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 232A:2016
GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5X) SGRAM STANDARD
01/08/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus228,80 € -
JEDEC JESD 82-31:2016
DDR4 Registering Clock Driver - DDR4RCD01
01/08/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD218B.01:2016
SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
01/06/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
68,68 €
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JEDEC J-STD-609B:2016
MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
01/04/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JESD220-1A:2016
Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD223-1A:2016
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
JEDEC JESD243:2016
COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus57,40 € -
JEDEC JESD 212C:2016
GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5) SGRAM STANDARD
01/02/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP151:2015
, Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/12/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD241:2015
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
01/12/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus75,85 € -
JEDEC JESD94B:2015
APPLICATION SPECIFIC QUALIFICATION USING KNOWLEDGE BASED TEST METHODOLOGY
01/10/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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54,33 €
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57,40 €
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JEDEC JEP163:2015
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/09/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
228,80 €
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JEDEC JESD22-A102E:2015 (R2021)
ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVE
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus54,33 € -
JEDEC JESD22-A110E:2015
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JEP172A:2015
DISCONTINUING USE OF THE MACHINE MODEL FOR DEVICE ESD QUALIFICATION
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP159A:2015
PROCEDURE FOR THE EVQLUQTION OF LOW-k/METAL INTER/INTRA-LEVEL DIELECTRIC INTEGRITY
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus75,85 € -
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JEDEC J-STD-110:2015
JOINT ATIS/TIA NATIVE SMS/MMS TEXT TO 9-1-1 REQUIREMENTS AND ARCHITECTURE SPECIFICATION RELEASE 2
01/05/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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75,85 €
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JEDEC J-STD-020E:2014
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR MOISTURE/REFLOW SENSITIVITY CLASSIFICATION FOR NONHERMETIC SOLID STATE SURFACE-MOUNT DEVICES
01/12/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus76,88 € -
JEDEC JEP166A:2014
JC-42.6 MANUFACTURER IDENTIFICATION (ID) CODE FOR LOW POWER MEMORIES
01/12/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 82-30:2014
LRDIMM DDR3 Memory Buffer (MB) Version 1.0
01/10/2014 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD22-A120B:2014
TEST METHOD FOR THE MEASUREMENT OF MOISTURE DIFFUSIVITY AND WATER SOLUBILITY IN ORGANIC MATERIALS USED IN ELECTRONIC DEVICES
01/07/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus57,40 € -
63,55 €
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JEDEC JEP153A:2014 (R2019)
CHARACTERIZATION AND MONITORING OF THERMAL STRESS TEST OVEN TEMPURATURES
01/03/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD237:2014
Reliability Qualification of Power Amplifier Modules
01/03/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JP001A:2014
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/02/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-111:2014
Joint ATIS/TIA Standard on Coexistence and Interference Issues in Land Mobile Systems
01/01/2014 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP148B:2014
RELIABILITY QUALIFICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES BASED ON PHYSICS OF FAILURE RISK AND OPPORTUNITY ASSESSMENT
01/01/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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127,60 €
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Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
01/10/2013 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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01/10/2013 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,95 € -
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Guide to Standards and Publications Relating to Quality and Reliability of Electronic Hardware
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Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard 5.0
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STRESS-TEST-DRIVEN QUALIFICATION OF AND FAILURE MECHANISMS ASSOCIATED WITH ASSEMBLED SOLID STATE SURFACE-MOUNT COMPONENTS
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JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, Sixth Edition
01/06/2013 - PDF - Anglais - JEDEC
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System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/01/2013 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Addendum No. 1 to JESD79-3 - 1.35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, and DDR3L-1600
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Guidelines for Visual Inspection and Control of Flip Chip Type Components (FCxGA)
01/01/2013 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD 99C:2012
Terms, Definitions, and Letter Symbols for Microelectronic Devices
01/12/2012 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Terms, Definitions, and Letter Symbols for Microelectronic Devices
01/12/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD211.01:2012
ZENER AND VOLTAGE REGULATOR DIODE RATING VERIFICATION AND CHARACTERIZATION TESTING
01/11/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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GUIDELINES FOR REPORTING AND USING ELECTRONIC PACKAGE THERMAL INFORMATION
01/11/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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01/08/2012 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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Terms, Definitions, and Letter Symbols for Discrete Semiconductor and Optoelectronic Devices
01/08/2012 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-53:2012
TERMS, DEFINITIONS AND UNITS GLOSSARY FOR LED THERMAL TESTING
01/05/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-50:2012
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
18/04/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD51-51:2012
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18/04/2012 - PDF - Anglais - JEDEC
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