| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais |
Active |
01/03/2022 |
64,00 € |
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Détails
The method described in this document applies to all reliability mechanisms associated with electronic devices.
The purpose of this standard is to provide a reference for developing acceleration models for defect-related and wear-out mechanisms in electronic devices.
Informations supplémentaires
| Auteur | JEDEC Solid State Technology Association |
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| Edité par | JEDEC |
| Type de document | Norme |
| Thème | /subgroups/36080 |
| ICS | 31.020 : Composants électroniques en général
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| Nombre de pages | 20 |
| Remplace | JEDEC JESD91-A:2003 (R2016) |
| Mot-clé | JEDEC JESD91B |
