Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais |
Active |
08/02/2022 |
219,00 € |
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Détails
IEC TS 62607-6-11:2022(EN) establishes a standardized method to determine the key control characteristic
• defect density nD
of graphene films grown by chemical vapour deposition as well as exfoliated graphene flakes by
• Raman spectroscopy
Informations supplémentaires
Auteur | International Electrotechnical Commission (IEC) |
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Comité | TC 113 |
Edité par | IEC |
Type de document | Norme |
Edition révision n° | 1 |
ICS | 07.120 : Nanotechnologie
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Nombre de pages | 27 |
Mot-clé | IEC62607-6-11,IEC TS 62607-6-11:2022,IEC/TS 62607-6-11,TC 113 |