JEDEC
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JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/04/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,95 € -
54,33 € -
54,33 €
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54,33 €
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378,23 €
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57,40 €
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335,18 €
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JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
363,88 €
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JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus195,78 € -
233,70 €
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118,90 €
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55,35 €
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68,68 €
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68,68 €
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61,50 €
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JEDEC JESD 471(R2009)
SYMBOL AND LABEL FOR ELECTROSTATIC SENSITIVE DEVICES
19/05/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus49,20 € -
195,78 €
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JEDEC JESD46D
CUSTOMER NOTIFICATION OF PRODUCT/PROCESS CHANGES BY ELECTRONIC PRODUCT SUPPLIERS
19/05/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus186,76 € -
EIA JESD 84-B51:2019
Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus300,84 € -
JEDEC JEP 143D:2019
Solid-State Reliability Assessment and Qualification Methodologies
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus85,80 € -
73,80 €
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JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
01/11/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
233,70 €
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233,70 €
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213,20 €
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54,33 €
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54,33 €
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JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,95 € -
JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JEP 001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus85,80 € -
JEDEC JEP 001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
JEDEC JEP 001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,70 € -
JEDEC JESD47K:2018
STRESS-TEST-DRIVEN QUALIFICATION OF INTEGRATED CIRCUITS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
JEDEC JESD 22-B112B:2018
Package Warpage Measurement of Surface-Mount Integrated Circuits at Elevated Temperature
01/08/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
85,80 €
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JEDEC JESD 22-B113B:2018
Board Level Cyclic Bend Test Method for Interconnect Reliability Characterization of SMT ICs for Handheld Electronic Products
01/08/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,70 € -
JEDEC JESD251:2018
EXPANDED SERIAL PERIPHERAL INTERFACE (xSPI) FOR NON VOLATILE MEMORY DEVICES, VERSION 1.0
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus118,90 € -
JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JEP131C:2018
Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
79,95 €
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JEDEC JEP 155B:2018
Recommended ESD Target Level for HBM Qualification
01/07/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus100,10 € -
JEDEC JEP155B:2018
RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus93,28 € -
JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC J-STD-075A:2018
Classification of Passive and Solid State Devices for Assembly Processes
01/05/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus101,20 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping and Use of Moisture, Reflow, and Process Sensitive Devices
01/04/2018 - - - JEDEC
En savoir plus97,90 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus91,23 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping and Use of Moisture, Reflow, and Process Sensitive Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus80,98 € -
JEDEC JESD 8-31:2018
1.8 V HIGH-SPEED LVCMOS (HS LVCMOS) INTERFACE
01/03/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus52,80 € -
JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JESD72A:2018
TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus75,85 € -
JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,50 € -
82,00 €
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49,20 €
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35,20 €
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63,55 €
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JEDEC JEP 131C:2018
Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
08/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
JEDEC JESD 251:2018
EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
08/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus127,60 € -
JEDEC JESD 220D:2018
Universal Flash Storage (UFS) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus390,50 € -
JEDEC JESD 223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus155,10 € -
JEDEC JESD 50C:2018
Special Requirements for Maverick Product Elimination and Outlier Management
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JEP 176:2018
ADAPTER TEST BOARD RELIABILITY TEST GUIDELINES
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,60 € -
JEDEC JESD 220-2A:2018
Universal Flash Storage (UFS) Card Extension Version 1.1
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
63,55 €
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63,55 €
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JEDEC JESD50C:2018
SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,50 € -
JEDEC JESD223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus144,53 € -
335,50 €
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312,63 €
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JEDEC JESD 16B:2017
Assessment of Average Outgoing Quality Levels in Parts Per Million (PPM)
01/11/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus85,80 € -
JEDEC JESD 69C:2017
Information Requirements for the Qualification of Silicon Devices
01/11/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus59,40 € -
JEDEC JESD69C:2017
INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JESD16B:2017
ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,95 € -
66,00 €
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210,10 €
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JEDEC JESD 214.01:2017
Constant-Temperature Aging Method to Characterize Copper Interconnect Metallization for Stress-Induced Voiding
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
JEDEC JESD 30H:2017
Descriptive Designation System for Electronic-device Packages
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus127,60 € -
JEDEC JESD 37A:2017
LOGNORMAL ANALYSIS OF UNCENSORED DATA AND OF SINGLY RIGHT-CENSORED DATA UTILIZING THE PERSSON AND ROOTZEN METHOD
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,60 € -
JEDEC JESD30H:2017
Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus118,90 € -
JEDEC JESD37A:2017
Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
JEDEC JESD214.01:2017
CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
55,35 €
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61,60 €
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55,35 €
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335,50 €
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312,63 €
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57,40 €
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258,50 €
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312,40 €
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291,10 €
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JEDEC JS-001-2017
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Human Body Modal (HBM) - Component Level
12/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus93,28 € -
75,85 €
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JEDEC JESD 9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus155,10 € -
JEDEC JESD9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus144,53 € -
57,40 €
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JEDEC JESD213A:2017
STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,50 € -
JEDEC JESD 210A:2017
Avalanche Breakdown Diode (ABD) Transient Voltage Suppressors
01/03/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus88,00 € -
JEDEC JESD210A:2017
AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
01/03/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus82,00 € -
335,50 €
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JEDEC JESD79-4-1:2017
Addendum No. 1 to JESD79-4, 3D Stacked DRAM Standard
01/02/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus108,65 € -
JEDEC JESD209-4-1:2017
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/01/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus82,00 € -
JEDEC JESD 8-29:2016
0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus59,40 € -
JEDEC JESD8-29:2016
0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JEP 130B:2016
Guidelines for Packing and Labeling of Integrated Circuits in Unit Container Packing (Tubes, Trays, and Tape and Reel)
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus59,40 € -
JEDEC JESD 31E:2016
General Requirements for Authorized Distributors of Commercial and Military Semiconductor Devices
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,40 € -
JEDEC JESD 225:2016
Universal Flash Storage (UFS) Security Extension
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus85,80 € -
JEDEC JESD 227:2016
Embedded Multimediacard (eMMC) Security Extension
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,70 € -
EIA JESD 22-A113H:2016
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus54,28 € -
JEDEC JESD 22-B111A:2016
Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,70 € -
JEDEC JESD 22-B106E:2016
Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices
01/11/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus59,40 € -
210,10 €
-
JEDEC JESD227:2016
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JESD31E:2016
GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus75,85 € -
79,95 €
-
52,28 €
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JEDEC JESD22-B111A:2016
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,68 € -
JEDEC JEP130B:2016
GUIDELINES FOR PACKING AND LABELING OF INTEGRATED CIRCUITS IN UNIT CONTAINER PACKING (TUBES, TRAYS, AND TAPE AND REEL)
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JESD22-B106E:2016
RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
100,10 €
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JEDEC JESD 217.01:2016
Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
01/10/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus95,70 € -
JEDEC JESD217.01:2016
TEST METHODS TO CHARACTERIZE VOIDING IN PRE-SMT BALL GRID ARRAY PACKAGES
01/10/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus89,18 € -
JEDEC JEP122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus167,08 € -
JEDEC JEP 122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus179,30 € -
JEDEC JEP 174:2016
Understanding Electrical Overstress - EOS
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus228,80 € -
61,60 €
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57,40 €
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213,20 €
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JEDEC JESD 232A:2016
GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5X) SGRAM STANDARD
01/08/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus228,80 € -
JEDEC JESD 82-31:2016
DDR4 Registering Clock Driver - DDR4RCD01
01/08/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus210,10 € -
195,78 €
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213,20 €
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73,70 €
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JEDEC J-STD-046:2016
Customer Notification Standard for Product/Process Changes by Electronic Product Suppliers
01/07/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus59,40 € -
68,68 €
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JEDEC JESD 218B.01:2016
Solid-State Drive (SSD) Requirements and Endurance Test Method
01/06/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,60 € -
73,70 €
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66,00 €
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JEDEC JESD218B.01:2016
SOLID STATE DRIVE (SSD) REQUIREMENTS AND ENDURANCE TEST METHOD
01/06/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,90 € -
68,68 €
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75,85 €
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81,40 €
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JEDEC J-STD-609B:2016
MARKING, SYMBOLS, AND LABELS OF LEADED AND LEAD-FREE TERMINAL FINISHED MATERIALS USED IN ELECTRONIC ASSEMBLY
01/04/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JESD 243:2016
Counterfeit Electronic Parts: Non-Proliferation for Manufacturers
01/03/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,60 € -
JEDEC JESD 220-1A:2016
Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extension Version 1.1
01/03/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus100,10 € -
JEDEC JESD 223-1A:2016
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension Version 1.1
01/03/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
JEDEC JESD220-1A:2016
Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extention
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus93,28 € -
JEDEC JESD223-1A:2016
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI), Unified Memory Extension
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
JEDEC JESD243:2016
COUNTERFEIT ELECTRONIC PARTS: NON-PROLIFERATION FOR MANUFACTURERS
01/03/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus57,40 € -
JEDEC JESD 212C:2016
GRAPHICS DOUBLE DATA RATE (GDDR5) SGRAM STANDARD
01/02/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus228,80 € -
213,20 €
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JEDEC JESD 241:2015
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
01/12/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,40 € -
JEDEC JEP151:2015
, Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/12/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus63,55 € -
JEDEC JESD241:2015
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities
01/12/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus75,85 € -
JEDEC JESD94B:2015
APPLICATION SPECIFIC QUALIFICATION USING KNOWLEDGE BASED TEST METHODOLOGY
01/10/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus82,00 € -
54,33 €
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57,40 €
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54,33 €
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52,28 €
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JEDEC JEP 163:2015
Selection of Burn-In/Life Test Conditions and Critical Parameters for QML Microcircuits
01/09/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,20 € -
EIA JEP 151:2015
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/09/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,80 € -
JEDEC JEP163:2015
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/09/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus73,80 € -
228,80 €
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214,23 €
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54,33 €
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54,33 €
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JEDEC JESD22-A102E:2015
ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVE
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus54,33 € -
JEDEC JESD22-A110E:2015
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JEP 159A:2015
Procedure for the Evaluation of Low-k/Metal Inter/Intra-Level Dielectric Integrity
01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,40 € -
JEDEC JESD 22-A101D:2015
Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test
01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus54,33 € -
JEDEC JESD 22-A110E:2015
Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)
01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,35 € -
JEDEC JEP 172A:2015
Discontinuing Use of the Machine Model for Device ESD Qualification
01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus68,20 € -
JEDEC JESD 22-A102E:2015
Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave
01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus54,33 € -
JEDEC JEP172A:2015
DISCONTINUING USE OF THE MACHINE MODEL FOR DEVICE ESD QUALIFICATION
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP159A:2015
PROCEDURE FOR THE EVQLUQTION OF LOW-k/METAL INTER/INTRA-LEVEL DIELECTRIC INTEGRITY
01/07/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-110:2015
JOINT ATIS/TIA NATIVE SMS/MMS TEXT TO 9-1-1 REQUIREMENTS AND ARCHITECTURE SPECIFICATION RELEASE 2
01/05/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP 106AP:2015
Standard Manufacturer's Identification Code
01/02/2015 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC JESD84-B51:2015
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
01/02/2015 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP 166A:2014
JC-42.6 Manufacturer Identification (ID) Code for Low Power Memories
01/12/2014 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-020E:2014
Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic Surface Mount Devices
01/12/2014 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
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JEDEC J-STD-020E:2014
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR MOISTURE/REFLOW SENSITIVITY CLASSIFICATION FOR NONHERMETIC SOLID STATE SURFACE-MOUNT DEVICES
01/12/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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JEDEC JEP166A:2014
JC-42.6 MANUFACTURER IDENTIFICATION (ID) CODE FOR LOW POWER MEMORIES
01/12/2014 - PDF - Anglais - JEDEC
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EIA J-STD-048:2014
Notification Standard for Product Discontinuance
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JEDEC JESD 82-30:2014
LRDIMM DDR3 Memory Buffer (MB) Version 1.0
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