| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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Papier |
Français |
obsolescent et remplacé |
01/06/2017 |
153,67 € |
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Papier |
Français |
Active |
01/04/2022 |
141,33 € |
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Détails
Le présent document établit la procédure d'essai, d'évaluation et de classification des dispositifs et des microcircuits selon leur susceptibilité (sensibilité) au dommage ou leur dégradation par suite de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle défini de dispositif chargé (CDM) induit par champ.
Informations supplémentaires
| Auteur | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
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| Edité par | AFNOR |
| Type de document | Norme |
| ICS | 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
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| Nombre de pages | 53 |
| Remplace | NF EN 60749-28, C96-022-28 (06/2017)
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| Poids (kg.) | 0.19 |
| Mot-clé | NF EN IEC 60749-28 |
