JEDEC
-
JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
05/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus233,00 € -
JEDEC /ESDA JS-002-2022:2023
For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level
05/01/2023 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
829,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC /ESDA JTR002-01-22:2023
Charged Device Model Testing of Integrated Circuits
01/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus286,00 € -
JEDEC /ESDA JTR002-01-22:2023
Charged Device Model Testing of Integrated Circuits
01/01/2023 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
411,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
01/01/2023 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JEP183A:2023
Guidelines for Measuring the Threshold Voltage (VT) of SiC MOSFETs
01/01/2023 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
637,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD254:2022
Secure Serial Flash Bus Transactions Version 1.0
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
0,00 €
-
JEDEC JESD47L:2022
Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus136,00 € -
JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus120,00 € -
JEDEC JEP163:2022
SELECTION OF BURN-IN/LIFE TEST CONDITIONS AND CRITICAL PARAMETERS FOR QML MICROCIRCUITS
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus100,00 € -
JEDEC J-STD-035A:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR ACOUSTIC MICROSCOPY FOR NONHERMETRIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus125,00 € -
JEDEC J-STD-020F:2022
JOINT IPC/JEDEC STANDARD FOR Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Non-hermetic Surface Mount Devices (SMDs)
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
170,00 €
-
0,00 €
-
502,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus493,00 € -
JEDEC JEP193:2022
Survey On Latch-Up Testing Practices and Recommendations for Improvements
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JEP192:2022
Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JEP192:2022
Guidelines for Gate Charge (QG) Test Method for SiC MOSFET
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JESD312:2022
Automotive Solid State Drive (SSD) Device Standard
01/12/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus94,00 € -
JEDEC JESD312:2022
Automotive Solid State Drive (SSD) Device Standard
01/12/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
86,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD217A:2022
Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
01/11/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus192,00 € -
JEDEC JESD217A:2022
Test Methods to Characterize Voiding in Pre-SMT Ball Grid Array Packages
01/11/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
66,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
01/11/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus170,00 € -
JEDEC JESD51-51A:2022
Implementation of the Electrical Test Method for the Measurement of Real Thermal Resistance and Impedance of Light-emitting Diodes with Exposed Cooling Surface
01/11/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JESD625C:2022
REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus131,00 € -
JEDEC JESD625C:2022
REQUIREMENTS FOR HANDLING ELECTROSTATIC-DISCHARGE-SENSITIVE (ESDS) DEVICES
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus264,00 € -
JEDEC JEP164:2022
System Level ESD Part III: Review of ESD Testing and Impact on System-Efficient ESD Design (SEED)
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JESD301-1A.01:2022
PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus331,00 € -
JEDEC JESD301-1A.01:2022
PMIC50x0 POWER MANAGEMENT IC SPECIFICATION, Rev. 1.83
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JESD301-2:2022
PMIC5100 POWER MANAGEMENT IC STANDARD, Rev 1.03
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus331,00 € -
0,00 €
-
203,00 €
-
0,00 €
-
455,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus82,00 € -
JEDEC JESD51-52A:2022
GUIDELINES FOR COMBINING CIE 127:2007 / 225:2017 TOTAL FLUX MEASUREMENTS WITH THERMAL MEASUREMENTS OF LEDS WITH EXPOSED COOLING SURFACE
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
192,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
01/10/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus61,00 € -
JEDEC JESD51-50A:2022
Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emotting Diodes (LEDs)
01/10/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
JEDEC JESD212C.01:2022
Graphics Double Data Rate (GDDR5) SGRAM Standard
01/09/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus521,00 € -
0,00 €
-
100,00 €
-
0,00 €
-
395,00 €
-
94,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
01/06/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus124,00 € -
JEDEC JESD308:2022
DDR5 Unbuffered Dual Inline Memory Module (UDIMM) Common Standard
01/06/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
94,00 €
-
0,00 €
-
94,00 €
-
0,00 €
-
89,00 €
-
0,00 €
-
60,00 €
-
88,00 €
-
124,00 €
-
309,00 €
-
387,00 €
-
223,00 €
-
122,00 €
-
167,00 €
-
79,00 €
-
100,00 €
-
139,00 €
-
72,00 €
-
JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus92,00 € -
JEDEC JESD91B:2022
Method for Developing Acceleration Models for Electronic Device Failure Mechanisms
01/03/2022 - Papier et pdf - Anglais - JEDEC
En savoir plus129,00 € -
JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus94,00 € -
JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - Papier et pdf - Anglais - JEDEC
En savoir plus133,00 € -
JEDEC JESD402-1A:2022
Temperature Range and Measurement Standards for Components and Module
01/03/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/01/2022 - Papier - Anglais - JEDEC
En savoir plus94,00 € -
JEDEC JEP151A:2022
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices
01/01/2022 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus0,00 € -
391,00 €
-
0,00 €
-
JEDEC JESD22-B118A:2021
SEMICONDUCTOR WAFER AND DIE BACKSIDE EXTERNAL VISUAL INSPECTION
01/11/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
58,24 €
-
JEDEC JESD85A:2021
METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus74,00 € -
55,12 €
-
58,24 €
-
JEDEC JESD89-2B:2021
Test Method for Alpha Source Accelerated Soft Error Rate
01/07/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,24 € -
350,00 €
-
JEDEC JESD22-A110E.01:2021
HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST)
01/05/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus62,00 € -
55,12 €
-
JEDEC JESD260:2021
Replay Protected Monotonic Counter (RPMC) For Serial Flash Devices
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
57,00 €
-
JEDEC JEP178:2021
Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Reporting ESD Withstand Levels on Datasheets
01/04/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
JEDEC JESD253:2021
Enclosure Form Factor For SSD Devices, Version 1.0
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD250C:2021
Graphics Double Data Rate 6 (GDDR6) 5GRAM Standard
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus244,00 € -
113,00 €
-
264,00 €
-
JEDEC JESD209-4-1A:2021
Addendum No. 1 to JESD209-4 - Low Power Double Data Rate 4 (LPDDR4)
01/02/2021 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus113,00 € -
55,12 €
-
64,00 €
-
63,00 €
-
JEDEC JESD22-A100E:2020
Cycled Temperature Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus55,00 € -
JEDEC JEP167A:2020
Characterization of Interfacial Adhesion in Semiconductor Packages
01/11/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
204,00 €
-
JEDEC JESD22-A113I:2020
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing
01/04/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,00 € -
JEDEC JESD251A:2020
Expanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus124,00 € -
JEDEC JESD300-5:2020
SPD5118, SPD5108 Hub and Serial Presence Detect Device Standard
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus204,00 € -
JEDEC JEP180:2020
Guideline for Switching Reliability Evaluation Procedures for Gallium Nitride Power Conversion Devices
01/02/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,00 € -
54,33 €
-
57,00 €
-
57,00 €
-
395,00 €
-
60,00 €
-
JEDEC JESD220-3:2020
Universal Flash Storage (UFS) Host Performance Booster (HPB) Extension
01/01/2020 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,00 € -
JEDEC JEP162A:2019
System Level ESD Part II: Implementation of Effective ESD Robust Designs
01/09/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus204,00 € -
244,00 €
-
58,00 €
-
72,00 €
-
72,00 €
-
64,00 €
-
204,00 €
-
ESDA/JEDEC JS-002:2018
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus186,76 € -
EIA JESD 84-B51:2019
Embedded Multi-Media Card (e MMC) Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus300,84 € -
JEDEC JESD84-B51A:2019
Embedded Multi-media card (e*MMC), Electrical Standard (5.1)
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus335,18 € -
JEDEC JEP143D:2019
SOLID STATE RELIABILITY ASSESSMENT QUALIFICATION METHODOLOGIES
01/01/2019 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,00 € -
77,00 €
-
JEDEC JESD22-A117E:2018
ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLE ROM (EEPROM) PROGRAM/ERASE ENDURANCE AND DATA RETENTION TEST
01/11/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
57,00 €
-
JEDEC JESD251-1:2018
Addendum No. 1 to JESD251, Optional x4 Quad I/O With Data Strobe
01/10/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JEP001-3A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - PRODUCT LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
JEDEC JEP001-2A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - FRONT END TRANSISTOR LEVEL (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,00 € -
JEDEC JEP001-1A:2018
FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES - BACKEND OF LINE (Wafer Fabrication Manufacturing Sites)
01/09/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JESD22-B113B:2018
BOARD LEVEL CYCLIC BEND TEST METHOD FOR INTERCONNECT RELIABILITY CHARACTERIZATION OF SMT ICS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JEP131C:2018
Potential Failure Mode and Effects Analysis (FMEA)
01/08/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
JEDEC JEP155B:2018
RECOMMENDED ESD TARGET LEVELS FOR HBM QUALIFICATION
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus97,00 € -
JEDEC JESD671C:2018
Component Quality Problem Analysis and Corrective Action Requirements (Including Administrative Quality Problems)
01/07/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC J-STD-033D:2018
Handling, Packing, Shipping, and Use of Moisture/Reflow Sensitive Surface-Mount Devices
01/04/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus95,00 € -
JEDEC JESD22-A111B:2018
EVALUATION PROCEDURE FOR DETERMINING CAPABILITY TO BOTTOM SIDE BOARD ATTACH BY FULL BODY SOLDER IMMERSION OF SMALL SURFACE MOUNT SOLID STATE DEVICES
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus66,00 € -
JEDEC JESD72A:2018
TEST METHODS AND ACCEPTANCE PROCEDURES FOR THE EVALUATION OF POLYMERIC MATERIALS
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,00 € -
JEDEC JEP156A:2018
CHIP-PACKAGE INTERACTION UNDERSTANDING, IDENTIFICATION AND EVALUATION
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JS709C:2018
Joint JEDEC/ECA Standard: Definition of "Low-Halogen" for Electronic Products
01/03/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
86,00 €
-
51,00 €
-
66,00 €
-
JEDEC JESD88F:2018
JEDEC Dictionary of Terms for Solid-State Technology, 7th Edition
01/02/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus173,00 € -
JEDEC JESD 251:2018
EXpanded Serial Peripheral Interface (xSPI) for Non Volatile Memory Devices
08/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus127,60 € -
JEDEC JESD 220D:2018
Universal Flash Storage (UFS) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus390,50 € -
JEDEC JESD 223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI) Version 3.0
01/01/2018 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus155,10 € -
66,00 €
-
66,00 €
-
JEDEC JESD50C:2018
SPECIAL REQUIREMENTS FOR MAVERICK PRODUCT ELIMINATION AND OUTLIER MANAGEMENT
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD223D:2018
Universal Flash Storage Host Controller Interface (UFSHCI)
01/01/2018 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus151,00 € -
335,50 €
-
JEDEC JESD69C:2017
INFORMATION REQUIREMENTS FOR THE QUALIFICATION OF SILICON DEVICES
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
JEDEC JESD16B:2017
ASSESSMENT OF AVERAGE OUTGOING QUALITY LEVELS IN PARTS PER MILLION (PPM)
01/11/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus83,00 € -
210,10 €
-
JEDEC JESD 30H:2017
Descriptive Designation System for Electronic-device Packages
01/08/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus127,60 € -
JEDEC JESD30H:2017
Descriptive Designation System for Semiconductor-device Packages
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus133,00 € -
JEDEC JESD37A:2017
Lognormal Analysis of Uncensored Data, and of Singly Right-Censored Data Utilizing the Persson and Rootzen Method
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus81,00 € -
JEDEC JESD214.01:2017
CONSTANT-TEMPERATURE AGING METHOD TO CHARACTERIZE COPPER INTERCONNECT METALLIZATIONS FOR STRESS-INDUCED VOIDING
01/08/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus77,00 € -
335,50 €
-
326,00 €
-
60,00 €
-
258,50 €
-
312,40 €
-
304,00 €
-
JEDEC JS-001-2017
ESDA/JEDEC Joint Standard for Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Human Body Modal (HBM) - Component Level
12/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus97,00 € -
79,00 €
-
JEDEC JESD 9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus155,10 € -
JEDEC JESD9C:2017
Inspection Criteria for Microelectronic Packages and Covers
01/05/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus151,00 € -
60,00 €
-
JEDEC JESD213A:2017
STANDARD TEST METHOD UTILIZING X-RAY FLUORESCENCE (XRF) FOR ANALYZING COMPONENT FINISHES AND SOLDER ALLOYS TO DETERMINE TIN (Sn) - LEAD (Pb) CONTENT
01/04/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus64,00 € -
JEDEC JESD210A:2017
AVALANCHE BREAKDOWN DIODE (ABD) TRANSIENT VOLTAGE SUPPRESSORS
01/03/2017 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus86,00 € -
335,50 €
-
JEDEC JESD8-29:2016
0.6 V Low Voltage Swing Terminated Logic (LVSTL06)
01/12/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
210,10 €
-
JEDEC JESD227:2016
EMBEDDED MULTIMEDIACARD (e-MMC) SECURITY EXTENSION
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JESD31E:2016
GENERAL REQUIREMENTS FOR DISTRIBUTORS OF COMMERCIAL AND MILITARY SEMICONDUCTOR DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus79,00 € -
83,00 €
-
JEDEC JESD22-B111A:2016
BOARD LEVEL DROP TEST METHOD OF COMPONENTS FOR HANDHELD ELECTRONIC PRODUCTS
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus72,00 € -
JEDEC JEP130B:2016
GUIDELINES FOR PACKING AND LABELING OF INTEGRATED CIRCUITS IN UNIT CONTAINER PACKING (TUBES, TRAYS, AND TAPE AND REEL)
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
JEDEC JESD22-B106E:2016
RESISTANCE TO SOLDER SHOCK FOR THROUGH-HOLE MOUNTED DEVICES
01/11/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus58,00 € -
JEDEC JEP122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF - Anglais - JEDEC
En savoir plus174,00 € -
JEDEC JEP 122H:2016
Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus179,30 € -
JEDEC JEP 174:2016
Understanding Electrical Overstress - EOS
01/09/2016 - PDF sécurisé - Anglais - JEDEC
En savoir plus228,80 € -
60,00 €
-
223,00 €
